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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符I型号页 > 首字符I的型号第684页 > ICS84329AVT
集成
电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
F
EATURES
完全集成的PLL ,无需外部环路滤波器的要求
1差分LVPECL 3.3V输出
串联谐振晶体振荡器接口
输出频率范围: 25MHz的到700MHz的
VCO范围:为200MHz的700MHz的
并行接口进行编程计数器
并在上电期间输出分频器
串行3线接口
RMS周期抖动: 5.5ps (最大值)
周期到周期抖动: 35ps (最大)
3.3V电源电压
0 ° C至70 ° C的环境工作温度
无铅封装,完全符合RoHS标准
引脚与MC12429兼容
G
ENERAL
D
ESCRIPTION
该ICS84329是一个通用的,单输出
高频合成器和所述一个部件
HiPerClockS
HiPerClocks 系列高性能时钟
从IC解决方案。压控振荡器工作在频
昆西范围为200MHz到700MHz的的。该VCO
频率被编程在步骤相等的值
晶振频率除以16的VCO输出频率
可以通过串行或并行接口的编程
配置逻辑。该输出可以被配置用于将
VCO频率被1 ,2,4 , 8,和输出频率的步骤
小125kHz至1MHz的可使用16MHz的实现
晶因输出分频器。
ICS
B
LOCK
D
IAGRAM
OE
P
IN
A
SSIGNMENT
FOUT
V
CC
25 24 23 22 21 20 19
S_CLOCK
26
27
28
1
18
17
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4
NFOUT
TEST
V
CC
V
EE
V
EE
XTAL_IN
OSC
XTAL_OUT
÷
16
S-DATA
S_LOAD
V
CCA
nc
nc
ICS84329
16
28引脚PLCC
15
V封装
2
14
11.6毫米X 11.4毫米X 4.1毫米
3
13
顶视图
4
5
6
OE
PLL
相位检测器
1
÷1
÷2
÷4
÷8
XTAL_IN
12
7
nP_LOAD
8
M0
9 10 11
M1
M2
M3
VCO
÷
M
0
FOUT
NFOUT
XTAL_OUT
NFOUT
S_LOAD
S-DATA
S_CLOCK
nP_LOAD
M0:M8
N0:N1
FOUT
TEST
CON组fi guration
接口
逻辑
V
CC
V
CC
V
CC
V
EE
V
EE
TEST
S_CLOCK
S-DATA
S_LOAD
V
CCA
V
CCA
nc
nc
XTAL_IN
1
2
3
4
5
6
7
8
32 31 30 29 28 27 26 25
24
23
nc
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4
ICS84329
22
32引脚LQFP
21
Y封装
20
采用7mm x 7mm X 1.4毫米
19
顶视图
18
17
9 10 11 12 13 14 15 16
XTAL_OUT
OE
nP_LOAD
M0
M1
M2
M3
nc
84329AV
www.icst.com/products/hiperclocks.html
1
REV 。 2004年12月15日
集成
电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
锁定和对M分频器保持加载,直到下一次LOW
转型期nP_LOAD或直到一个串口事件发生。该测试
输出模式000的操作时(移位寄存器输出)
并行输入模式。 VCO频率之间的关系,
晶体的频率和对M分频器的定义如下:
值为fXTAL
FVCO = 16 ×M的
M值和M0通过M8所需要的值
表3B所示,可编程VCO频率功能
表。有效的M值的量, PLL将实现锁是
定义为200
M
511.频出被定义为
如下所示:
FOUT = FVCO =值为fXTAL ×M的
N
N
16
发生串行操作时nP_LOAD为高和S_LOAD
为LOW 。该移位寄存器是通过采样S-DATA装
比特与S_CLOCK的上升沿。的内容
移位寄存器被加载到M个除法时S_LOAD转录
