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SN54ACT8999 , SN74ACT8999
与8位双向数据总线扫描路径SELECTORS
SCAN控IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP多路复用器
SCAS158D - 1990年6月 - 修订1996年12月
D
theTexas仪器成员
D
D
D
D
D
D
D
D
D
D
描述
在“ ACT8999是德州的成员
SCOPE仪器可测性 integrated-
电路的家庭。该系列组件的方便
测试复杂的电路板组件。
在“ ACT8999增强了TI的扫描功能
SCOPE 系列允许的增强
系统的二次扫描主要扫描路径
路径程序(SSP ),其可以被单独选择
由' ACT8999包含在主扫描
路径。该装置还提供了测试的缓冲
信号,以减少对外部逻辑。
ID2
ID3
ID4
ID5
V
CC
ID6
ID7
ID1
MCI
DCI
DTDI
OTMS
DCO
MCO
5
6
7
8
9
10
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
11
19
12 13 14 15 16 17 18
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准1149.1
( JTAG )串行总线测试
让系统扫描路径的分区
可以水平或垂直级联
选择四个二级扫描路径的
被包括在主扫描路径
提供交流的主
和远程测试总线控制器
包括8位可编程二进制计数器
以计数或启动中断信号
包括8位识别总线进行扫描
路径识别
输入是TTL兼容
EPIC
(增强型性能注入
CMOS ) 1微米工艺
封装选择包括塑料
小外形( DW )封装,陶瓷
芯片载体( FK )和标准塑料
( NT)和陶瓷( JT ) 300密耳的DIP
SN54ACT8999 。 。 。 JT包装
SN74ACT8999 。 。 。 DW或NT包装
( TOP VIEW )
DTDI
OTMS
DCO
MCO
DTDO
DTCK
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
DTRST
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
DCI
MCI
ID1
ID2
ID3
ID4
ID5
V
CC
ID6
ID7
ID8
TRST
TDI
TCK
SN54ACT8999 。 。 。 FK包装
( TOP VIEW )
ID8
TRST
TDI
TCK
TMS
TDO
DTRST
通过加载适当的值到指令寄存器和数据寄存器中,用户可以选择四种1
二次扫描路径。这有缩短扫描路径,以实现最大的测试吞吐量时的效果
单个子系统(板或盒)被测试。任何器件的6个数据寄存器或指令
寄存器可以被放置在该设备的扫描路径,即,置于测试数据输入(TDI)和测试数据输出之间
( TDO)用于随后的移位和扫描操作。
该设备的计数以外的所有操作都是同步的测试时钟( TCK ) 。 8位可编程
递增/递减计数器可用于计数在设备条件输入转换( DCI)和输出中断信号
通过设备状态输出(DCO ) 。该装置可被配置为依靠上升或下降沿
的DCI 。
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
关于产品符合MIL PRF 38535 ,所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品,生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
版权
1996年,德州仪器
邮政信箱655303达拉斯,德克萨斯州75265
邮政信箱1443休斯敦,得克萨斯州77251-1443
DTDO
DTCK
GND
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
1
SCAS158D - 1990年6月 - 修订1996年12月
SN54ACT8999 , SN74ACT8999
与8位双向数据总线扫描路径SELECTORS
SCAN控IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP多路复用器
描述(续)
如果一个系统的测试体系结构中含有一个以上的测试总线控制器, 8位双向总线可用于
以与一个或多个较低级别的远程总线控制器接口更高级别的主总线控制器(PBC)的
(红细胞) 。一种协议,允许中国人民银行通过了“ ACT8999到RBC的控制权,释放中国人民银行的其他任务。
8位总线也可以是硬连线的,以提供一个256的子系统的识别码。测试访问
端口( TAP )控制器是一个符合IEEE 1149.1标准兼容的有限状态机。
