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IC61LV5128
文档标题
512K ×8海特高速SRAM与3.3V
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0A
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最初的草案
草案日期
备注
9.11
所附的说明书是由ICSI提供。集成电路解决方案公司保留更改规格的权利和
产品。 ICSI会回答有关设备的问题。如果您有任何疑问,请联系ICSI办事处。
集成电路解决方案公司
AHSR021-0A
09/11/2001
1
IC61LV5128
512K ×8高速CMOS静态RAM
特点
高速存取时间:
- 8 ,10,12和15纳秒
高性能与特点,低功耗的CMOS工艺
多中心的电源和接地引脚
更大的噪声抗扰度
易于扩展的内存使用
CE
OE
选项
CE
掉电
全静态操作:无时钟或刷新
reguired
TTL兼容的输入和输出
单3.3V
±
10 %的电力供应
??可用的软件包:
- 36引脚400mil SOJ
- 44针TSOP- 2
描述
ICSI
IC61LV5128是一个非常高速,低功耗,
524,288字由8位COMS静态RAM 。该IC61LV5128是
使用制造
ICSI
的高性能CMOS技术。
这再加上创新的电路高度可靠的工艺
设计技术,得到更高的性能与低功耗
consumotion设备。
CE
为高(取消) ,器件处于待机
模式,在其中的功耗可被降低至
250 μW (典型值), CMOS输入电平。
该IC61LV5128采用3.3V单电源供电,并
所有的输入是TTL兼容的。
该IC61LV5128是采用36引脚, 400mil SOJ和44引脚可用
TSOP -2封装。
功能框图
A0-A18
解码器
512K ×8
存储阵列
VCC
GND
I / O
数据
电路
I/O0-I/O7
列I / O
CE
OE
WE
控制
电路
ICSI保留随时更改其产品在任何时候,恕不另行通知,以改进设计和提供最好的产品的权利。我们对任何错误概不负责
它可能出现在本出版物中。 版权所有2000年,集成电路解决方案公司
2
集成电路解决方案公司
AHSR021-0A
09/11/2001
IC61LV5128
引脚配置
36引脚SOJ
A0
A1
A2
A3
A4
CE
I/O0
I/O1
VCC
GND
I/O2
I/O3
WE
A5
A6
A7
A8
A9
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
NC
A18
A17
A16
A15
OE
I/O7
I/O6
GND
VCC
I/O5
I/O4
A14
A13
A12
A11
A10
NC
引脚配置
44引脚TSOP- 2
NC
NC
A0
A1
A2
A3
A4
CE
I/O0
I/O1
VCC
GND
I/O2
I/O3
WE
A5
A6
A7
A8
A9
NC
NC
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
44
43
42
41
40
39
38
37
36
35
34
33
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
NC
NC
NC
A18
A17
A16
A15
OE
I/O7
I/O6
GND
VCC
I/O5
I/O4
A14
A13
A12
A11
A10
NC
NC
NC
引脚说明
A0-A18
CE
OE
WE
I/O0-I/O7
VCC
GND
NC
地址输入
芯片使能输入
输出使能输入
写使能输入
输入/输出
动力
无连接
真值表
模式
未选择
(掉电)
输出禁用
WE
X
H
H
L
CE
H
L
L
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高-Z
高-Z
D
OUT
D
IN
VCC电流
I
SB
1
, I
SB
2
I
CC
I
CC
I
CC
绝对最大额定值
(1)
符号
V
TERM
T
BIAS
T
英镑
P
D
参数
相对于GND端子电压
在偏置温度
储存温度
功耗
价值
单位
-0.5 VCC + 0.5 V
-55到+125
°C
-65到+150
°C
1.0
W
注意事项:
1.应力超过绝对最大额定值可能会导致永久性的
损坏设备。这是一个额定值,设备的功能操作在这些或任何
以上这些在本规范的业务部门所标明的其他条件是不是暗示。
暴露在绝对最大额定值条件下工作会影响可靠性。
集成电路解决方案公司