位数从低到高。在M鸿沟和N分频输出
值被锁存S_LOAD的高到低的跳变。
如果S_LOAD被拉高,在S-DATA输入数据传递
直接将上S_CLOCK的每个上升沿对M分频器。
在串行模式可以用来编程M和N位和
测试位, T2 : T0 。内部寄存器T2 : T0确定状态
所述测试输出如下:
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
S_CLOCK ÷ N分频器
FOUT
F
UNCTIONAL
D
ESCRIPTION
注:下面的功能描述描述OP-
关合作使用16MHz的晶振。有效的PLL环路分频值
不同的晶体或输入频率在在 - 定义
把频率特性,表6 ,注1 。
该ICS84329拥有一个完全集成的PLL ,因此
无需外部元件设置循环频带 -
宽度。串联谐振,基频晶体作为
输入到内部振荡器。振荡器的输出是
由16之前的鉴相器分。用16MHz的crys-
TAL这提供了一个1MHz的参考频率。的压控振荡器
PLL工作在200MHz的范围内为700MHz的的。输出
对M分频器也被施加到相位检测器。
相位检测器和M个分频器力VCO的输出频率
昆西为M倍,通过调整基准频率
VCO控制电压。需要注意的是对于M的某些值(要么太
高或过低)时,PLL将不实现锁定。的输出
压控振荡器由分离器被发送到每个前缩放
LVPECL的输出缓冲器。分频器提供了50 %的输出占空比
周期。
该ICS84329支持两路输入的可编程特性
模式编程并购分频器和N分频器的输出。两
输入的操作模式是并行和串行。
图1
节目
对于每个模式的时序图。在并行模式下的nP_LOAD
输入为低电平。通过M8和N0通过输入M0数据
N1被直接传递到M分频器和N个输出分频器。上
在nP_LOAD输入低到高的跳变,数据是
T2
0
0
0
0
1
1
1
1
T1
0
0
1
1
0
0
1
1
T0
0
1
0
1
0
1
0
1
测试输出
移位寄存器OUT
PLL参考的Xtal ÷ 16
VCO ÷ M
(非50%占空比M分频器)
FOUT
LVCMOS输出频率为200MHz <
S_CLOCK ÷ M
(非50 %占空比M分频器)
FOUT - 4
S
ERIAL
L
OADING
S_CLOCK
S-DATA
S_LOAD
nP_LOAD
t
T2
S
T1
H
T0
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4
M3
M2
M1
M0
t
t
S
P
ARALLEL
L
OADING
M0 : M8 , N0 : N1
nP_LOAD
t
S
M,N
t
H
时间
F
IGURE
1. P
ARALLEL
&放大器; S
ERIAL
L
OAD
O
PERATIONS
84329AV
www.icst.com/products/hiperclocks.html
2
REV 。 2004年12月15日
集成
电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
TYPE
描述
模拟电源引脚。
晶体振荡器接口。 XTAL_IN是输入。 XTAL_OUT是输出。
上拉
输出使能。当逻辑高电平时,输出启用(默认) 。
当逻辑低电平时,输出被禁用,驱动差分低:
FOUT =低, nFOUT = HIGH 。 LVCMOS / LVTTL接口电平。
并行加载输入。确定当数据出现在M8 : M0装入
存在于N 1 M分频器,并且当数据: N0设置N个输出分频值。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
M分频器输入。数据锁存nP_LOAD投入低到高transistion 。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
确定N个输出分频器值如表3C功能表定义。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
负电源引脚。
它用于在操作的串行模式的测试输出。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
核心供电引脚。
T
ABLE
1. P
IN
D
ESCRIPTIONS
名字
V
CCA
XTAL_IN ,
XTAL_OUT
OE
动力
输入
输入
nP_LOAD
M0, M1, M2, M3,
