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MCP3204/3208
2.7V 4通道/ 8通道12位A / D转换器
与SPI
串行接口
特点
12位分辨率
± 1 LSB DNL最大值
± 1 LSB(最大值) INL ( MCP3204 / 3208 -B )
± 2 LSB INL最大值( MCP3204 / 3208 -C )
4 ( MCP3204 )或8 ( MCP3208 )输入通道
模拟输入可编程为单端或
伪差分对
片上采样和保持
SPI
串行接口(模式0,0和1,1)的
单电源供电: 2.7V - 5.5V
100ksps的最大值。采样速率在V
DD
= 5V
50ksps最高。采样速率在V
DD
= 2.7V
低功耗CMOS技术
- 500 nA的典型待机电流,最大2μA 。
- 400 μA(最大值) 。在5V工作电流
工业级温度范围: -40°C至+ 85°C
提供PDIP , SOIC和TSSOP封装
封装类型
PDIP , SOIC , TSSOP
CH0
CH1
CH2
CH3
NC
NC
DGND
1
2
3
4
5
6
7
14
13
12
11
10
9
8
V
DD
V
REF
AGND
CLK
D
OUT
D
IN
CS / SHDN
MCP3204
PDIP , SOIC
CH0
CH1
CH2
CH3
CH4
CH5
CH6
CH7
1
2
3
4
5
6
7
8
16
15
14
13
12
11
10
9
V
DD
V
REF
AGND
CLK
D
OUT
D
IN
CS / SHDN
DGND
MCP3208
应用
传感器接口
过程控制
数据采集
电池供电系统
功能框图
V
DD
V
REF
CH0
CH1
V
SS
描述
Microchip Technology Inc.的MCP3204 / 3208
设备是逐次逼近的12位模拟
登录到数字(A / D)转换器与主板上的样本
和保持电路。该MCP3204是可编程的,以
提供两个伪差分输入对或4赎罪
GLE端输入。 MCP3208可被编程为
提供4组伪差分输入对或8赎罪
GLE端输入。微分非线性( DNL )为
在±1 LSB ,并且积分非线性规定( INL )为
在± 1 LSB ( MCP3204 / 3208 -B )和± 2 LSB提供
( MCP3204 / 3208 -C )的版本。与通信
设备使用一个简单的串行接口进行相容
IBLE与SPI协议。该设备能够
高达100ksps的转换率。在MCP3204 / 3208
器件工作在较宽的电压范围( 2.7V -
5.5V ) 。低电流设计允许与典型操作
CAL待机只有500nA的主动电流和
320μA ,分别。该MCP3204提供14引脚
PDIP , 150mil SOIC和TSSOP封装,以及
MCP3208采用16引脚PDIP和SOIC封装
老少皆宜。
输入
通道
MUX
DAC
比较
CH7*
样品
HOLD
控制逻辑
12位SAR
注册
CS / SHDN
IN
CLK
D
OUT
*注: 5-7通道上提供MCP3208仅
1999 Microchip的技术公司
初步
DS21298B第1页
MCP3204/3208
1.0
1.1
电动
特征
最大额定值*
引脚功能表
名字
V
DD
DGND
AGND
CH0-CH7
CLK
D
IN
D
OUT
CS / SHDN
V
REF
功能
+ 2.7V至5.5V电源
数字地
模拟地
模拟输入
串行时钟
在串行数据
串行数据输出
片选/关断输入
参考电压输入
V
DD
.........................................................................7.0V
所有输入和输出w.r.t. V
SS
...... -0.6V到V
DD
+0.6V
储存温度..........................- 65°C至+ 150°C
环境温度。电源采用......- 65 ° C至+ 125°C
引线焊接温度( 10秒) .. + 300℃
所有引脚的ESD保护................................... >为4kV
*注:超出上述“绝对最大值” ,可能
对器件造成永久性损坏。这是一个值仅为