AHSR021-0A
09/11/2001
3
IC61LV5128
工作范围
范围
广告
产业
环境温度
0 ° C至+ 70°C
-40 ° C至+ 85°C
V
CC
3.3V
±
10%
3.3V
±
10%
DC电气特性
(以上经营范围)
符号参数
V
OH
V
OL
V
IH
V
IL
I
LI
I
LO
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
(1)
输入漏
输出漏
GND
V
IN
V
CC
GND
V
OUT
V
CC
,输出禁用
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
测试条件
V
CC
=最小值,我
OH
= -4.0毫安
V
CC
=最小值,我
OL
= 8.0毫安
分钟。
2.4
2.0
–0.3
–1
–5
–1
–5
马克斯。
0.4
V
CC
+ 0.3
0.8
1
5
1
5
单位
V
V
V
V
A
A
注意事项:
1. V
IL
= -3.0V为脉冲宽度小于10纳秒。
2. Vcc操作范围为8 ns为3.3V + 10 %, - 5 % 。
电源特性
(1)
(以上经营范围)
符号
I
CC
I
SB
1
参数
VCC工作动态
电源电流
TTL待机电流
( TTL输入)
CMOS待机
电流( CMOS输入)
测试条件
V
CC
=最大,
I
OUT
= 0 mA时,女= F
最大
V
CC
=最大,
V
IN
= V
IH
或V
IL
CE
V
IH
, f = 0
V
CC
=最大,
CE
V
CC
– 0.2V,
V
IN
V
CC
- 0.2V ,或
V
IN
0.2V , F = 0
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
COM 。
IND 。
-8 NS
分钟。马克斯。
300
310
55
65
10
15
-10 NS
分钟。马克斯。
280
290
55
65
10
15
-12 NS
分钟。马克斯。
260
270
55
65
10
15
-15 NS
分钟。马克斯。
240
250
55
65
10
15
单位
mA
mA
I
SB
2
mA
注意:
1.在f = F
最大
,地址和数据输入被循环在最大的频率f = 0,表示无输入线发生变化。
电容
(1,2)
符号
C
IN
C
OUT
参数
输入电容
输出电容
条件
V
IN
= 0V
V
OUT
= 0V
马克斯。
6
8
单位
pF
pF
注意事项:
1.测试开始后任何设计或工艺变化,可能会影响这些参数。
2.测试条件:T已
A
= 25 ° C,F = 1MHz时, VCC = 3.3V 。
4
集成电路解决方案公司
AHSR021-0A
09/11/2001
IC61LV5128
读周期开关特性
(1)
(以上经营范围)
-8
符号
参数
读周期时间
地址访问时间
输出保持时间
CE
存取时间
OE
存取时间
分钟。
8
3
0
0
0
3
马克斯。
8
8
4
4
4
-10
分钟。马克斯。
10
3
0
0
3
10
10
5
5
5
-12
分钟。马克斯。
12
3
0
0
3
12
12
6
6
6
-15
分钟。马克斯。
15
3
0
0
0
3
15
15
7
6
6
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
t
RC
t
AA
t
OHA
t
ACE
t
美国能源部
t
HZOE
(2)
OE
到输出高阻态
t
LZOE
(2)
OE
以低Z输出
t
HZCE
(2
CE
到输出高阻态
t
LZCE
(2)
CE
以低Z输出
注意事项:
1.测试条件假设为3纳秒或更少的信号转换时间,定时1.5V的参考电平,输入脉冲电平
0至3.0V ,并在图1a中指定输出负载。
2.测试,与图1b中的负荷。转变是从稳态电压测量± 500 mV的。未经100%测试。
3.未经100%测试。
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序
和参考电平
输出负载
单位
0V至3.0V
3纳秒
1.5V
参见图1和2
注意事项:
1. Vcc操作范围为8 ns为3.3V + 10 %, - 5 % 。
AC测试负载
319
3.3V
3.3V
319
产量
30 pF的
INCLUDING
夹具
范围
353
产量
5 pF的
INCLUDING
夹具
范围
353
图1 。
集成电路解决方案公司
AHSR021-0A
09/11/2001
图2中。
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