M4, M5, M6, M7, M8
N0, N1
V
EE
TEST
V
CC
nFOUT , FOUT
输入
输入
输入
动力
产量
动力
产量
上拉
上拉
上拉
差分输出的合成器。 3.3V LVPECL接口电平。
时钟的串行数据存在于S-DATA输入到上的移位寄存器
S_CLOCK
输入
下拉
上升S_CLOCK的边缘。 LVCMOS / LVTTL接口电平。
移位寄存器的串行输入。采样S_CLOCK的上升沿数据。
S-DATA
输入
下拉
LVCMOS / LVTTL接口电平。
数据控件从移位寄存器转换为M分频器。
S_LOAD
输入
下拉
LVCMOS / LVTTL接口电平。
注意:
上拉
下拉
是指内部输入电阻。见表2 ,引脚特性,为典型值。
T
ABLE
2. P
IN
C
极特
符号
C
IN
R
上拉
R
下拉
参数
输入电容
输入上拉电阻
输入下拉电阻
测试条件
最小典型
4
51
51
最大
单位
pF
K
K
84329AV
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3
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700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
T
ABLE
3A 。 P
ARALLEL
nP_LOAD
X
L
H
H
H
M
X
数据
数据
X
X
X
S
ERIAL
M
ODE
F
油膏
T
ABLE
输入
S_LOAD
X
X
X
L
S_CLOCK
X
X
X
L
L
X
S-DATA
X
X
X
数据
数据
数据
X
条件
复位。 M和N位全部置高。
直接传递到M分频器的M和N的输入数据和
N个输出分频器。测试模式000 。
数据被锁存到输入寄存器和保持加载
到明年LOW过渡,或者直到一个串口事件发生。
串行输入模式。移位寄存器装入数据
S-DATA上S_CLOCK的每个上升沿。
移位寄存器的内容被传递到M分频器
和N输出分频器。
M鸿沟和N分频的输出值被锁存。
并行或串行输入不影响移位寄存器。
N
X
数据
数据
X
X
X
H
X
X
L
注:L =低
H = HIGH
X =不关心
=上升沿转变
=下降沿
T
ABLE
3B 。 P
ROGRAMMABLE
VCO F
Characteristic低频
F
油膏
T
ABLE
VCO频率
(兆赫)
200
201
202
203
509
510
511
M鸿沟
200
201
202
203
509
510
511
256
M8
0
0
0
0
1
1
1
128
M7
1
1
1
1
1
1
1
64
M6
1
1
1
1
1
1
1
32
M5
0
0
0
0
1
1
1
16
M4
0
0
0
0
1
1
1
8
M3
1
1
1
1
1
1
1
4
M2
0
0
0
0
1
1
1
2
M1
0
0
1
1
0
1
1
1
M0
0
1
0
1
1
0
1
注1 :这M个分频值,并由此产生相应频率至16MHz的晶振频率。
T
ABLE
3C 。 P
ROGRAMMABLE
O
安输出
D
IVIDER
F
油膏
T
ABLE
输入
N1
0
0
1
1
N0
0
1
0
1
N分频器值
1
2
4
8
输出频率( MHz)的
最低
200
100
50
25
最大
700
350
175
87.5
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700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
4.6V
-0.5V到V
CC
+ 0.5V
50mA
100mA
37.8 ℃/ W( 0 LFPM )
47.9 ℃/ W( 0 LFPM )
-65 ℃150 ℃的
注:如果运行条件超出绝对下上市
最大额定值可能会造成永久性损坏
装置。这些评价只强调规范。实用
产物在这些条件下或在任何条件操作BE-
彼处那些在上市
DC特性
or
AC Character-
A
BSOLUTE
M
AXIMUM
R
ATINGS
电源电压,V
CC
输入,V
I
输出,我
O
连续电流
浪涌电流
封装的热阻抗,
θ
JA
对于28引脚PLCC
32引脚LQFP
贮藏温度,T
英镑
istics
是不是暗示。暴露在绝对最大额定值
长时间条件可能会影响产品的可靠性。
T
ABLE
4A 。 P
