【SN54ABT8652 ， SN74ABT8652扫描测试设备八进制总线收发器和寄存器SCBS122】,IC型号SN74ABT8652DWRE4,SN74ABT8652DWRE4 PDF资料,SN74ABT8652DWRE4经销商,ic,电子元器件-51电子网

SN54ABT8652 ， SN74ABT8652

扫描测试设备

八进制总线收发器和寄存器

SCBS122F - 1992年8月 - 修订1996年12月

德州仪器成员

范围

家庭可测性产品

兼容IEEE标准

1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口和

边界扫描结构

功能上等同于' F652和

在正常功能模式“ ABT652

范围

指令集

- IEEE标准1149.1-1990要求

说明，可选INTEST ， CLAMP ，

和HIGHZ

- 在输入并行信号分析

用蒙版选项

- 伪随机模式生成

从输出

- 采样输入/输出切换

- 二进制计数从输出

- 偶校验操作码

每个I / O两个边界扫描单元

更大的灵活性

国家的最先进的

EPIC-

ΙΙ

BiCMOS工艺设计

显著降低了功耗

封装选项包括缩小

小外形（ DL）和塑料

小外形（ DW ）封装，陶瓷

芯片载体（ FK ），和标准的陶瓷

DIP封装（ JT ）

SN54ABT8652 。。。 JT包装

SN74ABT8652 。。。 dl或DW包装

（ TOP VIEW ）

CLKAB

SAB

OEAB

GND

TDO

TMS

CLKBA

SBA

OEBA

TDI

TCK

SN54ABT8652 。。。 FK包装

（ TOP VIEW ）

描述

与八进制总线“ ABT8652扫描测试设备

收发器和寄存器的成员

得克萨斯州

仪器

SCOPE

可测性

集成电路的家庭。该系列器件

支持IEEE标准1149.1-1990边界

扫描，以方便复杂的电路板测试

集会。扫描获得的测试电路是

通过4线测试访问端口来实现

（TAP）接口。

OEBA

SBA

CLKBA

CLKAB

SAB

OEAB

3 2 1 28 27 26

12 13 14 15 16 17 18

TDI

TCK

TMS

TDO

在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F652和' ABT652八进制总线收发器

和寄存器。测试电路可通过在TAP被激活以取出现的数据的快照样品

在器件引脚或在边界测试电池进行自检。激活TAP在正常模式下不

不影响SCOPE 八路总线收发器和寄存器的功能操作。

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合每德州仪器条款规范

标准保修。生产加工并不包括

所有测试参数。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

GND

版权

1996年，德州仪器

关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试

除非另有说明。在所有其他产品，生产

加工不一定包括所有参数进行测试。

SN54ABT8652 ， SN74ABT8652

扫描测试设备

八进制总线收发器和寄存器

SCBS122F - 1992年8月 - 修订1996年12月

描述（续）

在每个方向的数据流是由时钟（ CLKAB和CLKBA ）控制，选择（ SAB和SBA ），和

输出使能（ OEAB和OEBA ）输入。对于A到B的数据流， A总线上的数据被移入相关

在注册CLKAB低到高的转变。当SAB是低，实时的数据被选择用于呈现

到B总线（透明模式）。当SAB为高电平时，存储的数据被选择用于呈现给B总线

（注册模式）。当OEAB为高电平时， B输出是活动的。当OEAB为低电平时， B输出是在

高阻抗状态。控制B-到一个数据流是类似的A到B的数据流量，但使用CLKBA ， SBA ，

和OEBA投入。由于OEBA输入为低电平时，A输出有效时OEBA低，在

高阻抗状态，当OEBA高。图1显示了四种基本的总线管理功能

可以用' ABT8652进行。

在测试模式中，所述范围的正常运行总线收发器和寄存器被抑制，试验

电路被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路

如在IEEE标准1149.1-1990描述执行边界扫描测试操作。

四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ），

测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ）。另外，测试电路执行其他测试功能

如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的

数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。

该SN54ABT8652的特点是工作在-55 ° C至125°C的整个军用温度范围。

该SN74ABT8652的特点是操作温度范围为-40 ° C至85°C 。

功能表

输入

OEAB

OEBA

CLKAB

↑

CLKBA

↑

SAB

SBA

A1–A8

输入禁用

输入

Unspecified§

产量

输入

产量

数据I / O

B1–B8

输入禁用

输入

Unspecified§

产量

输入

产量

操作或功能

隔离

商店A和B的数据

商店A，按住B

在这两个寄存器保存一个

持有A， B店

在这两个寄存器存储B

实时B数据到总线

存储B数据到总线

实时的数据到B总线

存储在数据到B总线

存储在数据到B总线和

存储B数据到总线

的数据输出功能，可以启用或通过各种在OEAB或OEBA级组合的禁止。数据输入功能总是

启用;也就是说，在巴士总站的数据存储在时钟输入的每个低到高的转变。

选择控制= L ：时钟，可以同时进行。

选择控制= H ：时钟必须以加载这两个寄存器错开。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8652 ， SN74ABT8652

扫描测试设备

八进制总线收发器和寄存器

SCBS122F - 1992年8月 - 修订1996年12月

BUS B

OEAB OEBA

CLKAB CLKBA SAB

SBA

OEAB OEBA

CLKAB

CLKBA

SAB

BUS B

SBA

实时传输

BUS A TO BUS B

CLKAB

CLKBA

SAB

BUS B

SBA

传输存储数据

A和/或B

总线

实时传输

BUS B TO总线

BUS B

总线

OEAB

OEBA

CLKAB CLKBA SAB

↑

SBA

OEAB

OEBA

从存储

A，B ，或者A和B

显示引脚数都为DL ， DW ，和JT包。

图1.总线管理功能

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

总线

SN54ABT8652 ， SN74ABT8652

扫描测试设备

八进制总线收发器和寄存器

SCBS122F - 1992年8月 - 修订1996年12月

功能框图

边界扫描寄存器

OEAB

OEBA

CLKBA

SBA

CLKAB

SAB

一个8通道

旁路寄存器

边界控制

VCC

TDI

VCC

TMS

指令寄存器

TDO

龙头

调节器

TCK

显示引脚数都为DL ， DW ，和JT包。

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN54ABT8652 ， SN74ABT8652

扫描测试设备

八进制总线收发器和寄存器

SCBS122F - 1992年8月 - 修订1996年12月

终端功能

终奌站

名字

A1–A8

B1–B8

CLKAB ， CLKBA

GND

OEAB ， OEBA

SAB ， SBA

TCK

TDI

TDO

TMS

VCC

描述

正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。

正常功能的时钟输入。见正常模式逻辑函数表。

地

正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。

正常的功能选择输入。见正常模式逻辑函数表。

测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是同步

到TCK 。捕获数据在TCK的上升沿，并输出在TCK的下降沿发生变化。

测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是对移动数据的串行输入

通过指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。

测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是将数据串行输出

通过指令寄存器或选定的数据寄存器。

测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS通过TAP指示装置

控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。

电源电压

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265