SCBS167D - 1993年8月 - 修订1996年7月
SN54ABTH18652A ， SN54ABTH182652A ， SN74ABTH18652A ， SN74ABTH182652A
与扫描测试设备
18位总线收发器和寄存器
SN74ABTH18652A ， SN74ABTH182652A 。 。 。 PM PACKAGE
（ TOP VIEW ）
64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49
1A3
1A4
1A5
GND
1A6
1A7
1A8
1A9
V
CC
2A1
2A2
2A3
GND
2A4
2A5
2A6
1A2
1A1
1OEBA
GND
1SAB
1CLKAB
TDO
V
CC
TMS
1CLKBA
1SBA
1OEAB
GND
1B1
1B2
1B3
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
1B4
1B5
1B6
GND
1B7
1B8
1B9
V
CC
2B1
2B2
2B3
2B4
GND
2B5
2B6
2B7
描述
在“ ABTH18652A和” 18位总线收发器和寄存器ABTH182652A扫描测试设备
德州仪器SCOPE可测性集成电路家族的成员。该系列器件支持
IEEE标准1149.1-1990边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描
访问该测试电路是通过4线测试访问端口（TAP ）接口来完成。
在正常模式下，这些设备是18位总线收发器和寄存器，允许对复
发送直接从输入总线或从内部寄存器中的数据的。它们可以被用来作为两个
9位收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP采取快照被激活
出现在设备引脚或数据的样本上的边界试验电池进行自测。激活
在正常模式下在TAP不会影响范围的功能操作
总线收发器和
寄存器。
在每个方向的数据流是由时钟（ CLKAB和CLKBA ）控制，选择（ SAB和SBA ） ，和
输出使能（ OEAB和OEBA ）输入。对于A到B的数据流， A总线上的数据被移入相关
在注册CLKAB低到高的转变。当SAB是低，实时的数据被选择用于呈现
到B总线（透明模式）。当SAB为高电平时，存储的数据被选择用于呈现给B总线
（注册模式） 。当OEAB为高电平时， B输出是活动的。当OEAB为低电平时， B输出是在
高阻抗状态。控制对B对一个数据流是类似于对于A至B的数据流，但使用CLKBA ，公会，
和OEBA投入。由于OEBA输入为低电平时，A输出有效时OEBA低，在
高阻抗状态，当OEBA高。图1示出了四种基本的总线管理
与该' ABTH18652A和' ABTH182652A执行的功能。
2
2A7
2A8
2A9
GND
2OEBA
2SAB
2CLKAB
TDI
V
CC
TCK
2CLKBA
2SBA
GND
2OEAB
2B9
2B8
邮政信箱655303达拉斯，德克萨斯州75265
邮政信箱1443休斯敦，得克萨斯州77251-1443
QQ：2881677436 复制
