SN54LVTH18514 ， SN54LVTH182514 ， SN74LVTH18514 ， SN74LVTH182514
3.3 -V ABT扫描测试设备
与20位通用总线收发器
SCBS670C - 1996年8月 - 修订1998年3月
描述（续）
在正常模式下，这些设备是20位通用总线收发器相结合的D型锁存器和D型
触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。测试电路可通过激活
TAP要出现在器件引脚的数据的快照样本，或者在执行自检
边界测试电池。激活TAP在正常模式下，不影响的功能操作
SCOPE通用总线收发器。
在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ） ，锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，
时钟使能（ CLKENAB和CLKENBA ）和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流中，
设备工作在透明模式时LEAB高。当LEAB为低时，所述的数据被锁存，而
CLKENAB是高和/或CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。否则，如果LEAB是低和
CLKENAB低时，所述的数据被存储在由低到高CLKAB的过渡。当OEAB为低电平时， B输出是
活跃的。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B-到一个数据流是类似A到B
数据流，但使用OEBA ， LEBA ， CLKENBA和CLKBA输入。
在测试模式中，所述范围的通用总线收发器的正常操作被禁止，并且测试电路
被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路进行
根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议的边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），
测试数据输出（TDO ） ，测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ） 。另外，测试电路进行
其他测试功能，如数据输入和伪随机模式并行签名分析（PSA）的
代（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。
有源总线保持电路被设置在有效的逻辑电平，以保持未使用的或浮动的数据输入。
的“ LVTH182514的B端口输出，其目的是为了源出或吸入高达12毫安，包括相当于25 Ω
串联电阻，以减少过冲和下冲。
该SN54LVTH18514和SN54LVTH182514的特点是工作在整个军用温度
范围为-55 ° C至125°C 。该SN74LVTH18514和SN74LVTH182514从特点是操作
-40 ° C至85°C 。
功能表
（正常模式下，每个寄存器）
输入
OEAB
L
L
L
L
L
L
H
LEAB
L
L
L
L
H
H
X
CLKENAB
L
L
L
H
X
X
X
CLKAB
L
↑
↑
X
X
X
X
A
X
L
H
X
L
H
X
产量
B
B0
L
H
B0
L
H
Z
表示A到B的数据流。 B-到一个数据流相似，但用途
OEBA ， LEBA ， CLKENBA和CLKBA 。
=输出电平指示的稳态输入条件之前
既定
2
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