SN74ACT7882
2048
×
18
主频先入先出存储器
SCAS445C - 1994年6月 - 修订1998年4月
终端功能
终奌站
名字
号
I / O
描述
几乎全/近空标志。在AF / AE边界由AF / AE定义的偏移值（ X） 。这
值可以复位过程中被编程，或者可以使用256的缺省值。 AF / AE为高电平时
在存储器中的字的数量小于或等于X的AF / AE也为高电平时的单词数
在存储器是大于或等于（2048 - X） 。
编程的AF / AE偏移值（ X）的过程中的复位周期来实现的。自动对焦/自动曝光补偿值
（Ⅹ）可以是用户定义的或第X = 256的程序的默认值来编程AF / AE如下：
AF / AE
33
O
用户定义的X
第1步：以DAF从高分到低分。 DAF输入的高电平到低电平的跳变存储二进制值
上的数据输入作为X中使用以下位，从最显著位列出至少显著
位D9 - D0 。
第2步：如果复位是不是已经很低，拿RESET低。
第3步：用DAF保持低电平，复位采取高。这定义了使用X的AF / AE
注：要保留目前的（X ）的偏移量，在随后的复位周期保持DAF低。
默认的X
要使用X = 256的默认值重新定义AF / AE ，抱在复位周期DAF高。
DAF
D0–D17
HF
27
26–19, 17,
15–7
36
I
I
O
定义几乎爆满。 DAF的高到低转换存储的数据输入为AF / AE的二进制值
偏移值（X ） 。与DAF保持为低电平，复位周期定义了使用X的AF / AE标志
对于18位宽的数据的数据输入将要存储在存储器中。在DAF捕捉高向低转换
从D9 D0的数据为几乎空/几乎满的偏移（X）中。
半满标志。 HF为高，当FIFO中包含1024个或更多的话，是低时的数
在内存中的字是小于FIFO的一半的深度。
输入准备好标志。 IR为高时， FIFO未满低时，该设备已满。在复位过程中， IR
被驱动为低电平的第二WRTCLK脉冲的上升沿。 IR然后被驱动为高电平的上升沿
第二WRTCLK脉冲后， RESET变高。经过FIFO的填充和IR驱动为低电平，红外
在之后的第一个有效的读取驱动为高电平的第二WRTCLK脉冲。
输出使能。的Q0- Q17输出处于高阻抗状态时， OE为低。 OE要高
RDCLK的上升沿之前，从存储器读出一个字。
输出就绪标志。或高当FIFO不为空，低的时候是空的。在复位过程中，或
被设置为低于第三RDCLK脉冲的上升沿。或者被设置为高的第三个上升沿
后的第一个字被写入FIFO发生RDCLK脉冲。或者被设置为低上的上升沿
最后一个字后的第一个RDCLK脉冲读取。
数据输出。第一个数据字被加载到FIFO移动到Q0- Q17上的上升沿
第三RDCLK脉冲后的第一次有效的写操作发生。 RDEN1和RDEN2不影响该操作。
以下数据被卸载在RDCLK的上升沿时RDEN1 ， RDEN2 ， OE和OR高。
读时钟。数据读出内存的低到高的转变在RDCLK如果OR ，操作环境和RDEN1
和RDEN2高。 RDCLK是自由运行的时钟和用作用于所有的同步时钟
数据传输从FIFO中。或也被同步地驱动相对于RDCLK 。
读使能。 RDEN1和RDEN2要高上之前RDCLK的上升沿读一个字了
的存储器。 RDEN1和RDEN2不用于读取存储在存储器中的第一个字。
复位。复位时，采取RESET低，产生最少四个RDCLK和实现
WRTCLK周期。这确保了内部读和写指针被复位，该OR ，HF和
IR低， AF / AE高。该FIFO必须是上电复位。用DAF在低水平，低
脉冲的RESET定义使用AF / AE自动对焦/自动曝光偏移值（ X） ，其中X是先前值
存储。 DAF举行期间复位周期的高定义了使用X = 256的默认值的AF / AE标志。
写时钟。数据被写入到存储器上的一个低到高的WRTCLK的过渡，如果红外， WRTEN1 ，并
WRTEN2高。 WRTCLK是自由运行的时钟和用作用于所有的同步时钟
数据传送到FIFO。红外光谱也被同步地驱动相对于WRTCLK 。
写使能。 WRTEN1和WRTEN2要高之前，在WRTCLK上升沿的字
被写入到存储器中。 WRTEN1和WRTEN2不影响AF / AE的存储偏移值（X ） 。
IR
35
O
OE
2
I
OR
66
O
Q0–Q17
38–39, 41–42,
44, 46–47,
49–50, 52–53,
55–56, 58–59,
61, 63–64
5
4
3
O
RDCLK
RDEN1
RDEN2
I
I
RESET
1
I
WRTCLK
WRTEN1
WRTEN2
29
30
31
I
I
上市终端是针对FN包。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
5
