HY62WT08081E
系列
32Kx8bit CMOS SRAM
文档标题
32K ×8位2.7 5.5V低功耗SRAM慢
修订历史
版本号
00
01
历史
初始
修订
-
变化LL-部分ISB1限@ E.T / I.T , 4.5 5.5V
: 15uA = >的20uA
修订
-
标识信息变更: SOP类型
-
VOH限值变化: 2.4V = > @ 2.2V 2.7 3.6V
改变的标志
- 韩国现代海力士->
- 标识信息变更
修订
-
Iccdr限制添加:为2uA @ 40℃
草案日期
Feb.05.2001
Feb.13.2001
备注
初步
最终科幻
02
Feb.21.2001
最终科幻
03
Apr.30.2001
最终科幻
04
May.23.2001
最终科幻
这份文件是一个普通的产品说明,如有变更,恕不另行通知。海力士电子不承担任何责任
使用说明电路。没有专利许可。
转/五月04 。 2001年
海力士半导体
HY62WT08081E系列
订购信息
产品型号
速度
4.5~5.5V
2.7~3.6V
动力
温度
0至70℃
-25 85°C
-40到85°C
0至70℃
-25 85°C
-40到85°C
0至70℃
-25 85°C
-40到85°C
包
HY62WT08081E-DPC
HY62WT08081E-DPE
HY62WT08081E-DPI
HY62WT08081E-DGC
55/70
70*/85
HY62WT08081E-DGE
HY62WT08081E-DGI
HY62WT08081E-DTC
HY62WT08081E-DTE
HY62WT08081E-DTI
注*为70ns ,请与30pF的负载测试
PDIP
LL-部分
SOP
TSOP- I标准
绝对最大额定值( 1 )
符号
VCC ,V
IN,
V
OUT
T
A
参数
电源,
4.5~5.5V
输入/输出电压
2.7~3.6V
工作温度
HY62WT08081E-C
HY62WT08081E-E
HY62WT08081E-I
储存温度
功耗
数据输出电流
引线焊接温度&时间
等级
-0.3 7.0
-0.3 4.6
0到70
-25到85
-40到85
-65到150
1.0
50
260
10
单位
V
V
°C
°C
°C
°C
W
mA
° C秒
T
英镑
P
D
I
OUT
T
SOLDER
记
1.强调超过绝对最大额定值可能会导致永久性的
损坏设备。这是值仅为器件在这些功能操作或
超出本规范的操作指示的任何其他条件不暗示。
暴露在绝对最大额定值条件下,长时间会影响其可靠性。
转/五月04 。 2001年
2
HY62WT08081E系列
DC特性
VCC = 4.5 5.5V ,T
A
= 0 ° C至70 ° C(普通) / -25 ° C至85°C (扩展) / -40 ° C至85°C (工业级) ,
除非另有规定ED 。
参数
测试条件
分钟。典型值。马克斯。
符号
I
LI
输入漏电流
VSS < V
IN
& LT ; VCC
-1
-
1
I
LO
输出漏电流
VSS < V
OUT
& LT ; VCC , / CS = V
IH
or
-1
-
1
/
OE
=
V
IH
或/ WE = V
IL
ICC
工作电源
/ CS = V
IL
,
-
-
10
当前
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
I
I / O =
0mA
I
CC1
平均工作电流
/ CS = V
白细胞介素,
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
-
-
50
分钟。占空比= 100 % ,我
I / O =
0mA
I
SB
TTL待机电流
/ CS = V
IH ,
-
-
1
( TTL输入)
V
IN
= V
IH
或V
IL
I
SB1
CMOS待机电流
/ CS >为VCC - 0.2V ,
-
-
10
0~ 70°C
( CMOS输入)
V
IN
>的Vcc - 0.2V或
V
IN
< VSS + 0.2V
-
-
20
-25 85 ° C或
-40~ 85°C
V
OL
输出低电压
I
OL
= 2.1毫安
-
-
0.4
V
OH
输出高电压
I
OH =
-1.0mA
2.4
-
-
注:典型值是在Vcc = 5.0V ,T
A
= 25°C
单位
uA
uA
mA
mA
mA
uA
uA
V
V
VCC = 2.7 3.6V ,T
A
= 0 ° C至70 ° C(普通) / -25 ° C至85°C (扩展) / -40 ° C至85°C (工业级) ,
除非另有规定ED 。
符号
参数
测试条件
分钟。典型值。马克斯。
I
LI
输入漏电流
VSS < V
IN
& LT ; VCC
-1
-
1
I
LO
输出漏电流
VSS < V
OUT
& LT ; VCC , / CS = V
IH
or
-1
-
1
/
OE
=
V
IH
或/ WE = V
IL
ICC
工作电源
/ CS = V
IL
,
-
-
2
当前
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
I
I / O =
0mA
I
CC1
平均工作电流
/ CS = V
白细胞介素,
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
-
-
30
分钟。占空比= 100 % ,我
I / O =
0mA
I
SB
TTL待机电流
/ CS = V
IH ,
-
-
0.3
( TTL输入)
V
IN
= V
IH
或V
IL
-
-
5
I
SB1
CMOS待机电流
/ CS >为VCC - 0.2V ,
0~ 70°C
( CMOS输入)
V
IN
>的Vcc - 0.2V或
V
IN
< VSS + 0.2V
-
-
8
-25 85 ° C或
-40~ 85°C
V
OL
输出低电压
I
OL
= 2.1毫安
