PLL602-30
750kHz的 - 800MHz的低相位噪声XO （ 12 - 25MHz的晶体）
特点
750kHz的800MHz的输出范围。
低相位噪声输出（ @ 10kHz的频率
胶印， -142dBc / Hz的为19.44MHz ， -123dBc / Hz时
106.25MHz ， -125dBc / Hz的为155.52MHz ， -
115dBc / Hz的为622.08MHz的） 。
可选CMOS ， PECL和LVDS输出。
可选的高驱动（ 30mA），口径或标准的驱动器
（10mA拉）输出。
为12MHz至25MHz的晶振输入。
输出使能选择。
工作电压为3.3V 。
提供裸片（ 65密耳× 62密耳） 。
模具结构
65万
OUTSEL0^
OUTSEL1^
SEL0^
SEL1^
VDD
VDD
VDD
VDD
(1550,1475)
17
16
25
24
23
22
21
20
19
18
GNDBUF
CMOS
LVDSB
PECLB
VDDBUF
VDDBUF
PECL
LVDS
OE_SEL ^
XIN
XOUT
SEL3
62万
26
死ID ：
A1414-14E
27
15
28
14
13
SEL2
29
12
11
OE_CTRL
N / C
30
C502A
10
31
1
2
3
4
5
6
7
8
9
描述
该PLL602-30是单片低抖动和低
相位噪声（ -142dBc / Hz的@ 10kHz的偏移量） XO IC
死，可选择CMOS ， LVDS或PECL输出，
覆盖到750kHz至800MHz输出范围，使用
低频晶体。
这使得PLL602-30理想的通用模具
应用范围从低频到
SONET 。
Y
X
(0,0)
GND
GND
GND
GND
GND
N / C
GND
输出选择和启用
OUTSEL1
（垫＃ 18 ）
0
0
1
1
OUTSEL0
（垫＃ 25 ）
0
1
0
1
OE_CTRL
（垫＃ 30 ）
0（默认）
1
0
1（默认）
三州
三州
输出启用
选定的输出
高驱动CMOS
标准CMOS
PECL
LVDS
状态
输出启用
DIE规格
名字
SIZE
背面
焊盘尺寸
厚度
价值
62 ×65万
GND
80微米×80微米
10 MIL
OE_SELECT
（垫＃ 9 ）
0
1（默认）
框图
垫＃ 9 ：债券至GND，设置为“0” ，债券为VDD设置为“ 1 ”
垫＃ 30 ：通过PECL电平定义的逻辑状态，如果OE_SELECT （垫＃ 9 ）
为“0”
通过CMOS电平的定义，如果OE_SELECT为“1”的逻辑状态
VCO
分频器
收费
泵
+
环
滤波器
VCO
SEL
参考
分频器
XTAL
OSC
相
探测器
CLKBAR
CLK
XIN
XOUT
OE
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GNDBUF
PLL602-30
750kHz的 - 800MHz的低相位噪声XO （ 12 - 25MHz的晶体）
频率选择表
SEL3
（垫＃ 28 ）
0
0
0
0
0
0
0
0
1
1
1
1
1
1
1
1
SEL2
（垫＃ 29 ）
0
0
0
0
1
1
1
1
0
0
0
0
1
1
1
1
SEL1
（垫＃ 19 ）
0
0
1
1
0
0
1
1
0
0
1
1
0
0
1
1
SEL0
（垫＃ 20 ）
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
0
1
选择的乘数
版权所有
版权所有
版权所有
散热片×32
版权所有
版权所有
FIN / 8
散热片×2
版权所有
FIN / 2
FIN / 16
散热片×4
FIN / 4
鳍×8
鳍×16
无乘法
全片有内部上拉电阻（默认值是1 ） 。邦德至GND，设置为0 。
电气规格
1.绝对最大额定值
参数
电源电压
输入电压， DC
输出电压，直流
储存温度
工作环境温度*
结温
焊接温度（焊接， 10秒）
ESD保护，人体模型
符号
V
DD
V
I
V
O
T
S
T
A
T
J
分钟。
-0.5
-0.5
-65
-40
马克斯。
4.6
V
DD
+0.5
V
DD
+0.5
150
85
125
260
2
单位
V
V
V
°C
°C
°C
°C
kV
超出长时间最大额定值所指明的限制条件下的曝光装置的可能会造成永久性的损坏
装置，并影响了产品的可靠性。这些条件表示在这些或任何其它的应力只等级，并且该器件的功能性操作
上述本说明书中提到的操作限制条件是不是暗示。
*
注意：
工作温度是由设计，所有部件（商业和工业）保证，但测试的唯一的商业档次。
2.水晶规格
参数
晶体谐振器频率
水晶装载评级
推荐ESR
符号
F
XIN
C
