MIL-PRF-19500/382C
4.4.2.2 B组的检查, ( JAN , JANTX ,并JANTXV ) 。 1 /电气端点应当按照与A组,小组
2 ,在本文中。
步
1
法
1039
条件
稳态寿命:测试条件B 340小时, V
CB
= -8 V DC ( 2N2944A ) ,V
CB
= -16 V直流电( 2N2945A )
V
CB
= -28 V直流电( 2N2946A ) ,调整以达到牛逼
J
= 150
C最小。没有设备上的散热片应
允许的。
N = 45的设备, C = 0 。
步骤1的稳态寿命试验应延长到1000小时每个模具设计。样品应
从晶圆很多曾经12个月晶圆生产的选择,但是, B组不得要求
一次比任何单一晶圆很多。 N = 45 , C = 0 。
高温寿命(非经营性) ,T
A
= +200
C. N = 22 , C = 0 。
2
1039
3
1032
可用于每个步骤1 /分离样品。在B组故障的情况下,制造商可能会拉一个新样品在
无论从失败的组件很多,或从其他组件很多来自相同晶片两倍大小。如果新的“集结地”
期权被行使,则没有装配大量应报废。
4.4.2.3 B组样本的选取。从B组检验样本选择应满足以下要求:
a.
对于JAN , JANTX ,并JANTXV样品应随机从最低3晶片选择(或从每个晶圆中
该地段)从每个晶圆批次。对于JANS ,样品应该从每个检验批选择。见MIL -PRF- 19500 。
必须从检验批已提交并通过A组的亚组2 ,符合选择
检查。当最后的引线末端焊锡容易氧化电镀任何在高温下,样品
用于寿命试验(子群B4和B5为JANS , B组为JAN , JANTX和JANTXV )之前,可以在拉
应用程序的最终铅光洁度。
b.
4.4.3 C组检验。 C组检验应按照与亚组规定的条件下进行
测试在表VII MIL-PRF- 19500的,和4.4.3.1 ( JANS )和4.4.3.2 ( JAN , JANTX和JANTXV )用于本发明的C组的测试。
电气测量(终点)和三角洲要求应符合A组,分组2和4.5.6于此。
4.4.3.1 C组检验, MIL -PRF- 19500的表七( JANS ) 。
小组
C2
C6
法
2036
1037
条件
测试条件E.
间歇工作寿命(抽样计划) ; VCB = -8 V DC ( 2N2944A ) , VCB = -16 V直流电( 2N2945A )
VCB = -28 V直流电( 2N2946A ) TJ = 150
C.没有散热片或强制风冷设备上。
4.4.3.2 C组检验,表MIL -PRF- 19500的七( JAN , JANTX ,并JANTXV ) 。
小组
C2
C6
法
2036
1037
条件
测试条件E.
不适用
4.4.3.3 C组检验样本的选取。样品C组亚组应随机选择从任意很多
含采购到被提交并通过A组相同规格的意图封装类型和引脚抛光
测试一致性检查。使用包含在预定封装类型单一设备类型应为一组测试
被视为与该小组的规定。
检查4.5方法。检验方法应当在适当的表格中的规定和以下。
4.5.1输入电容。该试验应符合MIL -STD- 750方法3240进行,除了输出
电容器将被省略。
4.5.2发射极到集电极击穿电压。试验方法应符合MIL -STD- 750方法3011 ,
条件D ,所不同的是,以集电极和晶体管的发射极的所有引用应互换。
4.5.3正向电流传输比(反连接) 。试验方法应符合MIL -STD-的方法3076
750 ,不同之处在于,以集电极和晶体管的发射极的所有引用应互换。然后:
h
FE
( INV ) = I
E
/ I
B
4.5.4发射极到集电极偏置电压。该晶体管须在图2的电路进行测试的基极电流应
调整到指定的值。在发射极和集电极之间的电压然后必须用电压表具有测量
输入阻抗足够高,减半它不测量的要求精度内改变所测量的值。
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