TPCA8102
东芝场效应晶体管的硅P沟道MOS型( U- MOSⅢ )
TPCA8102
0.5±0.1
锂离子电池应用
笔记本电脑应用
便携式设备的应用
6.0±0.3
单位:mm
1.27
8
0.4±0.1
5
0.05 M A
占地面积小,因小而薄的封装
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 4.5mΩ (典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 60S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
10
μA (最大值) (V
DS
=
30
V)
增强型: V
th
=
0.8
to
2.0
V (V
DS
=
10
V,I
D
=
1
毫安)
5.0±0.2
0.15±0.05
1
0.95±0.05
4
0.595
A
5.0±0.2
S
1
4
4.25±0.2
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
P
D
E
AS
I
AR
30
30
±20
40
120
45
2.8
V
V
V
A
W
W
8
1,2,3:SOURCE
4:GATE
5,6,7,8:DRAIN
5 0.8±0.1
脉冲(注1 )
(Tc=25℃)
(t
=
10 s)
(注2A )
(t
=
10 s)
(注2B )
JEDEC
JEITA
东芝
―
―
2-5Q1A
漏极功耗
漏极功耗
漏极功耗
重量: 0.076克(典型值)。
1.6
W
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复性雪崩能量
( TC = 25 ℃ ) (注4 )
通道温度
存储温度范围
208
40
4.5
150
55
150
mJ
A
mJ
°C
°C
电路CON组fi guration
8
7
6
5
E
AR
T
ch
T
英镑
注:对于(注1 ) (注2 ) (注3 ) (注4 ) ,请参考下
页。
此晶体管是静电敏感器件。请处理好与
慎用。
1
2
3
3.5±0.2
特征
符号
等级
单位
0.6±0.1
1.1±0.2
最大额定值
(大
=
25°C)
0.05 S
0.166±0.05
4
1
2003-08-29
TPCA8102
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
(Tc=25
℃
)
耐热性,信道至环境
(t
=
10 s)
(注2A )
符号
R
TH( CH-C )
最大
2.78
单位
° C / W
R
第(章-a)的
44.6
° C / W
耐热性,信道至环境
(t
=
10 s)
(注2B )
R
第(章-a)的
78.1
° C / W
记号
(注5 )
TPCA
8102
※
TYPE
LOT号
注1 :请在使用条件下的设备,该通道的温度低于150 ℃。
注2 :(1)安装在玻璃环氧基板的装置(一)
(二)装置安装在一个玻璃环氧板(二)
FR-4
25.4
×
25.4
×
0.8
(单位:毫米)
FR-4
25.4
×
25.4
×
0.8
(单位:毫米)
(a)
(b)
注3 : V
DD
=
24 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
100μH,R
G
=
25
,I
AR
=
40 A
注4 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
注5 :
○
在标记的左下角显示引脚1 。
※
每周的代码:
(三位数)
制造周
( 01年第一周,持续到52或53 )
制造年份
(一低位日历年的数字)
2
2003-08-29
TPCA8102
限制产品使用
此处所包含的信息如有更改,恕不另行通知。
030619EAA
此处包含的信息仅显示为对我们产品的应用指南。没有
承担因东芝专利或其它第三方权利的任何侵犯其
可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或其他方式的任何专利或专利权
东芝或其它。
东芝正在不断努力提高其产品的质量和可靠性。不过,半导体
在一般的设备可能发生故障或失效,由于其固有的电灵敏度和容易受到物理
压力。它是利用东芝产品时,买方的责任,以符合标准
安全性在制造安全的设计对整个系统,并避免出现在其中一个发生故障或失效
如东芝的产品可能会造成人的生命,人身伤害或财产损失财产。
在开发设计时,请确保东芝产品在规定的工作范围内所用
阐述在最近东芝产品规格。另外,请记住注意事项,
设置条件提出了在“操作指南半导体器件”或“东芝半导体可靠性
手册“等。
本文档中列出的东芝产品用于使用一般的电子应用
(计算机,个人设备,办公设备,测量设备,工业机器人,家用电器,
等)。这些东芝的产品既不打算也不在设备需要保证的用法
非常高的品质和/或可靠性或故障或故障可能导致人的生命损失或
人身伤害( “意外用法” ) 。意想不到的用途包括原子能控制仪器仪表,飞机或
太空船仪器,运输仪器,交通信号仪器仪表,燃烧控制仪表,
医疗器械,各种安全装置等。东芝产品的非预期使用本上市
文件应在客户自己的风险进行。
东芝产品不应被嵌入到禁止要生产的下游产品
现卖,根据任何法律和法规。
4
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TPCA8102
东芝场效应晶体管的硅P沟道MOS型( U- MOSⅢ )
TPCA8102
0.5±0.1
锂离子电池应用
笔记本电脑应用
便携式设备的应用
6.0±0.3
单位:mm
1.27
8
0.4±0.1
5
0.05 M A
占地面积小,因小而薄的封装
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 4.5mΩ (典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 60S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
10
μA (最大值) (V
DS
=
30
V)
增强型: V
th
=
0.8
to
2.0
V (V
DS
=
10
V,I
D
=
1
毫安)
5.0±0.2
0.15±0.05
1
0.95±0.05
4
0.595
A
5.0±0.2
S
1
4
0.6±0.1
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
8
4.25±0.2
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
P
D
E
AS
I
AR
等级
30
30
±20
40
120
45
2.8
单位
V
V
V
A
W
W
1,2,3 : SOURCE
4 :门
5,6,7,8 :排水
5 0.8±0.1
JEDEC
JEITA
东芝
2-5Q1A
脉冲(注1 )
重量: 0.076克(典型值)。
漏极功耗( TC = 25 ℃ )
漏极功耗
(t
=
10 s)
(注2A )
漏极功耗
(t
=
10 s)
(注2B )
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复性雪崩能量
( TC = 25 ℃ ) (注4 )
通道温度
存储温度范围
电路CON组fi guration
8
7
6
5
1.6
W
208
40
4.5
150
55
150
mJ
A
mJ
°C
°C
1
2
3
4
E
AR
T
ch
T
英镑
注意:对于注释1至4中,参考下页。
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
此晶体管是静电感应装置。
请谨慎操作。
1
2006-11-16
3.5±0.2
1.1±0.2
0.05 S
0.166±0.05