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K4S280832B
引脚配置
( TOP VIEW )
V
DD
DQ0
V
DDQ
N.C
DQ1
V
SSQ
N.C
DQ2
V
DDQ
N.C
DQ3
V
SSQ
N.C
V
DD
N.C
WE
CAS
RAS
CS
BA0
BA1
A10/AP
A0
A1
A2
A3
V
DD
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
54
53
52
51
50
49
48
47
46
45
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
V
SS
DQ7
V
SSQ
N.C
DQ6
V
DDQ
N.C
DQ5
V
SSQ
N.C
DQ4
V
DDQ
N.C
V
SS
N.C / RFU
DQM
CLK
CKE
N.C
A11
A9
A8
A7
A6
A5
A4
V
SS
CMOS SDRAM
54Pin TSOP (II)的
( 400mil X 875mil )
(0.8毫米针距)
引脚功能说明
CLK
CS
名字
系统时钟
芯片选择
输入功能
活跃在正边沿采样所有输入。
禁用或启用的设备操作,除了用屏蔽或使所有输入
CLK , CKE和DQM
面罩系统时钟从下一个时钟周期冻结操作。
CKE应该启用的至少一个周期之前的新命令。
禁止输入缓冲器的电源关闭待机。
行/列地址被复用在相同的针。
行地址: RA
0
RA
11
,列地址: CA
0
CA
9
选择bank中的行地址锁存器的时间被激活。
在列地址锁存器时选择的读/写的银行。
锁存器与RAS低CLK的正边沿行地址。
让行存取&预充电。
闩锁与中科院低CLK的正边沿列地址。
启用列的访问。
允许写操作和行预充电。
锁存来自中科院,我们开始积极的数据。
使得数据输出高阻,T
SHZ
后的时钟和掩模的输出。
块中的数据输入时, DQM活跃。
数据输入/输出复用在相同的针。
电源和地的输入缓冲器和核心逻辑。
对于输出缓冲隔离电源和接地,以提供改进的噪音
免疫力。
该引脚建议留在设备上的连接。
CKE
时钟使能
A
0
~ A
11
BA
0
BA
1
RAS
CAS
WE
DQM
DQ
0
~
7
V
DD
/V
SS
V
DDQ
/V
SSQ
N.C / RFU
地址
银行选择地址
行地址选通
列地址选通
写使能
数据输入/输出面膜
数据输入/输出
电源/接地
数据输出电源/接地
无连接
/保留为将来使用
修订版0.0 1999年8月
K4S280832B
绝对最大额定值
参数
任何引脚相对于VSS的电压
在V电压
DD
供应相对于VSS
储存温度
功耗
短路电流
符号
V
IN
, V
OUT
V
DD
, V
DDQ
T
英镑
P
D
I
OS
价值
-1.0 ~ 4.6
-1.0 ~ 4.6
-55 ~ +150
1
50
CMOS SDRAM
单位
V
V
°C
W
mA
注意:
如果"ABSOLUTE最大RATINGS"超出可能会造成永久性损坏设备。
功能操作应仅限于推荐工作条件。
暴露于超过推荐的电压较高的时间过长可能会影响器件的可靠性。
直流工作条件
推荐工作条件(电压参考V
SS
= 0V ,T
A
= 0 70℃ )
参数
电源电压
输入逻辑高电压
输入逻辑低电压
输出逻辑高电平
输出逻辑低电压
输入漏电流
符号
V
DD
, V
DDQ
V
IH
V
IL
V
OH
V
OL
I
LI
3.0
2.0
-0.3
2.4
-
-10
典型值
3.3
3.0
0
-
-
-
最大
3.6
V
DD
+0.3
0.8
-
0.4
10
单位
V
V
V
V
V
uA
1
2
I
OH
= -2mA
I
OL
= 2毫安
3
注意事项:
1. V
IH
(最大值) = 5.6V AC.The过冲电压的持续时间是
3ns.
2. V
IL
(分钟) = -2.0V交流。下冲电压持续时间
3ns.
3.任何输入0V
V
IN
V
DDQ
,
输入漏电流包括高阻输出漏所有双向缓冲器,三态输出。
电容
时钟
(V
DD
= 3.3V ,T
A
= 23 ° C,F = 1MHz时, V
REF
=1.4V
±
200毫伏)
符号
C
CLK
C
IN
C
添加
C
OUT
2.5
2.5
2.5
4.0
最大
4.0
5.0
5.0
6.5
单位
pF
pF
pF
pF
1
2
2
3
RAS , CAS,WE , CS , CKE , DQM
地址
DQ
0
? DQ
7
注意事项:
1. -75唯一指定的3.5pF的最大值
2. -75只指定3.8pF的最大值
3. -75只指定6.0pF的最大值
修订版0.0 1999年8月
K4S280832B
DC特性
(推荐的工作条件,除非另有说明,T
A
= 0 70℃ )
参数
对称
BOL
突发长度= 1
t
RC
t
RC
(分钟)
I
O
= 0毫安
CKE
V
IL
(最大值),叔
CC
= 10ns的
CKE & CLK
V
IL
(最大值),叔
CC
=
CKE
V
IH
(分钟) , CS
V
IH
(分钟) ,T
CC
= 10ns的
输入信号时为20ns一次改变
测试条件
-75
120
CMOS SDRAM
VERSION
-80
120
-1H
-1L
-10
单位
e
工作电流
(一银行活动)
预充电待机电流在
掉电模式
I
CC1
I
CC2
P
I
CC2
PS
I
CC2
N
110 110 110
1
1
20
mA
1
mA
预充电待机电流在
非掉电模式
CKE
V
IH
(分钟) , CLK
V
IL
(最大值),叔
CC
=
I
CC2
NS
输入信号是稳定的
I
CC3
P
I
CC3
PS
I
CC3
N
I
CC3
NS
CKE
V
IL
(最大值),叔
CC
= 10ns的
CKE & CLK
V
IL
(最大值),叔
CC
=
CKE
V
IH
(分钟) , CS
V
IH
(分钟) ,T
CC
= 10ns的
输入信号时为20ns一次改变
CKE
V
IH
(分钟) , CLK
V
IL
(最大值),叔
CC
=
输入信号是稳定的
I
O
= 0毫安
第一阵
4Banks激活
t
CCD
= 2CLKs
t
RC
t
RC
(分钟)
CKE
0.2V
C
L
mA
7
5
5
30
20
mA
mA
在活动待机电流
掉电模式
在活动待机电流
非掉电模式
(一银行活动)
mA
工作电流
(突发模式)
刷新当前
自刷新电流
I
CC4
150
145
125 125 125
mA
1
I
CC5
I
CC6
220
220
210 210 210
1.5
800
mA
mA
uA
2
3
4
注意事项:
1.测量与产出开放。
2.刷新周期是64毫秒。
3. K4S280832B -TC **
4. K4S280832B -TL **
5.除非另有说明,输入摆动IeveI是CMOS (Ⅴ
IH
/V
IL
=V
DDQ
/V
SSQ )
修订版0.0 1999年8月
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