1996年3月
NDS8839H
互补MOSFET半桥
概述
这些互补MOSFET半桥器件
采用飞兆半导体专有的,高密度生产,
DMOS技术。这非常高密度的过程
特别是针对减少通态电阻,
出色的开关性能,并能承受高能量
脉冲雪崩和换向模式。这些
器件特别适用于低电压半桥
应用程序或当两个门都是CMOS的应用
连接在一起。
特点
N通道5.7A , 30V ,R
DS ( ON)
=0.045
@ V
GS
=10V.
P沟道-4.0A , -30V ,R
DS ( ON)
=0.09
@ V
GS
=-10V.
高密度电池设计还是非常低R
DS ( ON)
.
高功率和电流处理能力的一种广泛使用的
表面贴装封装。
匹配的一对平等的输入电容和功率能力
.
________________________________________________________________________________
V+
P-门
VOUT
VOUT
VOUT
-Gate
VOUT
V-
绝对最大额定值
符号
V
DSS
V
GSS
I
D
P
D
参数
漏源电压
栅源电压
漏电流 - 连续
- 脉冲
最大功率耗散
(单个设备)
T
J
,T
英镑
T
A
= 25 ° C除非另有说明
N沟道
30
20
(注1A & 2 )
P沟道
-30
-20
-4
15
2.5
1.2
1
-55到150
单位
V
V
A
5.7
15
(注1A )
(注1B )
(注1C )
W
工作和存储温度范围
°C
热特性
R
θ
JA
R
θ
JC
热阻,结到环境
(单个设备)
热阻,结到外壳
(单个设备)
50
(注1A )
° C / W
° C / W
25
(注1 )
1997仙童半导体公司
NDS8839H牧师A1
电气特性
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
符号
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
参数
打开 - 延迟时间
打开 - 上升时间
打开 - 关闭延迟时间
打开 - 关闭下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
N沟道
V
DS
= 10 V,
I
D
= 4.0 A,V
GS
= 10 V
P沟道
V
DS
= -10 V,
I
D
= -4.0 A,V
GS
= -10 V
条件
N沟道
V
DD
= 10 V,I
D
= 1 A,
V
根
= 10 V ,R
根
= 6
P沟道
V
DD
= -10 V,I
D
= -1 A,
V
根
= -10 V ,R
根
= 6
TYPE
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
漏源二极管的特性和最大额定值
I
S
V
SD
t
rr
最大连续漏源二极管的正向电流
漏源二极管的正向电压
反向恢复时间
V
GS
= 0 V,I
S
= 2.0 A
V
GS
= 0 V,I
S
= -2.0 A
N沟道
P沟道
(注2 )
(注2 )
民
典型值
12
9
13
20
29
40
10
19
19
21
2.1
3.1
5.2
5.1
最大
20
20
30
25
50
50
20
40
30
30
单位
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
开关特性
(注2 )
2
-2
0.9
-0.85
1.2
-1.2
100
100
A
V
ns
N沟道
P沟道
N沟道
P沟道
N沟道
V
GS
= 0 V,I
F
= 2.0 A ,二
F
/ DT = 100 A / μs的
P沟道
V
GS
= 0 V,I
F
= -2.0 ,二
F
/ DT = 100 A / μs的
注意事项:
1. R
θ
JA
在这里的情况下热参考被定义为漏极引脚的焊锡安装表面的结到壳体和壳到环境的热阻之和。
θ
JC
被担保
设计,同时
θ
CA
是通过用户的电路板的设计来确定。
P
D
(
t
) =
R
θ
J A
t
)
(
T
J
T
A
=
R
θ
J·C
R
θ
CA
t
)
+
(
T
J
T
A
=
I
2
(
t
) ×
R
DS
(
ON
)
D
T
J
典型
θ
JA
使用上4.5"x5" FR- 4 PCB的静止空气环境下图所示的电路板布局:
a. 50
o
装在一个1在C / W的时
2
垫2盎司cpper的。
b. 105
o
安装在一个0.04 C / W的时
2
垫2盎司cpper的。
。在2盎司cpper垫安装在0.006时, 125℃ / W 。
o
2
1a
1b
1c
在信纸尺寸的纸张1 : 1规模
2.脉冲测试:脉冲宽度< 300μS ,占空比< 2.0 % 。
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