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SN74ACT8994

数字总线监视器

IEEE 1149.1 （ JTAG ）扫描控制逻辑/特征分析器

SCAS196E - 1990年7月 - 修订1996年12月

德州仪器会员

范围

家庭可测性产品

兼容IEEE标准

1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和

边界扫描结构

由16位包含1024字

随机存取存储器（ RAM）来存储

数字总线的国

测试操作是同步的

测试时钟或系统时钟（S ）

包括德州仪器事件

资质模块实时系统

TEST

八协议的联机信号

监控和测试操作

输入是TTL电压兼容

执行并行签名分析（ PSA ）

数据输入，用户自定义的

反馈

数据输入被屏蔽期间PSA

操作

级联PSA模式允许压缩

并行数据路径大于16位

宽

直接存储器访问（DMA ）速度

内存和寄存器文件读/写

操作

掉电模式当RAM空转

降低了功耗

EPIC

（增强型性能注入

CMOS ） 1微米工艺

封装采用28引脚塑料芯片载体

FN包装

（ TOP VIEW ）

CLK1

CLK2

CLK3

TMS

TCK

3 2 1 28 27 26

12 13 14 15 16 17 18

D10

D11

D12

D13

D14

描述

该SN74ACT8994数字总线监控器（ DBM ）是德州仪器SCOPE 可测试性的成员

集成电路的家庭。该系列组件都支持IEEE标准1149.1-1990 （ JTAG ）边界

扫描，方便的复杂电路板组件的测试。该DBM是有边界的，可扫描设备

用于监视和/或存储多达数字总线的值以16位宽度。它驻留在平行于

总线受到监视。

在D输入引脚上的数据可以被存储在一个可扫描的随机存取存储器（RAM）。长达1024字

16位可被存储。一种并行签名分析（PSA）的可对数据或上的内容来执行

内存。在PSA操作中使用一个线性反馈移位寄存器的技术来压缩数据转换成一个签名。

用户可以将设备配置为掩模的数据输入的任何组合，并控制过程中使用的反馈

PSA操作。

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

范围和EPIC是德州仪器的商标。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合每德州仪器条款规范

标准保修。生产加工并不包括

所有测试参数。

TDI

TDO

GND

EQO

PIO

EQI

D15

版权

1996年，德州仪器

关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试

除非另有说明。在所有其他产品，生产

加工不一定包括所有参数进行测试。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN74ACT8994

数字总线监视器

IEEE 1149.1 （ JTAG ）扫描控制逻辑/特征分析器

SCAS196E - 1990年7月 - 修订1996年12月

描述（续）

该DBM通过IEEE标准1149.1-1990测试访问端口（ TAP ）接口接收指令。技术咨询

接口由测试时钟（TCK ），测试模式选择（TMS）测试数据输入（TDI）和测试数据输出（ TDO）

销。

DBM的可以在离线模式下，或在在线模式下操作。在离线模式下，设备将执行

试运行独立的系统条件。离线测试业务包括并行特征分析

（ PSA ）的RAM和外部测试的内容。

在联机模式中， DBM可以被配置为执行基于系统中发起测试操作

条件和在同步操作中的一个或更多个系统时钟的逻辑组合。该装置

允许样品，存储，和/或PSA操作，以根据八个协议中的一个来执行。比较

模式，这可以被存储在事件评审模块（ EQM ）中，允许用户定义特定值

16位总线的的量，测试操作将被执行。

1024字×16位的RAM和EQM寄存器文件，可以使用串行访问

IEEE-标1149.1-1990兼容的读写指令。然而，直接存储器存取（DMA）

指令还提供以加速的大量数据和从RAM和EQM的传输。

多项式的输入/输出（PIO）是用于层叠多个DBM是提供一种双向销

总线比16位大的特征分析。

该SN74ACT8994的特点是操作从0℃至70℃。

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SCAS196E - 1990年7月 - 修订1996年12月

