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SSM3K15CT

东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型

SSM3K15CT

高速开关应用

模拟开关应用

最适用于小型封装的高密度安装

: R

= 4.0

（最大值）（ @V

= 4 V)

1.0±0.05

0.25±0.03

0.6±0.05

0.5±0.03

单位：mm

低导通电阻

: R

= 7.0

（最大值）（ @V

= 2.5 V)

３

0.65±0.02

１

0.25±0.03

２

0.35±0.02

0.15±0.03

绝对最大额定值

（大

25°C)

特征

漏源电压

栅源电压

漏电流

脉冲

符号

GSS

（注1 ）

英镑

等级

±20

100

200

100

150

55~150

单位

°C

0.05±0.03

漏极功耗（大

25°C)

通道温度

储存温度

CST3

JEDEC

重负载下连续使用（例如应用

JEITA

高温/电流/电压和在显著变化

东芝

2-1J1B

温度等）可能会导致此产品在减少

可靠性显著即使工作条件下（即

重量： 0.75毫克（典型值）。

工作温度/电流/电压等）内的

绝对最大额定值。

请在审查东芝半导体可靠性手册设计适当的可靠性

（ “注意事项” / “降额的概念和方法” ）和个人数据的可靠性（即可靠性试验

报告与估计的故障率，等）。

注1 ：安装在FR4板

(10 mm

10 mm

1.0吨，铜垫： 100毫米）

注意：

标识（ TOP VIEW ）

极性标志

端子状态（顶视图）

极性标记（在顶部）

等效电路

1.门

2.源

3.排水

电极：在底部

操作注意事项

当处理尚未安装在电路板上的单个设备，确保环境得到保护

防止静电放电。操作人员应穿防静电服装和容器以及随之而来的其他对象

与设备直接接触，应采用防静电材料。

2007-11-01

0.38 +0.02

-0.03

0.05±0.03

SSM3K15CT

电气特性

（大

25°C)

特征

栅极漏电流

漏源击穿电压

排水截止电流

栅极阈值电压

正向转移导纳

漏源导通电阻

输入电容

反向传输电容

输出电容

开关时间

开启时间

打开-O FF时间

符号

GSS

（ BR ） DSS

DSS

DS （ ON）

国际空间站

RSS

OSS

关闭

测试条件

= ±16

V, V

0.1毫安，V

30 V, V

3 V，I

0.1毫安

3 V，I

10毫安

10毫安，V

4 V

10毫安，V

2.5 V

3 V, V

0, f

1兆赫

3 V, V

0, f

1兆赫

3 V, V

0, f

1兆赫

5 V，I

10毫安，

0~5 V

民

0.8

典型值。

2.2

4.0

7.8

3.6

8.8

180

最大

±1

1.5

4.0

7.0

单位

μA

开关时间测试电路

（ a）测试电路

μs

5 V

D.U.

＆ LT ;

输入：吨

, t

＆ LT ;

5纳秒

OUT

Ω)

常见的来源

25°C

产量

输入

10%

（二）V

90%

（三）V

OUT

10%

90%

关闭

DS （ ON）

注意事项

可表示为栅极和源极之间的电压时，低工作电流值是我

D =

100

μA

为

此产品。对于正常的开关操作，V

GS （上）

需要较高的电压比V

和V

GS （关闭）

需要较低的

电压比V

钍。

（该关系，可以建立如下：V

GS （关闭）

＆ LT ; V

GS （上）

使用设备时考虑到这一点。

2007-11-01

SSM3K15CT

– V

250

常见的来源

200

25°C

100

1000

常见的来源

VDS

3 V

– V

漏电流I

（MA ）

漏电流I

（MA ）

2.7

150

2.5

100

2.3

VGS

2.1 V

0.5

1.5

100°C

25°C

0.1

0.01

漏源电压V

(V)

栅极 - 源极电压V

(V)