OWER
S
UPPLY
DC
极特
,
V
CC
= V
CCA
= 3.3V ±5% ,T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
CC
V
CCA
I
CC
I
CCA
参数
核心供电电压
模拟电源电压
电源电流
模拟电源电流
测试条件
最低
3.135
3.135
典型
3.3
3.3
最大
3.465
3.465
125
15
单位
V
V
mA
mA
T
ABLE
4B 。 LVCMOS / LVTTL DC
极特
,
V
CC
= V
CCA
= 3.3V ±5% ,T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
IH
V
IL
I
IH
参数
输入高电压
输入低电压
M0 - M8 , N0 , N1 ,
OE , nP_LOAD
输入高电流
S_LOAD ,
S-DATA , S_CLOCK
M0 - M8 , N0 , N1 ,
OE , nP_LOAD
输入低电平电流
S_LOAD ,
S-DATA , S_CLOCK
输出高电压;注1
输出低电压;注1
V
CC
= V
IN
= 3.465V
V
CC
= V
IN
= 3.465V
V
CC
= 3.465V, V
IN
= 0V
V
CC
= 3.465V, V
IN
= 0V
-150
-5
2.6
0.5
测试条件
最小典型
2
-0.3
最大
V
CC
+ 0.3
0.8
5
150
单位
V
V
A
A
A
A
V
V
I
IL
V
OH
V
OL
注1 :输出端接50
到V
CC
/ 2 。参见参数测量信息, "3.3V输出负载测试Circuit" 。
T
ABLE
4C 。 LVPECL DC
极特
,
V
CC
= V
CCA
= 3.3V ±5% ,T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
OH
V
OL
V
摇摆
参数
输出高电压;注1
输出低电压;注1
峰至峰输出电压摆幅
测试条件
最低
V
CC
- 1.4
V
CC
- 2.0
0.6
典型
最大
V
CC
- 1.0
V
CC
- 1.7
0.95
单位
V
V
V
注1 :输出端接50
到V
CC
- 2V.
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ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
F
EATURES
完全集成的PLL ,无需外部环路滤波器的要求
1差分LVPECL 3.3V输出
串联谐振晶体振荡器接口
输出频率范围: 25MHz的到700MHz的
VCO范围:为200MHz的700MHz的
并行接口进行编程计数器
并在上电期间输出分频器
串行3线接口
RMS周期抖动: 5.5ps (最大值)
周期到周期抖动: 35ps (最大)
3.3V电源电压
0 ° C至70 ° C的环境工作温度
无铅封装,完全符合RoHS标准
引脚与MC12429兼容
G
ENERAL
D
ESCRIPTION
该ICS84329是一个通用的,单输出
高频合成器和所述一个部件
HiPerClockS
HiPerClocks 系列高性能时钟
从IC解决方案。压控振荡器工作在频
昆西范围为200MHz到700MHz的的。该VCO
频率被编程在步骤相等的值
晶振频率除以16的VCO输出频率
可以通过串行或并行接口的编程
配置逻辑。该输出可以被配置用于将
VCO频率被1 ,2,4 , 8,和输出频率的步骤
小125kHz至1MHz的可使用16MHz的实现
晶因输出分频器。
ICS
B
LOCK
D
IAGRAM
OE
P
IN
A
SSIGNMENT
FOUT
V
CC
25 24 23 22 21 20 19
S_CLOCK
26
27
28
1
18
17
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4
NFOUT
TEST
V
CC
V
EE
V
EE
XTAL_IN
OSC
XTAL_OUT
÷
16
S-DATA
S_LOAD
V
CCA
nc
nc
ICS84329
16
28引脚PLCC
15
V封装
2
14
11.6毫米X 11.4毫米X 4.1毫米
3
13
顶视图
4
5
6
OE
PLL
相位检测器
1
÷1
÷2
÷4
÷8
XTAL_IN