该SN54ACT8999的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。
该SN74ACT8999的特点是操作从0℃至70℃。
功能框图
VCC
2
OTMS
远程
TEST
PORT
TEST
模式
SELECT
电路
8
DTMS1
9
DTMS2
10
VCC
DTDI
1
DTMS3
11
DTMS4
VCC
TDI
16
5
DTDO
DCI
28
DCO
( 3态或
开漏)
4
MCO
3
MCI
27
数据
注册
ID1ID8
13 TDO
指令
注册
VCC
TMS
14
测试端口
6
DTCK
TCK
15
VCC
TRST
17
12
DTRST
显示引脚数都为DW , JT和NT包。
2
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SN54ACT8999 , SN74ACT8999
与8位双向数据总线扫描路径SELECTORS
SCAN控IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP多路复用器
SCAS158D - 1990年6月 - 修订1996年12月
功能块描述
在“ ACT8999实现了在一个封装中两个单独的函数。该装置的主要功能是
包括在系统的主扫描路径选择的次级扫描路径以使PBC执行控制
并观察所选择的路径上的测试功能。这是通过找到一个在TMS终端(多个)来实现
二次扫描路径用的装置的DTMS引脚之一。这种方法允许系统有内置
可测试性,各级无需将主系统的扫描路径总是包括所有子系统扫描
路径。其结果是,测试吞吐量提高和测试数据必须被解释的量减少。
该装置包括:误差检测电路,可以防止用户无意中激活一个以上的
一次二次扫描路径。
该装置的另一个功能是由8比特识别总线提供。该总线可与拉硬连线
和下拉电阻提供的识别码来测试控制器(多个) ,以验证测试操作是
在系统的适当部分执行。该总线还可以将数据和指令传送到另一
设备,诸如本地或远程总线控制器,并通过扫描路径选择功能给该设备的控制。
这释放了主控制器到别处激活另一个次级扫描路径在系统中,或执行
更高级别的测试控制功能。当RBC准备好设备的返回控制,中断信号警报
主控制器。
最不显著位的扫描到的设备的任何寄存器的所有值( LSB)为第一比特移位
(最接近TDO ) 。最-显著位(MSB)是最后的位偏移(最接近TDI) 。在“ ACT8999是
分为功能块,详情如下。
测试端口
在测试端口上解码TCK,TMS, OTMS和TRST信号,以控制电路的操作。每
测试端口包括,根据问题的妥善控制指令到数据寄存器一个TAP控制器
IEEE标准1149.1协议。 TAP控制器的状态图示于图1中的两个测试端口
包括在' ACT8999 ,允许不同的测试控制器指挥装置的不同部分。
TMS电路
在TMS电路进行解码的选择和控制寄存器位来确定哪一个,如果有的话,则DTMS的
销(其提供模式选择信号提供给次级的扫描路径(多个) )遵循TMS管脚或OTMS销。该
未选择的DTMS引脚由电路设置为静态的高或低的水平。
指令寄存器
指令寄存器(IR)是发出指令到该装置中的8比特宽的串行移位寄存器。数据
输入通过TDI或DTDI指令寄存器,并通过TDO移出。所有装置操作由发起
加载适当的指令或指令序列到红外。
数据寄存器
六个并行数据寄存器中包含的' ACT8999 :旁路,控制,计数器,边界扫描,标识总线,并
选择。标识总线寄存器的边界扫描寄存器中的一个组成部分。每个数据寄存器通过TDI串行加载
通过TDO或DTDI并输出数据。表1总结了在' ACT8999的寄存器。
表1.注册摘要
注册名称
指令
远程教学
控制
计数器
SELECT
边界扫描
ID的总线
绕行
长度(位)
8
8
13
8
8
15
8
1
功能
发行命令信息发送到设备
发出命令的信息,以选择寄存器
配置和使能控制
指望通过DCO的DCI事件,输出中断
选择四个DTMS一个引脚跟随TMS或OTMS
在外围设备捕获和力量的测试数据
通过一个PBC和RBC (S )之间的测试命令和数据
从扫描路径中删除了“ ACT8999
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3
SCAS158D - 1990年6月 - 修订1996年12月
SN54ACT8999 , SN74ACT8999
与8位双向数据总线扫描路径SELECTORS
SCAN控IEEE 1149.1 ( JTAG ) TAP多路复用器
终端功能
终奌站
名字
DCI
I / O
I
描述
设备条件输入。 DCI接收来自一个无线闭塞中心和/或二次扫描路径(多个)中断和协议的信号。
当计数器寄存器指示向上或向下计数, DCI配置为计数器时钟。
设备条件输出。 DCO由控制寄存器被配置为输出协议和中断信号给PBC 。
它也可以由控制被配置寄存器以输出一误差信号,如果在指令寄存器或选择寄存器是
