NTE6508
集成电路
CMOS , 1K静态RAM ( SRAM )
描述:
该NTE6508是一个16引脚DIP封装类型1024× 1全静态CMOS RAM捏造使用
自对准硅栅技术。同步电路设计技术被用来acheive
高性能和低功耗运行。片上提供了用于允许地址锁存器effeci-
耳鼻喉科接口与微处理器系统。该数据输出缓冲器可以被强制为高阻抗
ANCE状态在扩展内存阵列中使用。
产品特点:
D
低功耗待机: 50μW最大
D
低功耗工作:为20mW / MHz的最大
D
快速存取时间: 300ns的最大
D
数据保存: 2V敏
D
TTL兼容输入/输出
D
高输出驱动: 2 TTL负载
D
片内地址寄存器
绝对最大额定值:
(注1 )
电源电压。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 7V
输入,输出或I / O电压。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 GND -0.3V到V
CC
+0.3V
典型的降额因子。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 1.5毫安/ MHz的增加,我
CC ( OP )
门数。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 1925年盖茨
工作结温。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 175℃
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65 °至+ 150°C
焊接温度(焊接过程中,最多10秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 300℃
注1.强调超过上述“绝对最大额定值” ,可能会造成永久性的损害
到设备。这是在这些或任何其它的应力只评级和装置的操作
超出本规范的业务部门所标明的条件是不是im-
合股。该器件对静电放电敏感的,用户应遵循正确的IC han-
危及周围的程序。
推荐工作条件:
工作电压范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 4.5V至+ 5.5V
工作温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40 °C至+ 85°C
直流电气特性:
V
CC
= 5V
±10%,
T
A
= -40 °C至+ 85°C ,除非另有说明)
参数
待机电源电流
工作电源电流
数据保持电源电流
数据保持电源电压
输入漏电流
输出漏电流
输入电压,低
输入电压,高
输出电压,低
输出电压,高
符号
I
CC (SB)
I
CC ( OP )
I
CC ( DR )
V
CC ( DR )
I
I
I
OZ
V
IL
V
IH
V
OL
V
OH
V
I
= V
CC
或GND ,V
CC
= 5.5V
V
O
= V
CC
或GND ,V
CC
= 5.5V
V
CC
= 4.5V
V
CC
= 5.5V
I
O
= 3.2毫安,V
CC
= 4.5V
I
O
= -0.4mA ,V
CC
= 4.5V
测试条件
I
O
= 0, V
I
= V
CC
或GND ,V
CC
= 5V
E = 1MHz时,我
O
= 0, V
I
= V
CC
或GND ,
V
CC
= 5.5V ,注2
V
CC
= 2V ,我
O
= 0, V
I
= V
CC
或GND ,
E = V
CC
民
–
–
–
2.0
–1.0
–1.0
–0.3
V
CC
–2
–
2.4
典型值
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
最大
10
4
10
–
+1.0
+1.0
+0.8
V
CC
+0.3
0.4
–
单位
A
mA
A
V
A
A
V
V
V
V
注2:典型的降额1.5毫安/ MHz的增加,我
CC ( OP )
.