12
7
nP_LOAD
8
M0
9 10 11
M1
M2
M3
VCO
÷
M
0
FOUT
NFOUT
XTAL_OUT
NFOUT
S_LOAD
S-DATA
S_CLOCK
nP_LOAD
M0:M8
N0:N1
FOUT
TEST
CON组fi guration
接口
逻辑
V
CC
V
CC
V
CC
V
EE
V
EE
TEST
S_CLOCK
S-DATA
S_LOAD
V
CCA
V
CCA
nc
nc
XTAL_IN
1
2
3
4
5
6
7
8
32 31 30 29 28 27 26 25
24
23
nc
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4
ICS84329
22
32引脚LQFP
21
Y封装
20
采用7mm x 7mm X 1.4毫米
19
顶视图
18
17
9 10 11 12 13 14 15 16
XTAL_OUT
OE
nP_LOAD
M0
M1
M2
M3
nc
84329AV
www.icst.com/products/hiperclocks.html
1
REV 。 2004年12月15日
集成
电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
锁定和对M分频器保持加载,直到下一次LOW
转型期nP_LOAD或直到一个串口事件发生。该测试
输出模式000的操作时(移位寄存器输出)
并行输入模式。 VCO频率之间的关系,
晶体的频率和对M分频器的定义如下:
值为fXTAL
FVCO = 16 ×M的
M值和M0通过M8所需要的值
表3B所示,可编程VCO频率功能
表。有效的M值的量, PLL将实现锁是
定义为200
M
511.频出被定义为
如下所示:
FOUT = FVCO =值为fXTAL ×M的
N
N
16
发生串行操作时nP_LOAD为高和S_LOAD
为LOW 。该移位寄存器是通过采样S-DATA装
比特与S_CLOCK的上升沿。的内容
移位寄存器被加载到M个除法时S_LOAD转录
位数从低到高。在M鸿沟和N分频输出
值被锁存S_LOAD的高到低的跳变。
如果S_LOAD被拉高,在S-DATA输入数据传递
直接将上S_CLOCK的每个上升沿对M分频器。
在串行模式可以用来编程M和N位和
测试位, T2 : T0 。内部寄存器T2 : T0确定状态
所述测试输出如下:
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
FOUT
S_CLOCK ÷ N分频器
FOUT
F
UNCTIONAL
D
ESCRIPTION
注:下面的功能描述描述OP-
关合作使用16MHz的晶振。有效的PLL环路分频值
不同的晶体或输入频率在在 - 定义
把频率特性,表6 ,注1 。
该ICS84329拥有一个完全集成的PLL ,因此
无需外部元件设置循环频带 -
宽度。串联谐振,基频晶体作为
输入到内部振荡器。振荡器的输出是
由16之前的鉴相器分。用16MHz的crys-
TAL这提供了一个1MHz的参考频率。的压控振荡器
PLL工作在200MHz的范围内为700MHz的的。输出
对M分频器也被施加到相位检测器。
相位检测器和M个分频器力VCO的输出频率
昆西为M倍,通过调整基准频率
VCO控制电压。需要注意的是对于M的某些值(要么太
高或过低)时,PLL将不实现锁定。的输出
压控振荡器由分离器被发送到每个前缩放
LVPECL的输出缓冲器。分频器提供了50 %的输出占空比
周期。
该ICS84329支持两路输入的可编程特性
模式编程并购分频器和N分频器的输出。两
输入的操作模式是并行和串行。
图1
节目
对于每个模式的时序图。在并行模式下的nP_LOAD
输入为低电平。通过M8和N0通过输入M0数据
N1被直接传递到M分频器和N个输出分频器。上
在nP_LOAD输入低到高的跳变,数据是
T2
0
0
0
0
1
1
1
1
T1
0
0
1
1
0
0
1
1
T0
0
1
0
1
0
1
0
1
测试输出
移位寄存器OUT
PLL参考的Xtal ÷ 16
VCO ÷ M
(非50%占空比M分频器)
FOUT
LVCMOS输出频率为200MHz <
S_CLOCK ÷ M
(非50 %占空比M分频器)
FOUT - 4
S
ERIAL
L
OADING
S_CLOCK
S-DATA
S_LOAD
nP_LOAD
t
T2
S
T1
H
T0
