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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第343页 > IDT6198L45DB
CMOS静态RAM
64K ( 16K ×4位)
与输出控制
IDT6198S
IDT6198L
集成设备技术有限公司
产品特点:
高速(平等机会和循环时间)
- 军事: 20/25 /35 / 55分之45 / 70 / 85ns (最大)
- 商业: 15/20 /25 /为35ns (最大值)
输出使能(
OE
)引脚可用于增加系统的灵活性
低功耗
JEDEC兼容的引脚排列
电池备份操作-2V的数据保留(L版本
只)
24引脚CERDIP ,高密度的28引脚无引线芯片载体,
和24引脚SOJ
拥有先进的CMOS技术生产
双向数据输入和输出
- 军工产品符合MIL -STD - 883 , B类
描述:
该IDT6198是65536位高速静态RAM奥尔加
的发布为16K X 4.它采用IDT制造的高性
曼斯,高可靠性技术的CMOS 。这种先进的,任何─
先进的技术,结合创新的电路设计技
niques ,提供了用于存储器中的成本效益的方法意向
西伯应用。时序参数已被指定为
满足IDT79R3000 RISC proces-的速度要求
感器。
存取时间快15ns的都可用。该IDT6198
提供了一个低功率待机模式,我
SB1
,它被激活
CS
变为高电平。这种能力显著降低
系统,同时增强了系统的可靠性。低功率
版本( L)还提供了电池备份数据保留capa-
相容性,其中的电路的典型功耗只有30μW时
从2V电池供电。
所有的输入和输出为TTL兼容和操作
从单5V电源。
该IDT6198打包在任何一个24针300万CERDIP ,
28引脚无引线芯片载体或24针J-弯小外形集成电路。
军工级产品的制造符合
MIL -STD - 883 , B类的最新版本,使之成为理想的
适用于军用温度要求苛刻的应用程序的
最高级别的性能和可靠性。
功能框图
A
0
V
CC
GND
65,536-BIT
存储阵列
解码器
A
13
I / O
0
I / O
1
I / O
2
I / O
3
列I / O
输入
数据
控制
CS
WE
OE
IDT标志是集成设备技术,Inc.的注册商标。
2987 DRW 01
军用和商用温度范围
1994
集成设备技术有限公司
1994年5月
6.3
DSC-1010/4
1
IDT6198S/L
CMOS静态RAM 64K ( 16K ×4位)
军用和商用温度范围
销刀豆网络gurations
A
0
A
1
A
2
A
3
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
24
23
22
21
20
19
18
17
16
15
14
13
真值表
(1)
V
CC
A
13
A
12
A
11
A
10
A
9
NC
I / O
3
I / O
2
I / O
1
I / O
0
模式
待机
CS
H
L
L
L
WE
X
H
L
H
OE
X
L
X
H
I / O
高-Z
数据
OUT
数据
IN
高-Z
动力
待机
活跃
活跃
活跃
2987 TBL 02
D24-1
&放大器;
SO24-4
注意:
1. H = V
IH
中,L = V
IL
, X = DO NOT CARE
GND
CS
OE
绝对最大额定值
(1)
符号
V
TERM
等级
Com'l 。
米尔。
-0.5到+7.0
单位
V
端电压-0.5到+7.0
对于
到GND
操作
温度
温度
在偏置
存储
温度
功耗
DC输出
当前
0至+70
-55到+125
-55到+125
1.0
50
WE
2987 DRW 02
DIP / SOJ
顶视图
T
A
A
0
NC
NC
V
CC
NC
指数
-55到+125
-65到+135
-65到+150
1.0
50
°C
°C
°C
W
mA
T
BIAS
T
英镑
P
T
I
OUT
3
2
A
1
A
2
A
3
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
CS
4
5
6
7
8
9
10
11
1
28 27
26
25
24
23
L28-2
22
21
20
19
18
12
13 14 15 16 17
NC
A
13
A
12
A
11
A
10
A
9
I / O
3
I / O
2
I / O
1
2987 DRW 03
OE
GND
NC
WE
I / O
0
注意:
2987 TBL 03
1.强调超过绝对最大上市
额定值可能会导致器件的永久性损坏。这是一个应力
值仅为器件在这些或任何其他功能操作
以上这些条件在此业务部门所标明
规范是不是暗示。暴露在绝对最大额定值
长时间条件下可能会影响其可靠性。
LCC
顶视图
电容
(T
A
= + 25 ° C,F = 1.0MHz的)
符号
C
IN
参数
(1)