该装置的这些或任何其他条件的功能操作
以上这些在本规范的运作上市表明是
不是暗示。暴露在绝对最大额定值条件下,其围
消耗臭氧层物质可能会影响器件的可靠性。
电气特性
所有参数均适用于V
DD
= 5V, V
SS
= 0V, V
REF
= 5V ,T
AMB
= -40 ° C至+ 85 ° C,F
样品
= 100ksps的和
f
CLK
= 20*f
样品
中,除非另有说明。
参数
转化率
转换时间
模拟输入采样时间
吞吐率
DC精度
决议
积分非线性
微分非线性
偏移误差
增益误差
动态性能
总谐波失真
信噪比和失真
( SINAD )
无杂散动态
范围
参考输入
电压范围
漏电流
模拟输入
输入电压范围为
CH0 - CH7单端
模式
输入电压范围为IN +中
伪差分模式
在输入电压范围为IN-
伪差分模式
漏电流
V
SS
IN-
V
SS
-100
0.001
V
REF
V
REF
+ IN-
V
SS
+100
±1
mV
A
V
0.25
100
0.001
V
DD
150
3
V
A
A
注2
CS = V
DD
= 5V
-82
72
86
dB
dB
dB
V
IN
= 0.1V至4.9V@1kHz
V
IN
= 0.1V至4.9V@1kHz
V
IN
= 0.1V至4.9V@1kHz
INL
DNL
12
±0.75
±1
±0.5
±1.25
±1.25
±1
±2
±1
±3
±5
最低位
最低位
最低位
最低位
MCP3204/3208-B
MCP3204/3208-C
无漏失码
温度
t
CONV
t
S
AMPLE
f
样品
1.5
100
50
12
时钟
周期
时钟
周期
kSPS时
kSPS时
V
DD
= V
REF
= 5V
V
DD
= V
REF
= 2.7V
符号
分钟。
典型值。
马克斯。
单位
条件
DS21298B第2页
初步
1999 Microchip的技术公司
MCP3204/3208
电气特性(续)
所有参数均适用于V
DD
= 5V, V
SS
= 0V, V
REF
= 5V ,T
AMB
= -40 ° C至+ 85 ° C,F
样品
= 100ksps的和
f
CLK
= 20*f
样品
中,除非另有说明。
参数
模拟输入(待续)
开关导通电阻
采样电容
数字输入/输出
数据编码格式
高电平输入电压
低电平输入电压
高电平输出电压
低电平输出电压
输入漏电流
输出漏电流
引脚电容
(所有输入/输出)
时序参数
时钟频率
时钟高电平时间
时钟低电平时间
CS下降至第一个CLK崛起
EDGE
数据输入建立时间
数据输入保持时间
CLK下降到输出数据有效
CLK下降到输出使能
CS上升到输出禁止
CS禁用时间
D
OUT
上升时间
D
OUT
下降时间
电源要求
工作电压
工作电流
待机电流
V
DD
I
DD
I
DDS
2.7
320
225
0.5
5.5
400
2
V
A
A
V
DD
= V
REF
= 5V ,D
OUT
卸载
V
DD
= V
REF
= 2.7V ,D
OUT
卸载
CS = V
DD
= 5.0V
f
CLK
t
HI
t
LO
t
SUCS
t
SU
t
HD
t
DO
t
EN
t
DIS
t
CSH
t
R
t
F
500
100
100
250
250
100
50
50
200
200
100
2.0
1.0
兆赫
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
见测试电路,图1-2
(注1 )
见测试电路,图1-2
(注1 )
见测试电路,图1-2
见测试电路,图1-2
见测试电路,图1-2
V
DD
= 5V (注3)
V
DD
= 2.7V (注3)
V
IH
V
IL
V
OH
V
OL
I
LI
I
LO
C
IN
, C
OUT
-10
-10
4.1
0.4
10
10
10
直接二进制
0.7 V
DD
0.3 V
DD
V
V
V
V
A
A
pF
I
OH
= -1mA ,V
DD
= 4.5V
I
OL
= 1mA时, V
DD
= 4.5V
V
IN
= V
SS
或V
DD
V
OUT
= V
SS
或V
DD
V
DD
= 5.0V (注1 )
T
AMB
= 25 ° C,F = 1兆赫
1K
20
pF
参见图4-1
参见图4-1
符号
分钟。
典型值。
马克斯。
单位
