SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
D
D
D
D
D
D
描述
与八进制总线“ ABT8245扫描测试设备
收发器是得克萨斯仪器成员
ments范围
可测试的集成电路
家庭。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便
测试复杂的电路板组件。扫描
访问该测试电路是通过完成
4线测试访问端口（TAP ）接口。
A2
A1
OE
NC
DIR
B1
B2
5
6
7
8
9
A3
A4
A5
NC
V
CC
A6
A7
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口
和边界扫描结构
功能上等同于' F245和
在正常功能模式“ ABT245
范围
指令集：
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
用蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 偶校验操作码
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
封装选择包括塑料
小外形封装（ DW ） ，陶瓷
芯片载体（ FK ） ，和标准的陶瓷
DIP封装（ JT ）
SN54ABT8245 。 。 。 JT包装
SN74ABT8245 。 。 。 DW包装
（ TOP VIEW ）
DIR
B1
B2
B3
B4
GND
B5
B6
B7
B8
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
OE
A1
A2
A3
A4
A5
V
CC
A6
A7
A8
TDI
TCK
SN54ABT8245 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
A8
TDI
TCK
NC
TMS
TDO
B8
NC - 无内部连接
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F245和' ABT245八进制总线收发器。
测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在器件引脚的数据的快照样品
或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响
范围的功能操作
八路总线收发器。
数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是
从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。该
输出使能（OE）输入可用于禁用该设备，以使总线被有效隔离。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
B3
B4
GND
NC
B5
B6
B7
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
描述（续）
在测试模式下，正常的范围的操作
总线收发器被抑制和测试电路是
使观察和控制设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行
如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。
四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ） ，
测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路执行其他测试功能
如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的
数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54ABT8245的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。
该SN74ABT8245的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式）
输入
OE
L
L
H
DIR
L
H
X
手术
B数据到总线
数据到B总线
隔离
2
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
功能框图
边界扫描寄存器
24
OE
DIR
1
A1
23
2
B1
一个8通道
旁路寄存器
边界控制
注册
VCC
TDI
14
指令寄存器
11
TDO
VCC
TMS
12
龙头
调节器
TCK
13
显示引脚数都为DW和JT包。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
3
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
终端功能
终奌站
名字
A1 – A8
B1 – B8
DIR
GND
OE
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是与TCK同步的。
捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是通过将数据串行输出
指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
4
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
测试结构
串行测试信息通过4线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和
在TCK的下降沿输出数据的变化。该方案可以确保被捕获的数据是有效的完全
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，
该器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 36位边界扫描寄存器，
一个11位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
5
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
D
D
D
D
D
D
描述
与八进制总线“ ABT8245扫描测试设备
收发器是得克萨斯仪器成员
ments范围
可测试的集成电路
家庭。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便
测试复杂的电路板组件。扫描
访问该测试电路是通过完成
4线测试访问端口（TAP ）接口。
A2
A1
OE
NC
DIR
B1
B2
5
6
7
8
9
A3
A4
A5
NC
V
CC
A6
A7
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口
和边界扫描结构
功能上等同于' F245和
在正常功能模式“ ABT245
范围
指令集：
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
用蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 偶校验操作码