输入电容
I / O容量
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
马克斯。
7
7
单位
pF
pF
引脚说明
名字
A
0
–A
13
描述
地址输入
芯片选择
写使能
OUTPUT ENABLE
数据输入/输出
动力
2987 TBL 01
C
I / O
注意:
2987 TBL 04
1,这个参数是由器件特性决定的,而不是
生产测试。
CS
WE
OE
I / O
0
I / O
3
V
CC
GND
6.3
2
IDT6198S/L
CMOS静态RAM 64K ( 16K ×4位)
军用和商用温度范围
建议的直流工作
条件
符号
V
CC
GND
V
IH
V
IL
参数
电源电压
电源电压
输入高电压
输入低电压
分钟。
4.5
0
2.2
–0.5
(1)
推荐工作
温度和电源电压
MAX 。 UNIT
5.5
0
6.0
0.8
V
V
V
V
GRADE
军事
广告
温度
-55 ° C至+ 125°C
0 ° C至+ 70°C
GND
0V
0V
V
CC
5V
±
10%
5V
±
10%
2987 TBL 06
典型值。
5.0
0
注意:
2987 TBL 05
1. V
IL
(分) = -3.0V为脉冲宽度小于20ns ,每循环一次。
DC电气特性
V
CC
= 5.0V
±
10%
IDT6198S
符号
|I
LI
|
|I
LO
|
V
OL
参数
输入漏电流
输出漏电流
输出低电压
测试条件
V
CC
=最大,
V
IN
= GND到V
CC
V
CC
=最大,
CS
= V
IH ,
V
OUT
= GND到V
CC
I
OL
= 10毫安,V
CC
=最小值。
I
OL
= 8毫安,V
CC
=最小值。
V
OH
输出高电压
I
OH
= -4mA ,V
CC
=最小值。
2.4
米尔。
Com'l 。
米尔。
Com'l 。
分钟。
马克斯。
10
5
10
5
0.5
0.4
IDT6198L
分钟。
2.4
马克斯。
5
2
5
2
0.5
0.4
V
2987 TBL 07
单位
A
A
V
DC电气特性
(1)
(V
CC
= 5V
±
10%, V
LC
= 0.2V, V
HC
= V
CC
- 0.2V)
6198S15
6198L15
符号
I
CC1
参数
工作电源
电源电流
CS
= V
IL
,输出打开
V
CC
=最大值, F = 0
(2)
工作动态
当前
CS
= V
IL
,输出打开
V
CC
=最大值,女= F
MAX(2)
备用电源
电流( TTL电平)
CS
V
IH
, V
CC
=最大,
输出开路,女= F
MAX(2)
全部备用电源
电源电流( CMOS
级)
CS
V
HC
,
V
CC
=最大,V
IN
V
HC
or
V
IN
V
LC
, f = 0
(2)
6198S20
6198L20
6198S25
6198L25
米尔。
6198S35
6198L35
6198S45
6198L45
米尔。
6198S55/70/85
6198L55/70/85
Com'l 。
米尔。
动力
Com'l 。米尔。 Com'l 。米尔。 Com'l 。
S
L
S
L
S
L
S
L
100
75
135
125
60
45
20
1.5
100
70
130
115
55
40
15
0.5
105
80
160
130
70
50
25
1.5
100
70
125
105
50
35
15
0.5
Com'l 。米尔。 Com'l 。
单位
mA
105
80
155
120
60
40
20
1.5
100
70
125
105
45
30
15
0.5
105
80
140
115
50
35
20
1.5
105
80
140
110
50
35
20
1.5
105
80
140
110
50
35
20
1.5
I
CC2
mA
I
SB
mA
I
SB1
mA
注意事项:
1.所有值都最大限度地保证值。
2.在f = F
最大
地址和数据输入被循环以1 /吨的读周期的最大频率
RC
。 F = 0表示没有输入线发生变化。
2987 TBL 06
6.3
3
IDT6198S/L
CMOS静态RAM 64K ( 16K ×4位)
军用和商用温度范围
数据保持特性在所有温度范围
(L版本) V
LC
= 0.2V, V
HC
= V
CC
- 0.2V
典型值。
(1)
V
CC
@
符号
V
DR
I
CCDR
t
CDR(3)
t
R(3)
|I
LI
|
(3)
马克斯。
V
CC
@
2.0V
600
150
2
3.0V
900
225
2
单位
V
A
ns
ns
A
2987 TBL 09
参数
V
CC
数据保留
数据保持电流
芯片取消到数据
保留时间
手术恢复时间
输入漏电流
测试条件
米尔。
Com'l 。
分钟。
2.0
0
t
RC(2)
2.0v
10
10
3.0V
15
15
CS
V
HC
V
IN
V
HC
or
V
LC
注意事项:
1. T
A
= +25°C.