满载无效值。 DCO进一步配置成通过控制寄存器为:
高有效或低有效(复位状态=低电平有效)
漏极开路或三态(复位状态=开漏)
设备测试时钟。 DTCK输出缓冲的测试时钟TCK到二次扫描路径(多个) 。
设备测试数据输入。 DTDI接收所选择的次级扫描路径的串行测试数据输出。内部上拉
力DTDI到高逻辑电平,如果它悬空。
设备测试数据输出。 DTDO输出串行的测试数据到辅助扫描路径(多个)的TDI输入(多个) 。
设备测试模式选择1-4。任一个或所有这些四个输出可被选择为后续的TMS或OTMS包括
二次扫描路径在主扫描路径。未被选择的DTMS输出可独立地设置为静态
高或低逻辑电平。从选择寄存器的TMS电路监视输入确定的配置
DTMS输出。
设备测试复位。这个低电平有效的输出发送一个复位信号给次级的扫描路径(多个) 。 DTRST可
通过在控制寄存器中的一位或通过设置TRST低断言。
DCO
O
DTCK
DTDI
DTDO
DTMS1
DTMS2
DTMS3
DTMS4
DTRST
GND
ID1
ID2
ID3
ID4
ID5
ID6
ID7
ID8
MCI
MCO
O
I
O
O
O
I / O
识别1-8。该8位数据总线可用于与无线闭塞中心进行通信,并通过数据和控制指令。
通过接线拉和下拉电阻连接到这些端子, 255唯一识别码中的一个可以被分配给
该设备以允许测试控制器,以确定所测试的子系统的身份。
I
O
法师条件输入。 MCI接收中断,并从中国人民银行协议singals 。
主状态输出。 MCO发送中断和协议信号到一个红细胞和/或二次扫描路径(多个) 。
MCO还输出在暂停-DR TAP状态,低电平有效的错误信号如果RBC加载在一个无效的值
选择寄存器。
可选测试模式选择。 OTMS可以用来代替TMS来控制选择寄存器。这是非常有用的,当
远程总线控制器可用来控制二次扫描路径(多个) 。一个内部上拉迫使OTMS到高电平
如果悬空。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。的' ACT8999的除外的所有操作
计数功能是同步的TCK 。上的设备的输入端的数据被捕获在TCK ,并将其输出的上升沿
更改TCK的下降沿。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TDI是用于移动信息的串行输入
到指令寄存器或选定的数据寄存器。 TDI是通常由主总线的TDO输出
控制器。内部上拉的力量TDI为高电平,如果它被悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TDO是用于移位串行输出
信息从指令寄存器的或选择的数据寄存器中。 TDO通常连接到的TDI输入
下一个可扫描设备的主扫描路径。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1所需的四个端子。 TMS在TCK的上升沿水平
通过TAP控制器的状态指示“ ACT8999 。一个内部上拉力量TMS为高电平,如果悬空。
测试复位。此低电平有效的输入inplements IEEE标准1149.1的可选复位端。当断言,
TRST使“ ACT8999去测试逻辑复位状态和配置指令寄存器和数据
寄存器为电值。 TRST也没有通过DTRST反转输出。内部上拉的力量TRST
到一个高的水平,如果不连接。
电源电压
OTMS
I
TCK
I
TDI
I
TDO
O
TMS
I
TRST
I
VCC
4
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SN54ACT8999 , SN74ACT8999
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状态图描述
根据IEEE标准1149.1的TAP进入通过状态如图1所示。有六个稳定状态
和10不稳定的状态在图中(通过一个循环箭头表示) 。一个稳定的状态被定义为状态的
TAP可以保持连续的TCK周期。不符合这一标准的任何状态是不稳定的状态。
有通过状态图的两个主要途径:一是操纵操纵数据寄存器和一个
指令寄存器。不超过一个寄存器可以在同一时间内进行操作。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
TMS = L
选择DR扫描
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新DR
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
TMS = L
图1. TAP控制器状态图
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联系人:刘先生
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