IXGN50N120C3H1
符号
测试条件
(T
J
= 25 ° C,除非另有规定编)
g
fs
C
IES
C
OES
C
水库
Q
g
Q
ge
Q
gc
t
D(上)
t
ri
E
on
t
D(关闭)
t
fi
E
关闭
t
D(上)
t
ri
E
on
t
D(关闭)
t
fi
E
关闭
R
thJC
R
thCK
感性负载,T
J
= 125°C
I
C
= 40A ,V
GE
= 15V
V
CE
= 0.5
V
CES
, R
G
= 2Ω
注2
感性负载,T
J
= 25°C
I
C
= 40A ,V
GE
= 15V
V
CE
= 0.5
V
CES
, R
G
= 2Ω
注2
I
C
= 50A ,V
GE
= 15V, V
CE
= 0.5
V
CES
I
C
= 40A ,V
CE
= 10V ,注1
V
CE
= 25V, V
GE
= 0V , F = 1MHz的
特征值
分钟。
典型值。
马克斯。
24
40
4250
455
120
196
24
84
31
36
2.0
123
64
0.63
23
37
3.0
170
315
2.1
0.05
1.2
S
pF
pF
pF
nC
nC
nC
ns
ns
mJ
ns
ns
mJ
ns
ns
mJ
ns
ns
mJ
0.27 ° C / W
° C / W
SOT- 227B miniBLOC ( IXGN )
反向二极管( FRED )
符号
测试条件
(T
J
= 25 ° C,除非另有规定编)
V
F
I
RM
t
rr
R
thJC
I
F
= 50A ,V
GE
= 0V ,说明1
I
F
= 50A ,V
GE
= 0V,
- 二
F
/ DT = 2500A / μs的,V
R
= 800V
T
J
= 125°C
50
75
特征值
分钟。
典型值。
马克斯。
2.1
2.4
2.3
V
V
A
ns
0.30 ° C / W
注意事项:
1.脉冲检验,t
≤
300μS ,占空比D
≤
2%.
2.切换时间&能量损失可能会增加更高的V
CE
(钳) ,T
J
或R
G
.
高级技术信息
本文中所呈现的产品正在开发中。所提供的技术规格衍生
从主观设计的评价,基于先前的知识和经验,并构成
"considered reflection"的预期效果。 IXYS保留更改限制的权利,测试
条件和尺寸,恕不另行通知。
IXYS保留更改限制,试验条件和尺寸的权利。
IXYS MOSFET和IGBT覆盖
4,835,592
由一个或moreof以下美国专利: 4850072
4,881,106
4,931,844
5,017,508
5,034,796
5,049,961
5,063,307
5,187,117
5,237,481
5,381,025
5,486,715
6,162,665
6,259,123 B1
6,306,728 B1
6,404,065 B1
6,534,343
6,583,505
6,683,344
6,727,585
7,005,734 B2
6,710,405 B2 6,759,692
7,063,975 B2
6,710,463
6,771,478 B2 7,071,537
7,157,338B2