2. t
RC
=读周期时间。
3.此参数是由设备特性保证,但未经生产测试。
低V
CC
数据保存波形
数据
保留
模式
V
CC
4.5V
t
CDR
V
DR
≥2V
4.5V
t
R
V
IH
V
DR
2987 DRW 04
CS
V
IH
AC测试条件
输入脉冲电平
输入上升/下降时间
输入定时基准水平
输出参考电平
AC测试负载
GND到3.0V
5ns
1.5V
1.5V
参见图1和2
2987 TBL 10
5V
480
数据
OUT
255
30pF*
5V
480
数据
OUT
255
5pF*
2987 DRW 05
2987 DRW 06
图1. AC测试负载
*包括范围和夹具电容
图2.交流测试负载
(对于T
OLZ
, t
CLZ
, t
OHZ
, t
WHZ
, t
CHZ
和T
OW
)
6.3
4
IDT6198S/L
CMOS静态RAM 64K ( 16K ×4位)
军用和商用温度范围
AC电气特性
(V
CC
= 5.0V
±
10 % ,全温度范围)
6198S15
(1)
6198L15
(1)
6198S20
6198L20
6198S25
6198L25
6198S35
6198L35
6198S45/55
(2)
6198S70/85
(2)
6198L45/55
(2)
6198L70/85
(2)
符号
读周期
t
RC
t
AA
t
ACS
t
CLZ(3)
t
OE
t
OLZ(3)
t
CHZ(3)
t
OHZ(3)
t
OH
t
PU(3)
t
PD(3)
参数
分钟。马克斯。分钟。马克斯。分钟。
马克斯。分钟。马克斯。分钟。马克斯。分钟。马克斯。单位
读周期时间
地址访问时间
芯片选择访问时间
片选在低Z输出
输出使能到输出有效
输出使能,以在低Z输出
芯片在高Z选择输出
输出禁用输出高阻
从地址变更输出保持
芯片的选择上电时间
芯片取消到断电时间
15
5
5
2
2
5
0
15
15
8
7
7
15
20
5
5
2
2
5
0
19
20
9
8
8
20
25
5
5
2
2
2
0
25
25
11
10
9
25
35
5
5
2
2
5
0
35
35
18
14
15
35
45/55
5
5
5
0
45/55
45/55
25/35
15/20
15/20
45/55
70/85
5
5
5
0
70/85
70/85
45/55
25/30
25/30
70/85
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
注意事项:
1. 0 °到+ 70 ° C的温度范围内只。
2, -55 ° C至+ 125 ° C的温度范围内只。
3.此参数是由设备特性保证,但未经生产测试。
2987 TBL 11
读循环中没有时序波形。 1
(1)
t
RC
地址
t
AA
t
OH
OE
t
OE
CS
t
CLZ
数据
OUT
t
OLZ ( 5 )
t
ACS
(5)
t
OHZ ( 5 )
t
CHZ ( 5 )
数据有效
2987 DRW 07
注意事项:
1.
WE
为高的读周期。
2.设备被连续地选择
CS
是低的。
3.地址有效之前或与重合
CS
变为低电平。
4.
OE
是低的。
5.转换测量
±200mV
从稳态电压。
6.3
5
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    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

    IDT6198L45DB
    -
    -
    -
    -
    终端采购配单精选

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电话:13910052844(微信同步)
联系人:刘先生
地址:海淀区增光路27号院增光佳苑2号楼1单元1102室
IDT6198L45DB
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