SN54LVT18512 ， SN54LVT182512 ， SN74LVT18512 ， SN74LVT182512
3.3 -V ABT扫描测试设备
内置18位通用总线收发器
SCBS711 - 1997年10月
描述（续）
在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型
触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。它们可以被用来作为两个9位
收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP取快照的样品被激活
数据出现在器件引脚或上边界的试验细胞进行自测。激活TAP
在正常模式中，不影响范围通用总线收发器的功能操作。
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流，这些设备在透明模式下工作时，
LEAB高。当LEAB为低时，所述的数据被锁存，而CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。
否则，如果LEAB低，所述的数据被存储在由低到高CLKAB的过渡。当OEAB低，乙
输出是活动的。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B-到一个数据流是相似
以A到B的数据流量，而是使用OEBA ， LEBA和CLKBA投入。
在测试模式中，所述范围通用总线收发器的正常操作被禁止，并且测试
电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），
测试数据输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路进行
其他测试功能，例如对数据的输入和伪随机模式并行签名分析（PSA）的
代（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
的“ LVT182512的B端口输出，其目的是为了源出或吸入高达12毫安，包括相当于25 Ω
串联电阻，以减少过冲和下冲。
该SN54LVT18512和SN54LVT182512的特点是工作在整个军用温度
范围为-55 ° C至125°C 。该SN74LVT18512和SN74LVT182512从特点是操作
-40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式下，每个寄存器）
输入
OEAB
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
H
H
X
CLKAB
L
↑
↑
X
X
X
A
X
L
H
L
H
X
产量
B
B0
L
H
L
H
Z
表示A到B的数据流。 B-到一个数据流是相似
但使用OEBA ， LEBA和CLKBA 。
输出指示稳态输入前级
条件成立
2
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