STS4DPFS2LS
P沟道20V - 0.06Ω - 4A SO- 8
的STripFET MOSFET PLUS肖特基整流器
主要产品特性
MOSFET
V
DSS
20 V
肖特基
I
F( AV )
3A
R
DS ( ON)
< 0.07
V
RRM
40 V
I
D
4A
V
F( MAX)的
0.44 V
SO-8
描述
该产品相关联的最新的低电压
StripFET在p沟道版本到一个低压降
肖特基二极管。这样的配置是非常ver-
satile实施,种类繁多的DC-DC
转换为打印机,便携式设备和CEL-
细胞性手机。
内部原理图
MOSFET绝对最大额定值
符号
V
DS
V
DGR
V
GS
I
D
I
D
I
DM
(
q
)
P
合计
E
AS
(1)
参数
漏源电压(V
GS
= 0)
漏,栅极电压(R
GS
= 20 k)
栅 - 源电压
漏电流(连续的)在T
C
= 25°C
漏电流(连续的)在T
C
= 100°C
漏电流(脉冲)
总功耗在T
C
= 25°C
单脉冲雪崩能量
价值
20
20
± 20
4
3.4
16
2
20
单位
V
V
V
A
A
A
W
mJ
肖特基绝对最大额定值
符号
V
RRM
I
F( RMS )
I
F( AV )
I
FSM
I
RRM
dv / dt的
参数
反向重复峰值电压
RMS正向电流
平均正向电流
浪涌不重复正向电流
反向重复峰值电流
关键的增长速度反向电压
TL = 120C
δ
= 0.5
TP = 10毫秒
正弦
TP = 2
s
F = 1千赫
价值
40
10
3
75
1
10000
单位
V
A
A
A
A
V / μs的
( )脉冲宽度有限的安全工作区
( 1 )起始物为
j
= 25 ° C,I
D
= 2.5 A,V
DD
= 20 V
注:对于电压的P沟道MOSFET的实际极性
和电流具有被逆转
2001年2月
1/8
STS4DPFS2LS
电气特性
(续)
接通
符号
t
D(上)
t
r
Q
g
Q
gs
Q
gd
参数
导通延迟时间
上升时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
测试条件
V
DD
= 15V ,我
D
= 3A
G
= 4.7
V
GS
= 10V
(见测试电路,图3 )
V
DD
= 24V ,我
D
= 6A,
V
GS
= 4.5 V
分钟。
典型值。
25
35
12.5
5
3
16
马克斯。
单位
ns
ns
nC
nC
nC
关闭
符号
t
D(关闭)
t
f
t
R( Voff时)
t
f
t
c
参数
打开-O FF延迟时间
下降时间
关闭电压上升时间
下降时间
交叉时间
测试条件
V
DD
= 15 V,I
D
= 2A,
R
G
= 4.7, V
GS
= 4.5 V
(见测试电路,图3 )
V
钳
= 24 V,I
D
= 6 A,
R
G
= 4.7, V
GS
= 4.5 V
(见测试电路,图5 )
分钟。
典型值。
125
30
83
40
75
马克斯。
单位
ns
ns
ns
ns
ns
源漏二极管
符号
I
SD
I
SDM
(2)
V
SD
(1)
t
rr
Q
rr
I
RRM
参数
源极 - 漏极电流
源极 - 漏极电流(脉冲)
正向电压上
反向恢复时间
反向恢复电荷
反向恢复电流
I
SD
= 4 A,V
GS
= 0
I
SD
= 4 A的di / dt = 100A / μs的,
V
DD
= 15 V ,T
j
= 150°C
(见测试电路,图5 )
45
36
1.6
测试条件
分钟。
典型值。
马克斯。
4
16
1.2
单位
A
A
V
ns
nC
A
注: 1。脉冲:脉冲宽度= 300微秒,占空比为1.5% 。
2.脉冲宽度有限的安全工作区。
SCHOTTCKY静态ELETTRICAL特性
符号
I
R
(*)
V
F
(*)
参数
相反的漏电流
正向电压降
测试条件
T
J
= 25 ° C,V
R
= 30 V
T
J
= 125°C ,V
R
= 30 V
T
J
=
T
J
=
T
J
=
T
J
=
T
J
=
T
J
=
25℃下,我
F
= 1 A
125 ° C,I
F
= 1 A
25℃下,我
F
= 2 A
125 ° C,I
F
= 2 A
25℃下,我
F
= 3 A
125 ° C,I
F
= 3 A
分钟。
典型值。
14
8
0.37
0.28
0.41
0.34
0.4
马克斯。
50
18
0.42
0.32
0.46
0.39
0.5
0.44
单位
A
mA
V
V
V
V
V
V
3/8