TPCS8210
东芝场效应晶体管
硅N沟道MOS型( U- MOSIII )
TPCS8210
锂离子电池应用
占地面积小,因小而薄的封装
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 19毫欧(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 9.2 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 10
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 20 V)
增强型: V
th
= 0.5~1.2 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 200
μA)
公共漏
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
脉冲
(注1 )
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D (1)
P
D (2)
P
D (1)
P
D (2)
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
20
20
±12
5
20
1.1
W
0.75
单位
V
V
V
A
JEDEC
JEITA
东芝
―
―
2-3R1E
单设备
耗电
操作(注3A )
耗散
单设备价值
(t
=
10 s)
(注2A )的双重操作
(注3B )
单设备
耗电
操作(注3A )
耗散
单设备价值
(t
=
10 s)
(注2B )的双重操作
(注3B )
单脉冲雪崩能量
(注4 )
雪崩电流
重复性雪崩能量
在双操作单个设备的价值
(注意图2a ,图3b ,5)
通道温度
存储温度范围
重量: 0.035克(典型值)。
0.6
W
0.35
电路CON组fi guration
8
7
6
5
32.5
5
0.075
150
55~150
mJ
A
mJ
°C
°C
1
2
3
4
注: (注1 ) (注2 ) (注3 ) (注4 )和(注5 ) :参见下页。
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
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2007-01-16