条件
注1 :
这个参数由性能保证,而不是100 %测试。
注2 :
请参阅相关的线性性能,以V曲线
REF
的水平。
注3 :
因为采样电容终将释放电荷,因此低于10kHz的有效时钟速率可能会影响线性
性能,尤其是在高温下。参见第6.2节以获取更多信息。
1999 Microchip的技术公司
初步
DS21298B第3页
MCP3204/3208
t
CSH
CS
t
SUCS
t
HI
CLK
t
SU
D
IN
t
HD
t
LO
在MSB
t
EN
t
DO
空位
MSB OUT
t
R
t
F
t
DIS
最低位
D
OUT
图1-1:
串行接口时序。
负载电路在t
R
, t
F
,
t
DO
1.4V
负载电路在t
DIS
和T
EN
测试点
V
DD
t
DIS
波形2
V
DD
/2
3K
D
OUT
测试点
D
OUT
3K
100pF
t
EN
波形
t
DIS
波形1
C
L
= 100pF的
V
SS
电压波形吨
R
, t
F
电压波形吨
EN
D
OUT
V
OH
V
OL
CS
1
CLK
D
OUT
2
3
4
B11
t
R
t
F
t
EN
电压波形吨
DO
电压波形吨
DIS
CS
CLK
D
OUT
波形1 *
V
IH
90%
t
DO
D
OUT
T
DIS
D
OUT
波形2
*波形1是内部条件的输出
系统蒸发散使得该输出为高,除非显示
由输出控制禁止。
波形2是内部条件的输出
系统蒸发散,使得输出是低的,除非禁用
由输出控制。
10%
图1-2:
测试电路。
DS21298B第4页
初步
1999 Microchip的技术公司
MCP3204/3208
2.0
典型性能特性
注意:
除非另有说明,V
DD
= V
REF
= 5V, V
SS
= 0V ,女
样品
= 100ksps的,女
CLK
= 20* f
样品
,T
A
= 25°C
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
-1.0
0
25
50
75
100
125
150
负INL
正INL
2.0
1.5
1.0
V
DD
= V
REF
= 2.7V
INL ( LSB )
INL ( LSB )
正INL
0.5
0.0
-0.5
-1.0
-1.5
-2.0
0
10
20
30
40
50
60
70
80
负INL
采样率( ksps的)
采样率( ksps的)
图2-1:
率。
积分非线性( INL ) - 采样
图2-4:
积分非线性( INL ) - 采样
速率(V
DD
= 2.7V).
3.0
2.5
2.0
1.5
1.0
0.5
0.0
-0.5
-1.0
-1.5
-2.0
-2.5
-3.0
0
1
2.0
1.5
1.0
正INL
正INL
INL ( LSB )
INL ( LSB )
0.5
0.0
-0.5
-1.0
-1.5
-2.0
负INL
负INL
2
3
4
5
6
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
V
REF
(V)
V
REF
(V)
图2-2:
积分非线性( INL )与V
REF
.
图2-5:
(V
DD
= 2.7V).
积分非线性( INL )与V
REF
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
-1.0
0
512
1024
1536
2048 2560
3072 3584
4096
1.0
0.8
0.6
0.4
0.2
0.0
-0.2
-0.4
-0.6
-0.8
-1.0
0
512
1024 1536
2048
2560
3072 3584
4096
V
DD
= V
REF
= 2.7V
F
样品
= 50ksps
INL ( LSB )
数字码
INL ( LSB )
数字码
图2-3:
积分非线性( INL )与代码
(代表部分) 。
图2-6:
积分非线性( INL )与代码
(典型部分,V
DD
= 2.7V).
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电话:13910052844(微信同步)
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