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4
M3
M2
M1
M0
t
t
S
P
ARALLEL
L
OADING
M0 : M8 , N0 : N1
nP_LOAD
t
S
M,N
t
H
时间
F
IGURE
1. P
ARALLEL
&放大器; S
ERIAL
L
OAD
O
PERATIONS
84329AV
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2
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集成
电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
TYPE
描述
模拟电源引脚。
晶体振荡器接口。 XTAL_IN是输入。 XTAL_OUT是输出。
上拉
输出使能。当逻辑高电平时,输出启用(默认) 。
当逻辑低电平时,输出被禁用,驱动差分低:
FOUT =低, nFOUT = HIGH 。 LVCMOS / LVTTL接口电平。
并行加载输入。确定当数据出现在M8 : M0装入
存在于N 1 M分频器,并且当数据: N0设置N个输出分频值。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
M分频器输入。数据锁存nP_LOAD投入低到高transistion 。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
确定N个输出分频器值如表3C功能表定义。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
负电源引脚。
它用于在操作的串行模式的测试输出。
LVCMOS / LVTTL接口电平。
核心供电引脚。
T
ABLE
1. P
IN
D
ESCRIPTIONS
名字
V
CCA
XTAL_IN ,
XTAL_OUT
OE
动力
输入
输入
nP_LOAD
M0, M1, M2, M3,
M4, M5, M6, M7, M8
N0, N1
V
EE
TEST
V
CC
nFOUT , FOUT
输入
输入
输入
动力
产量
动力
产量
上拉
上拉
上拉
差分输出的合成器。 3.3V LVPECL接口电平。
时钟的串行数据存在于S-DATA输入到上的移位寄存器
S_CLOCK
输入
下拉
上升S_CLOCK的边缘。 LVCMOS / LVTTL接口电平。
移位寄存器的串行输入。采样S_CLOCK的上升沿数据。
S-DATA
输入
下拉
LVCMOS / LVTTL接口电平。
数据控件从移位寄存器转换为M分频器。
S_LOAD
输入
下拉
LVCMOS / LVTTL接口电平。
注意:
上拉
下拉
是指内部输入电阻。见表2 ,引脚特性,为典型值。
T
ABLE
2. P
IN
C
极特
符号
C
IN
R
上拉
R
下拉
参数
输入电容
输入上拉电阻
输入下拉电阻
测试条件
最小典型
4
51
51
最大
单位
pF
K
K
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集成
电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
T
ABLE
3A 。 P
ARALLEL
nP_LOAD
X
L
H
H
H
M
X
数据
数据
X
X
X
S
ERIAL
M
ODE
F
油膏
T
ABLE
输入
S_LOAD
X
X
X
L
S_CLOCK
X
X
X
L
L
X
S-DATA
X
X
X
数据
数据
数据
X
条件
复位。 M和N位全部置高。
直接传递到M分频器的M和N的输入数据和
N个输出分频器。测试模式000 。
数据被锁存到输入寄存器和保持加载
到明年LOW过渡,或者直到一个串口事件发生。
串行输入模式。移位寄存器装入数据
S-DATA上S_CLOCK的每个上升沿。
移位寄存器的内容被传递到M分频器
和N输出分频器。
M鸿沟和N分频的输出值被锁存。
并行或串行输入不影响移位寄存器。
N
X
数据
数据
X
X
X
H
X
X
L
注:L =低
H = HIGH
X =不关心
=上升沿转变
=下降沿
T
ABLE
3B 。 P
ROGRAMMABLE
VCO F
Characteristic低频
F
油膏
T
ABLE
VCO频率
(兆赫)
200
201
