文档编号
TT4-EA-14177
修订版。
2
产品标准
MOS FET
MTM231232LBF
MTM231232LBF
硅P沟道MOSFET
切换
MTM76123在SMini3型封装
特点
低漏源导通状态电阻: RDS ( ON) (典型值) 。为40μm
( VGS = -4 V)
低驱动电压: 2.5 V驱动器
无卤/符合RoHS标准
(欧盟RoHS / UL - 94 V - 0 / MSL : Level 1标准)
单位:mm
2.0
0.3
3
0.15
1
2
1.25
2.1
0.9
(0.65)
(0.65)
1.3
标记符号:
BL
包装
浮雕式(热压密封) : 3 000个/卷(标准)
1.门
2.源
3.排水
绝对最大额定值大= 25
C
参数
漏源极电压
栅极至源极电压
漏电流
漏电流(脉冲)
*1
总功耗
*2
通道温度
存储温度范围
符号
VDS
VGS
ID
IDP
PD
总胆固醇
TSTG
等级
-20
10
-3
-16
500
150
-55到+150
单位
V
V
A
A
mW
C
C
松下
JEITA
CODE
SMini3-G1-B
SC-70
SOT-323
内部连接
3
D
注* 1脉冲宽度
10
s,
占空比
1 %
* 2在40 mm测量在陶瓷基板
38 mm
0.1 mm.
绝对最大额定值PD无散热片应进行150毫瓦。
G
1
S
2
引脚名称
1.门
2.源
3.排水
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成立时间: 2012-04-21
修订
: 2013-03-07
文档编号
TT4-EA-14177
修订版。
2
产品标准
MOS FET
MTM231232LBF
电气特性TA = 25
C
3
C
参数
漏源击穿电压
零栅极电压漏极电流
栅极 - 源极漏电流
门源阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
*1
输入电容
输出电容
反向传输电容
导通延迟时间
*2
上升时间
*2
打开-O FF延迟时间
*2
下降时间
*2
*1
符号
VDSS
IDSS
IGSS
VTH
条件
民
-20
典型值
最大
-1
10
-1.3
55
70
单位
V
A
A
V
m
S
ID = -1毫安, VGS = 0 V
VDS = -20 V, VGS = 0 V
VGS =
8
V, VDS = 0V
ID = -1毫安, VDS = -10 V
RDS(on)1
ID = -1时, VGS = -4 V
RDS(on)2
ID = -0.5 A, VGS = -2.5 V
| YFS |
ID = -1时, VDS = -10 V , F = 1千赫
西塞
VDS = -10 V , VGS = 0 V
科斯
F = 1 MHz的
CRSS
TD (上) VDD = -10 V , VGS = 0 -4 V
ID = -1
tr
TD (关闭) VDD = -10 V , VGS = -4至0 V
ID = -1
tf
-0.4
-0.85
40
45
1 000
120
120
25
25
120
70
3.5
pF
ns
ns
注:测量方法是基于日本工业标准JIS C 7030测量方法的晶体管。
* 1脉冲测试:脉冲宽度
300
s,
占空比
2 %
* 2测量电路开机延迟时间/上升时间/关断延迟时间/下降时间
第2 6
成立时间: 2012-04-21
修订
: 2013-03-07
文档编号
TT4-EA-14177
修订版。
2
产品标准
MOS FET
MTM231232LBF
* 2测量电路开机延迟时间/上升时间/关断延迟时间/下降时间
VDD = -10 V
ID = -1
RL = 10
0V
-4 V
PW = 10
s
特区
1 %
10 %
90 %
90 %
10 %
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成立时间: 2012-04-21
修订
: 2013-03-07