功能框图

边界扫描寄存器

EQI 17

CLK1 7

CLK2 8

CLK3 9

测试单元寄存器

内存

EQO

PCI

D6 27

D7 26

D8 25

D9 24

D10 23

D11 22

D12 21

D13

D14

TDO

MUX

TDO

控制/

旁路/

头寄存器

EQM

PIO

D15 18

VCC

TDI

VCC

TAP控制器/

指令寄存器

TMS

TCK

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终端功能

终奌站

名字

CLK1 ， CLK2 ， CLK3

D0, D1, D2, D3, D4,

D5, D6, D7, D8, D9,

D10, D11, D12,

D13, D14, D15

EQI

号

7, 8, 9

6, 5, 4, 3, 2,

1, 27, 26, 25

24, 23, 22,

21, 20, 19, 18

I / O

描述

时钟1，2，和3。 CLK1 - CLK3提供各种类型的系统时钟和控制信号到所述

DBM的被测同步测试操作到系统的目的。

数据总线输入。 D15 - D0的形成是受DBM的监视的16位数字总线。数据

出现在该总线可以被压缩成16比特的数字签名和/或存储在1024字

内存。每个数据位可以在测试操作进行单独屏蔽。

活动资格的输入。 EQI用于从接收外部（全局）事件信号

用户定义的事件鉴定的逻辑。 EQI可以被配置为发起在测试操作

在线模式。

活动资格的输出。 EQO被用于发送任何的几个内部产生的状态

信号。 EQO可以被配置为发送内部（局部）的事件信号发送到外部（全局）

事件资格逻辑。

地

I / O

多项式的输入/输出。 PIO是用来级联多个DBM提供签名

分析总线比16位大的。其为输入或输出的特定DBM配置

设备取决于该DBM中的扫描路径的意义（大部分，中间，或至少）。

测试时钟。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。的扫描操作

DBM是同步的TCK 。捕获数据在TCK的上升沿，输出变化

在TCK的下降沿。

测试数据输入。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。 TDI是串行输入

通过指令寄存器或选择的数据移位寄存器中的数据。内部上拉

力TDI为高电平，如果悬空。

测试数据输出。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。 TDO是串行

输出通过指令寄存器或选择的数据移位寄存器中的数据。

测试模式选择。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。 TMS指导

DBM通过TAP控制器的状态。一个内部上拉力，TMS为高电平时，如果左

悬空。

电源电压

EQO

GND

PIO

TCK

TDI

TDO

TMS

VCC

详细说明

DBM的一般结构如图中的功能框图。 DBM的包含了八个数据

寄存器和通过TAP串行访问的指令寄存器。 TAP控制器是一个

有限状态机的问题的控制和使能信号在整个装置中，根据它的当前状态。

指令寄存器（ IR），提供了附加的控制信号是特定于当前指令。试验

数据从TDI串行发送通过扫描路径到TDO。的8个数据寄存器IR或一个是

在颁发给TDO多路复用器的TAP控制信号的扫描路径总是选择。

的1024个字的RAM可用于存储来自总线的数据时，测试操作被监视。拉姆

通过TAP接口被访问时在RAM寄存器（ RAMR ）在扫描路径被选择。

事件评审模块（ EQM ）包含两个数据寄存器中包含的配置，比较和

面膜与上线试运行的相关数据。该EQM还包含状态机为八

协议包括各种启动/停止，开始/暂停/恢复，和do-while算法。这些协议

同步操作，以通过可编程时钟接口（PCI ）产生的时钟信号。在PCI

生成从一个32的不同逻辑CLK1 ，CLK2 ， CLK3 ，和TCK的组合的时钟信号。用户

通过配置控制寄存器（ CTLR ）的PCI 。

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详细说明（续）

试验小区寄存器（ TCR）是进行PSA操作上的数据总线或上的内容的数据寄存器

的RAM。在PSA操作中， TCR为线性反馈移位寄存器。该CTLR配置数据

掩蔽，并且控制反馈对PSA操作。边界扫描寄存器（ BSR ），头寄存器

（ HR）和旁路寄存器（ BR）是可以通过TAP接口进行串行存取的数据的寄存器。

指令寄存器

8位指令寄存器（ IR ）包含DBM当前指令，它控制的所有操作

装置。当IR是放置在扫描路径中，IR状态字被装入IR和移出TDO

当新的指令被移入。

红外状态字包含四个状态位。当一个操作码不适用的IRERR状态位被置位

表现出的偶校验装入的IR 。在OVF状态位被置位时， RAM的地址计数器

以十六进制格式增加近至3FFh的最大值（寄存器值给出，用字母表示

h时的值）。 RUN和EOT状态位属于在线测试和被认定，当协议

处于活动状态（ RUN）或协议的末尾为止（EOT）。

边界扫描寄存器

边界扫描寄存器（ BSR）是一个24位寄存器，包括用于每个的一个边界扫描单元（ BSC）的

该装置的非JTAG输入和输出管脚， 2的BSC为PIO （一个用于输入数据和一个用于输出数据），

和一个BSC的PIO方向信号。 BSR被用来捕获出现在该装置周边的数据

及到的测试数据施加到器件输出。

旁路寄存器

旁路寄存器（BR）是由IEEE标准1149.1-1990需要一个1位寄存器。它提供了一种简写

通过DBM的扫描路径时，当前的测试操作不需要它来访问其他数据中的一个

寄存器。

控制寄存器

在45位的控制寄存器（ CTLR ）问题的配置，控制和启动信号的装置。数据转移

进入CTLR配置数据屏蔽和反馈PSA操作。它还配置了可编程

时钟接口和选择的测试操作将被执行（参见实验操作）。

事件资格寄存器1

事件资格寄存器1 （ EQR1 ）是一个32位寄存器，配置DBM上线测试

（事件检测合格）。数据移入EQR1选择和控制的八个事件资格协议之一

和配置事件和状态信号。根据协议，事件触发信号测试操作

被执行。状态信号是经由EQO输出。 EQR1也包含循环计数器，它控制

次被执行的事件资格协议号。

事件资格寄存器2

事件评审寄存器2（ EQR2 ）被用来加载事件计数器，预期的数据，并且数据掩模

（ 16字深的寄存器文件）事件合格测试。根据当前的指令时，它可以是48或56

位长，并且可以被认为是3个16位的数据段和两个4位的地址段。其中4位

地址段地址的事件计数器，而其他4位地址段地址的预期

数据和掩模数据。

寄存器文件可以使用IEEE-标1149.1-1990兼容的指令或DMA访问

指令。当使用IEEE -标1149.1-1990兼容的指令， EQR2被配置为一个56位的

寄存器的两个4位地址段。

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达拉斯，德克萨斯州75265