202
203
509
510
511
M鸿沟
200
201
202
203
509
510
511
256
M8
0
0
0
0
1
1
1
128
M7
1
1
1
1
1
1
1
64
M6
1
1
1
1
1
1
1
32
M5
0
0
0
0
1
1
1
16
M4
0
0
0
0
1
1
1
8
M3
1
1
1
1
1
1
1
4
M2
0
0
0
0
1
1
1
2
M1
0
0
1
1
0
1
1
1
M0
0
1
0
1
1
0
1
注1 :这M个分频值,并由此产生相应频率至16MHz的晶振频率。
T
ABLE
3C 。 P
ROGRAMMABLE
O
安输出
D
IVIDER
F
油膏
T
ABLE
输入
N1
0
0
1
1
N0
0
1
0
1
N分频器值
1
2
4
8
输出频率( MHz)的
最低
200
100
50
25
最大
700
350
175
87.5
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电路
系统公司
ICS84329
700MH
Z
, L
OW
J
伊特尔
, C
RYSTAL
-
TO
-3.3V
D
。微分
LVPECL F
Characteristic低频
S
YNTHESIZER
4.6V
-0.5V到V
CC
+ 0.5V
50mA
100mA
37.8 ℃/ W( 0 LFPM )
47.9 ℃/ W( 0 LFPM )
-65 ℃150 ℃的
注:如果运行条件超出绝对下上市
最大额定值可能会造成永久性损坏
装置。这些评价只强调规范。实用
产物在这些条件下或在任何条件操作BE-
彼处那些在上市
DC特性
or
AC Character-
A
BSOLUTE
M
AXIMUM
R
ATINGS
电源电压,V
CC
输入,V
I
输出,我
O
连续电流
浪涌电流
封装的热阻抗,
θ
JA
对于28引脚PLCC
32引脚LQFP
贮藏温度,T
英镑
istics
是不是暗示。暴露在绝对最大额定值
长时间条件可能会影响产品的可靠性。
T
ABLE
4A 。 P
OWER
S
UPPLY
DC
极特
,
V
CC
= V
CCA
= 3.3V ±5% ,T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
CC
V
CCA
I
CC
I
CCA
参数
核心供电电压
模拟电源电压
电源电流
模拟电源电流
测试条件
最低
3.135
3.135
典型
3.3
3.3
最大
3.465
3.465
125
15
单位
V
V
mA
mA
T
ABLE
4B 。 LVCMOS / LVTTL DC
极特
,
V
CC
= V
CCA
= 3.3V ±5% ,T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
IH
V
IL
I
IH
参数
输入高电压
输入低电压
M0 - M8 , N0 , N1 ,
OE , nP_LOAD
输入高电流
S_LOAD ,
S-DATA , S_CLOCK
M0 - M8 , N0 , N1 ,
OE , nP_LOAD
输入低电平电流
S_LOAD ,
S-DATA , S_CLOCK
输出高电压;注1
输出低电压;注1
V
CC
= V
IN
= 3.465V
V
CC
= V
IN
= 3.465V
V
CC
= 3.465V, V
IN
= 0V
V
CC
= 3.465V, V
IN
= 0V
-150
-5
2.6
0.5
测试条件
最小典型
2
-0.3
最大
V
CC
+ 0.3
0.8
5
150
单位
V
V
A
A
A
A
V
V
I
IL
V
OH
V
OL
注1 :输出端接50
到V
CC
/ 2 。参见参数测量信息, "3.3V输出负载测试Circuit" 。
T
ABLE
4C 。 LVPECL DC
极特
,
V
CC
= V
CCA
= 3.3V ±5% ,T
A
= 0°C
TO
70°C
符号
V
OH
V
OL
V
摇摆
参数
输出高电压;注1
输出低电压;注1
峰至峰输出电压摆幅
测试条件
最低
V
CC
- 1.4
V
CC
- 2.0
0.6
典型
最大
V
CC
- 1.0
V
CC
- 1.7
0.95
单位
V
V
V
注1 :输出端接50
到V
CC
- 2V.
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