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
封装选择包括塑料
小外形封装（ DW ） ，陶瓷
芯片载体（ FK ） ，和标准的陶瓷
DIP封装（ JT ）
SN54ABT8245 。 。 。 JT包装
SN74ABT8245 。 。 。 DW包装
（ TOP VIEW ）
DIR
B1
B2
B3
B4
GND
B5
B6
B7
B8
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
OE
A1
A2
A3
A4
A5
V
CC
A6
A7
A8
TDI
TCK
SN54ABT8245 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
A8
TDI
TCK
NC
TMS
TDO
B8
NC - 无内部连接
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F245和' ABT245八进制总线收发器。
测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在器件引脚的数据的快照样品
或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响
范围的功能操作
八路总线收发器。
数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是
从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。该
输出使能（OE）输入可用于禁用该设备，以使总线被有效隔离。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
B3
B4
GND
NC
B5
B6
B7
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
描述（续）
在测试模式下，正常的范围的操作
总线收发器被抑制和测试电路是
使观察和控制设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行
如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。
四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ） ，
测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路执行其他测试功能
如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的
数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54ABT8245的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。
该SN74ABT8245的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式）
输入
OE
L
L
H
DIR
L
H
X
手术
B数据到总线
数据到B总线
隔离
2
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
功能框图
边界扫描寄存器
24
OE
DIR
1
A1
23
2
B1
一个8通道
旁路寄存器
边界控制
注册
VCC
TDI
14
指令寄存器
11
TDO
VCC
TMS
12
龙头
调节器
TCK
13
显示引脚数都为DW和JT包。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
3
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
终端功能
终奌站
名字
A1 – A8
B1 – B8
DIR
GND
OE
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是与TCK同步的。
捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是通过将数据串行输出
指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
4
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
测试结构
串行测试信息通过4线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和
在TCK的下降沿输出数据的变化。该方案可以确保被捕获的数据是有效的完全
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，
该器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 36位边界扫描寄存器，
一个11位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
5
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
D
D
D
D
D
D
描述
与八进制总线“ ABT8245扫描测试设备
收发器是得克萨斯仪器成员
ments范围
可测试的集成电路
家庭。该系列器件支持IEEE
标准1149.1-1990边界扫描，方便
测试复杂的电路板组件。扫描
访问该测试电路是通过完成
4线测试访问端口（TAP ）接口。
A2
A1
OE
NC
DIR
B1
B2
5
6
7
8
9
A3
A4
A5
NC
V
CC
A6
A7
4
3 2 1 28 27 26
25
24
23
22
21
20
10
11
19
12 13 14 15 16 17 18
D
德州仪器成员
范围
家庭可测性产品
兼容IEEE标准
1149.1-1990 （ JTAG ）测试访问端口
和边界扫描结构
功能上等同于' F245和
在正常功能模式“ ABT245
范围
指令集：
- IEEE标准1149.1-1990要求
说明，可选INTEST ， CLAMP ，
和HIGHZ
- 在输入并行信号分析
用蒙版选项
- 伪随机模式生成
从输出
- 采样输入/输出切换
- 二进制计数从输出
- 偶校验操作码
每个I / O两个边界扫描单元
更大的灵活性
国家的最先进的
EPIC-
ΙΙ
B
BiCMOS工艺设计
显著降低了功耗
封装选择包括塑料
小外形封装（ DW ） ，陶瓷
芯片载体（ FK ） ，和标准的陶瓷
DIP封装（ JT ）
SN54ABT8245 。 。 。 JT包装
SN74ABT8245 。 。 。 DW包装
（ TOP VIEW ）
DIR
B1
B2
B3
B4
GND
B5
B6
B7
B8
TDO
TMS
1
2
3
4
5
6
7
8
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10
11
12
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
OE
A1
A2
A3
A4
A5
V
CC
A6
A7
A8
TDI
TCK
SN54ABT8245 。 。 。 FK包装
（ TOP VIEW ）
A8
TDI
TCK
NC
TMS
TDO