DS （ ON）

– I

常见的来源

25°C

DS （ ON）

– V

常见的来源

10毫安

漏源导通电阻

DS （ ON）

(Ω)

漏源导通电阻

DS （ ON）

(Ω)

100°C

25°C

VGS

2.5 V

120

160

200

漏电流I

（MA ）

栅极 - 源极电压V

(V)

DS （ ON）

- TA

常见的来源

10毫安

1.8

常见的来源

0.1毫安

VDS

3 V

- TA

栅极阈值电压V

(V)

100

125

150

漏源导通电阻

DS （ ON）

(Ω)

1.6

1.4

1.2

0.8

0.6

0.4

0.2

VGS

2.5 V

100

125

150

环境温度Ta （C ）

2007-11-01

SSM3K15CT

– I

1000

常见的来源

500 V

3 V

300的Ta

25°C

250

常见的来源

VGS

0 V

25°C

150

– V

反向漏电流I

（MA ）

正向转移导纳

（女士）

200

100

IDR

100

1000

0.2

0.4

0.6

0.8

1.2

1.4

漏电流I

（MA ）

漏源电压V

(V)

吨 - 我

10000

5000

3000

花花公子

常见的来源

VDD

5 V

VGS

0~5 V

25°C

10000

5000

3000

吨 - 我

常见的来源

VDD

3 V

VGS

0~2.5 V

25°C

花花公子

1000

500

300

吨

100

开关时间t（ NS ）

1000

500

300

100

吨

0.1

开关时间t（ NS ）

100

0.1

100

漏电流I

（MA ）

漏电流I

（MA ）

- V

100

常见的来源

VGS

0 V

1兆赫

25°C

250

- TA

安装在FR4板

(10 mm

10 mm

1.0吨，铜

垫：百毫米

)

漏极功耗P

（ mW）的

100

200

电容C （PF ）

西塞

科斯

CRSS

150

100

0.5

0.3

0.1

100

120

140

160

漏源电压V

(V)

环境温度Ta （C ）

2007-11-01

SSM3K15CT

限制产品使用

此处所包含的信息如有更改，恕不另行通知。

20070701 - EN GENERAL

东芝正在不断努力提高其产品的质量和可靠性。不过，半导体

在一般的设备可能发生故障或失效，由于其固有的电灵敏度和容易受到物理

压力。它是利用东芝产品时，买方的责任，以符合标准

安全性在制造安全的设计对整个系统，并避免出现在其中一个发生故障或失效

如东芝的产品可能会造成人的生命，人身伤害或财产损失财产。

在开发设计时，请确保东芝产品在规定的工作范围内所用

阐述在最近东芝产品规格。另外，请记住注意事项，

设置条件提出了在“操作指南半导体器件”或“东芝半导体可靠性

手册“等。

本文档中列出的东芝产品用于使用一般的电子应用

（计算机，个人设备，办公设备，测量设备，工业机器人，家用电器，

等），这些东芝的产品既不打算也不在设备需要保证的用法

非常高的品质和/或可靠性或故障或故障可能导致人的生命损失或

人身伤害（ “意外用法” ）。意想不到的用途包括原子能控制仪器仪表，飞机或

太空船仪器，运输仪器，交通信号仪器仪表，燃烧控制仪表，

医疗器械，各种安全装置等。东芝产品的非预期使用中列出了他

文件应在客户自己的风险进行。

本文档中所描述的产品，不得使用或嵌入到任何下游产品，其中

制造，使用和/或出售的任何可适用的法律，法规禁止的。

此处包含的信息仅显示为对我们产品的应用指南。没有

承担因东芝专利或其它第三方权利的任何侵犯其

可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或其他任何专利或其他权利

东芝或第三方。

请符合有关本文档中联系您的销售代表产品对产品的细节

兼容性。请本文档中遵守所有适用法律和法规使用这些产品

该规范的受控物质列入或使用。东芝公司不承担损害或损失不承担任何责任

如发生不遵守适用的法律和法规的结果。

2007-11-01