TICPAL22V10Z -25C , TICPAL22V10Z - 30I
EPIC CMOS可编程阵列逻辑电路
SRPS007C - D3323 , 1989年9月 - 修订1992年2月
描述
该CMOS PLD器件具有可变产品条款,灵活的输出,而且几乎零待机功耗。它
结合了TI的EPIC (增强型加工注入CMOS )工艺用紫外光擦除EPROM
技术。每路输出都有一个输出逻辑宏单元( OLM )配置,允许用户定义
输出类型。该器件提供可靠的,低功耗的替代品众多的高性能可编程逻辑器件的TTL与
门300和800门之间的复杂性。
该TICPAL22V10Z拥有12个专用输入和10个用户自定义输出。各个输出可以是
编程为注册或者组合和反相或同相,如图中的OLM图。这些
10输出通过使用单个产品而言启用
此设备上的变量乘积项分配除去硬性限制到最多八个产品
计算每个输出。这种技术分配8至16个逻辑积计算每个输出的平均时间为
每路输出12乘积项。的乘积项的变量分配允许更为复杂的功能,以
在此设备中实现比以前可用的设备。
与功能,如可编程OLM的和可变的乘积项分布, TICPAL22V10Z
提供快速的设计和定制LSI的功能开发。由于每个10输出引脚可以是
分别配置为在任一个临时或永久地输入,功能需要高达21输入
和单个输出或下降到12个输入和10个输出端可以与该设备中实现。
设计的复杂性,通过加入同步组和异步复位乘积项的增强。
这些功能适用于所有寄存器。当同步组乘积项是逻辑1时,输出
寄存器装入的下一个从低到高的时钟转变为逻辑1 。当异步复位产物
术语是逻辑1时,输出寄存器被加载有逻辑0独立时钟。的输出逻辑电平
设置或复位后,将取决于编程过程中所选择的极性。
这个装置的输出寄存器可以预装在测试期间的任何希望的状态,从而允许全逻辑
验证产品测试过程中。
该TICPAL22V10Z具有内部静电放电( ESD)保护电路和已被归类与
2000 -V ESD额定值下的MIL- STD- 883C ,方法3015.6进行测试。不过,应注意的行使
操作这些设备,如暴露于静电放电可能会导致器件性能参数的劣化。
浮栅编程的细胞使器件可以被完全编程和组装之前进行测试,以
确保高场节目的产量和功能。它们然后通过紫外光包装之前擦除。
该TICPAL22V10Z -25C的特点是操作从0℃至75℃。该TICPAL22V10Z - 30I是
特点是工作在 - 40 ° C至85°C 。
设计安全性
在“ PAL22V10Z含有一个可编程的设计安全性的细胞。编程这个单元将禁用读
验证和编程电路保护设计不被复制。保安单元通常是
程序设计完成并投入生产后。有担保的设备将验证好像每
在该装置的位置进行编程。由于编程是通过存储一个无形的充电完成
而不是打开的金属连杆,所述' 22V10Z无法通过目测复制。一旦安全设备
完全擦除,它可以被重新编程,以任何需要的配置。
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