B8
NC - 无内部连接
在正常模式中，这些设备在功能上等同于“ F245和' ABT245八进制总线收发器。
测试电路可通过在TAP被激活以采取出现在器件引脚的数据的快照样品
或以上的边界试验电池进行自测。激活在正常模式下在TAP不影响
范围的功能操作
八路总线收发器。
数据流由方向控制（DIR）和输出使能（OE）输入控制。数据传输是
从A总线允许B总线或从B总线到A总线，这取决于在DIR的逻辑电平。该
输出使能（OE）输入可用于禁用该设备，以使总线被有效隔离。
请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用
德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
范围和EPIC- ΙΙB是德州仪器的商标。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合每德州仪器条款规范
标准保修。生产加工并不包括
所有测试参数。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
B3
B4
GND
NC
B5
B6
B7
版权
1996年，德州仪器
关于产品符合MIL -PRF- 38535 ，所有参数进行测试
除非另有说明。在所有其他产品，生产
加工不一定包括所有参数进行测试。
1
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
描述（续）
在测试模式下，正常的范围的操作
总线收发器被抑制和测试电路是
使观察和控制设备的I / O的边界。当启用时，测试电路可以执行
如在IEEE标准1149.1-1990中所述边界扫描测试操作。
四个专用测试管脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO ） ，
测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路执行其他测试功能
如在从数据输入和伪随机模式生成（ PRPG ）并行签名分析（PSA）的
数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
该SN54ABT8245的特点是操作上的整个军用温度范围 - 55 ° C至125°C 。
该SN74ABT8245的特点是操作从 - 40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式）
输入
OE
L
L
H
DIR
L
H
X
手术
B数据到总线
数据到B总线
隔离
2
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
功能框图
边界扫描寄存器
24
OE
DIR
1
A1
23
2
B1
一个8通道
旁路寄存器
边界控制
注册
VCC
TDI
14
指令寄存器
11
TDO
VCC
TMS
12
龙头
调节器
TCK
13
显示引脚数都为DW和JT包。
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
3
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
终端功能
终奌站
名字
A1 – A8
B1 – B8
DIR
GND
OE
TCK
TDI
TDO
TMS
VCC
描述
正常功能的总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能的B-总线I / O端口。见正常模式逻辑函数表。
正常功能方向控制输入。见正常模式逻辑函数表。
地
正常功能输出使能输入。见正常模式逻辑函数表。
测试时钟。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。该装置的测试操作是与TCK同步的。
捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。
测试数据输入。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDI是用于通过移动数据的串行输入
指令寄存器或选定的数据寄存器。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。
测试数据输出。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TDO是通过将数据串行输出
指令寄存器或选定的数据寄存器。
测试模式选择。一个由IEEE标准1149.1-1990需要四个端子。 TMS输入通过TAP指示装置
控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。
电源电压
4
邮政信箱655303
达拉斯，德克萨斯州75265
SN54ABT8245 ， SN74ABT8245
扫描测试设备
八进制总线收发器
SCBS124D - 1992年8月 - 修订1996年12月
测试结构
串行测试信息通过4线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递
1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号都沿着这个串行总线测试通过。该
TAP控制器监视来自测试总线，TCK和TMS两个信号。 TAP控制器提取
同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）从测试总线信号，并产生相应的片上
对于测试结构中的装置控制信号。图1示出了TAP控制器的状态图。
TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和
在TCK的下降沿输出数据的变化。该方案可以确保被捕获的数据是有效的完全
二分之一的TCK时钟周期。
该功能框图显示了IEEE标准1149.1-1990 4线测试总线和边界扫描
体系结构和其中的测试总线，TAP控制器的关系，并且测试寄存器。如图所示，
该器件包含一个8位指令寄存器和三个测试数据寄存器： 36位边界扫描寄存器，
一个11位的边界控制寄存器，和一个1位旁路寄存器。
测试逻辑复位
TMS = H
TMS = L
TMS = H
运行测试/空闲
TMS = L
选择DR扫描
TMS = L
TMS = H
捕捉-DR
TMS = L
按住Shift -DR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
Exit1-DR
TMS = L
暂停-DR
TMS = L
TMS = H
TMS = L
Exit2-DR
TMS = H
更新DR
TMS = H
TMS = L
TMS = L
Exit2-IR
TMS = H
更新IR
TMS = H
TMS = L
TMS = H
Exit1-IR
TMS = L
暂停-IR
TMS = L
TMS = H
TMS = H
TMS = H
捕获红外
TMS = L
按住Shift -IR
TMS = L
TMS = H
选择红外扫描
TMS = L
TMS = H
图1. TAP控制器状态图
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达拉斯，德克萨斯州75265
5
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