电容:
(T
A
= + 25°C ,除非另有规定)
参数
输入电容
输出电容
符号
C
I
C
O
测试条件
F = 1MHz时,所有的测量都REF-
所引用,到设备GND
民
–
–
典型值
–
–
最大
6
10
单位
pF
pF
AC电气特性:
V
CC
= 5V
±10%,
T
A
= -40 °C至+ 85°C ,除非另有说明)
参数
芯片使能存取时间
地址访问时间
芯片使能输出使能时间
写使能输出禁止时间
芯片使能输出禁止时间
芯片使能脉冲宽度负
芯片使能脉冲宽度正
地址建立时间
地址保持时间
数据建立时间
数据保持时间
芯片使能写脉冲建立时间
芯片使能写脉冲保持时间
写使能脉冲宽度
读或写周期时间
符号
TELQV
tAVQV
TELQX
TWLQZ
TEHQZ
tELEH
tEHEL
塔维尔
tELAX
测试条件
注3 ,注5
注3 ,注5 , &注6
注4 ,注5
注4 ,注5
注4 ,注5
注3 ,注5
注3 ,注5
注3 ,注5
注3 ,注5
民
–
–
5
–
–
300
100
0
50
110
0
130
130
130
350
典型值
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
最大
300
300
160
160
160
–
–
–
–
–
–
–
–
–
–
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
TDVWH注3 ,注5
TWHDX注3 ,注5
TWLEH
TELWH
TELEL
注3 ,注5
注3 ,注5
注3 ,注5
TWLWH注3 ,注5
注3.输入脉冲电平: 0.8V至V
CC
-2V ;输入上升和下降时间: 5ns的(最大) ;输入和输出
时序参考电平: 1.5V ;输出负载: 1 TTL门当量,C
L
= 50pF的(分) - 对C
L
大于50pF的,存取时间是由每pF的0.15ns降额。
注4:经测试,在最初的设计和后主要的设计变化。
注5 V
CC
= 4.5V和5.5V 。
注6. TAVQV = TELQV +塔维尔。
读周期真值表:
输入
时间基准
–1
0
1
2
3
4
5
H
L
L
E
H
W
X
H
H
H
H
X
H
A
X
V
X
X
X
X
V
D
X
X
X
X
X
X
X
输出
Q
Z
Z
X
V
V
Z
Z
功能
内存被禁用
周期开始时,地址被锁存
输出使
输出有效
阅读有成就
准备进入下一个周期(同-1 )
周期结束,下一个周期开始(同为0 )
在NTE6508读周期,地址信息被锁存到片内寄存器在下降
的E边缘(T = 0)。最小地址建立时间和保持时间的要求必须得到满足。所需的后
保持时间,该地址可能会改变状态,而不会影响设备的运行。在时间(T = 1)
数据输出变为启用状态;然而,该数据是无效的,直到在时间(T = 2)。则W必须
保持高电平的读出周期。后的输出数据已经被读出, E可以返回高(T = 3)。这
将禁用芯片和输出缓冲器强制到一个高阻抗状态。后所需的高é
时间( TEHEL )的RAM是准备进行下一个存储器周期(T = 4)。
写周期真值表:
输入
时间基准
–1
0
1
2
3
4
5
H
L
L
H
X
X
E
H
W
X
X
A
X
V
X
X
X
X
V
D
X
X
X
V
X
X
X
输出
Q
Z
Z
Z
Z
Z
Z
Z
功能
内存被禁用
周期开始时,地址被锁存
写周期开始
数据被写入
写完成
准备进入下一个周期(同-1 )
周期结束,下一个周期开始(同为0 )
写周期是由E的下降沿而锁存该地址信息到上发起
片内寄存器。该周期的写部分被定义为E和W以低同时进行。
W可以提供的循环中去低随时随地的写使能脉冲建立时间( TWLEH )是
会见。周期的写入部分由E或W.数据建立的第一个上升沿终止
和保持时间必须参考该终止信号。
如果要执行的一系列连续的写周期,将W线可以保持低电平,直到所有期望的
位置已被写入。当使用这种方法时,数据的建立时间和保持时间必须参考
到大肠杆菌的上升沿通过定位在W脉冲在电子低的时间内的不同时间( TELEH )
各种类型的写入周期可被执行。
如果E为低的时间( TELEH )大于在W脉冲( TWLWH )加上一个输出使能时间( TELQX )
被执行的组合读写周期。数据可以被修改的时间不确定数目能很好地协同
荷兰国际集团的任何写周期( TELEH ) 。的数据输入和数据输出引脚可以连接在一起与使用
常见的I / O数据总线结构。当使用这种方法在RAM允许一个最小的一个输出的
禁用时间( TWLQZ )后W变为低电平施加输入数据到总线之前。这将确保
输出缓冲器都没有活性。