L（ XTAL ）
R
E
条件
水货基本模式
AT切割
分钟。
12
典型值。
20
马克斯。
25
30
单位
兆赫
pF
47745弗里蒙特大道，弗里蒙特，加利福尼亚州94538电话：（ 510 ） 492-0990传真：（ 510 ） 492-0991
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3.通用电气规格
参数
电源电流，
动态（带
加载输出）
工作电压
输出时钟
占空比
短路
当前
符号
I
DD
V
DD
条件
PECL / LVDS / CMOS
Fout<24MHz
24MHz<Fout<96MHz
96MHz<Fout<700MHz
分钟。
典型值。
马克斯。
25/25/15
65/45/30
100/80/40
3.63
55
55
55
单位
mA
V
%
mA
@ 50% V
DD
（ CMOS）的
@ 1.25V （ LVDS ）
@ V
DD
- 1.3V （ PECL ）
2.97
45
45
45
50
50
50
±50
4.抖动规范
参数
条件
与去耦电容
之间VDD和GND 。
超过10,000次。
频率
19.44MHz
77.76MHz
106.25MHz
155.52MHz
622.08MHz
19.44MHz
77.76MHz
106.25MHz
155.52MHz
622.08MHz
155.52MHz
622.08MHz
分钟。
典型值。
2.1
3.5
4.1
4.3
6.0
17
30
28
27
40
2.6
2.5
马克斯。
单位
周期抖动均方根
1
ps
周期抖动峰到
PEAK
1
与去耦电容
之间VDD和GND 。
超过10,000次。
ps
集成RMS抖动
2
集成12千赫至20兆赫
4
4
ps
5.相位噪声指标
参数
相
载波
（典型值）
噪音
2
相对的
频率
19.44MHz
106.25MHz
155.52MHz
622.08MHz
@10Hz
-80
-70
-60
-50
@100Hz
-108
-98
-90
-77
@1kHz
-132
-122
-115
-102
@10kHz
-142
-123
-125
-115
@100kHz
-142
-117
-119
-108
单位
dBc的/赫兹
1 ）抖动分析仪：韦夫克雷斯特SIA -3000
2 ）相位噪声系统：安捷伦E5500
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6. CMOS电气特性
参数
输出驱动电流
（高驱动）
输出驱动电流
（标准驱动器）
输出时钟的上升/下降时间
（标准驱动器）
输出时钟的上升/下降时间
（高驱动）
符号
I
OH
I
OL
I
OH
I
OL
条件
V
OH
= V
DD
-0.4V, V
DD
=3.3V
V
OL
= 0.4V, V
DD
= 3.3V
V
OH
= V
DD
-0.4V, V
DD
=3.3V
V
OL
= 0.4V, V
DD
= 3.3V
0.3V 3.0V与15 pF负载
0.3V 3.0V与15 pF负载
分钟。
30
30
10
10
典型值。
马克斯。
单位
mA
mA
mA
mA
2.4
1.2
ns
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7. LVDS电气特性
参数
输出电压差
V
DD
幅度变化
输出高电压
输出低电压
失调电压
偏移幅度变化
关机泄漏
输出短路电流
符号
V
OD
V
OD
V
OH
V
OL
V
OS
V
OS
I
OXD
I
OSD
条件
分钟。
247
-50
典型值。
355
1.4
1.1
1.2
3
±1
-5.7
马克斯。
454
50
1.6
1.375
25
±10
-8
单位
mV
mV
V
V
V
mV
uA
mA
R
L
= 100
（见图）
0.9
1.125
0
V
OUT
= V
DD
或GND
V
DD
= 0V
8. LVDS开关特性
参数
差分时钟上升时间
差分时钟下降时间
LVDS电平测试电路
OUT
符号
t
r
t
f
条件
R
L
= 100
C
L
= 10 pF的
（见图）
分钟。
0.2
0.2
典型值。
0.7
0.7
马克斯。
1.0
1.0
单位
ns
ns
LVDS转换电路测试
OUT
50
C
L
= 10pF的
V
OD
V
OS
V
差异
R
L
= 100
50
C
L
= 10pF的
OUT
OUT
LVDS Transistion时间波形
OUT
0V （差分）
OUT
80%
V
差异
20%
0V
80%
20%
t
R
t
F
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