-
-
0.4
V
OH
输出高电压
I
OH =
-1.0mA
2.2
-
-
注:典型值是在Vcc = 3.0 / 3.3V ,T
A
= 25°C
单位
uA
uA
mA
mA
mA
uA
uA
V
V
转/五月04 。 2001年
4
HY62WT08081E
系列
32Kx8bit CMOS SRAM
文档标题
32K ×8位2.7 5.5V低功耗SRAM慢
修订历史
版本号
00
01
历史
初始
修订
-
变化LL-部分ISB1限@ E.T / I.T , 4.5 5.5V
: 15uA = >的20uA
修订
-
标识信息变更: SOP类型
-
VOH限值变化: 2.4V = > @ 2.2V 2.7 3.6V
改变的标志
- 韩国现代海力士->
- 标识信息变更
修订
-
Iccdr限制添加:为2uA @ 40℃
草案日期
Feb.05.2001
Feb.13.2001
备注
初步
最终科幻
02
Feb.21.2001
最终科幻
03
Apr.30.2001
最终科幻
04
May.23.2001
最终科幻
这份文件是一个普通的产品说明,如有变更,恕不另行通知。海力士电子不承担任何责任
使用说明电路。没有专利许可。
转/五月04 。 2001年
海力士半导体
HY62WT08081E系列
订购信息
产品型号
速度
4.5~5.5V
2.7~3.6V
动力
温度
0至70℃
-25 85°C
-40到85°C
0至70℃
-25 85°C
-40到85°C
0至70℃
-25 85°C
-40到85°C
包
HY62WT08081E-DPC
HY62WT08081E-DPE
HY62WT08081E-DPI
HY62WT08081E-DGC
55/70
70*/85
HY62WT08081E-DGE
HY62WT08081E-DGI
HY62WT08081E-DTC
HY62WT08081E-DTE
HY62WT08081E-DTI
注*为70ns ,请与30pF的负载测试
PDIP
LL-部分
SOP
TSOP- I标准
绝对最大额定值( 1 )
符号
VCC ,V
IN,
V
OUT
T
A
参数
电源,
4.5~5.5V
输入/输出电压
2.7~3.6V
工作温度
HY62WT08081E-C
HY62WT08081E-E
HY62WT08081E-I
储存温度
功耗
数据输出电流
引线焊接温度&时间
等级
-0.3 7.0
-0.3 4.6
0到70
-25到85
-40到85
-65到150
1.0
50
260
10
单位
V
V
°C
°C
°C
°C
W
mA
° C秒
T
英镑
P
D
I
OUT
T
SOLDER
记
1.强调超过绝对最大额定值可能会导致永久性的
损坏设备。这是值仅为器件在这些功能操作或
超出本规范的操作指示的任何其他条件不暗示。
暴露在绝对最大额定值条件下,长时间会影响其可靠性。
转/五月04 。 2001年
2
HY62WT08081E系列
DC特性
VCC = 4.5 5.5V ,T
A
= 0 ° C至70 ° C(普通) / -25 ° C至85°C (扩展) / -40 ° C至85°C (工业级) ,
除非另有规定ED 。
参数
测试条件
分钟。典型值。马克斯。
符号
I
LI
输入漏电流
VSS < V
IN
& LT ; VCC
-1
-
1
I
LO
输出漏电流
VSS < V
OUT
& LT ; VCC , / CS = V
IH
or
-1
-
1
/
OE
=
V
IH
或/ WE = V
IL
ICC
工作电源
/ CS = V
IL
,
-
-
10
当前
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
I
I / O =
0mA
I
CC1
平均工作电流
/ CS = V
白细胞介素,
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
-
-
50
分钟。占空比= 100 % ,我
I / O =
0mA
I
SB
TTL待机电流
/ CS = V
IH ,
-
-
1
( TTL输入)
V
IN
= V
IH
或V
IL
I
SB1
CMOS待机电流
/ CS >为VCC - 0.2V ,
-
-
10
0~ 70°C
( CMOS输入)
V
IN
>的Vcc - 0.2V或
V
IN
< VSS + 0.2V
-
-
20
-25 85 ° C或
-40~ 85°C
V
OL
输出低电压
I
OL
= 2.1毫安
-
-
0.4
V
OH
输出高电压
I
OH =
-1.0mA
2.4
-
-
注:典型值是在Vcc = 5.0V ,T
A
= 25°C
单位
uA
uA
mA
mA
mA
uA
uA
V
V
VCC = 2.7 3.6V ,T
A
= 0 ° C至70 ° C(普通) / -25 ° C至85°C (扩展) / -40 ° C至85°C (工业级) ,
除非另有规定ED 。
符号
参数
测试条件
分钟。典型值。马克斯。
I
LI
输入漏电流
VSS < V
IN
& LT ; VCC
-1
-
1
I
LO
输出漏电流
VSS < V
OUT
& LT ; VCC , / CS = V
IH
or
-1
-
1
/
OE
=
V
IH
或/ WE = V
IL
ICC
工作电源
/ CS = V
IL
,
-
-
2
当前
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
I
I / O =
0mA
I
CC1
平均工作电流
/ CS = V
白细胞介素,
V
IN
= V
IH
或V
白细胞介素,
-
-
30
分钟。占空比= 100 % ,我
I / O =
0mA
I
SB
TTL待机电流
/ CS = V
IH ,
-
-
0.3
( TTL输入)
V
IN
= V
IH
或V
IL
-
-
5
I
SB1
CMOS待机电流
/ CS >为VCC - 0.2V ,
0~ 70°C
( CMOS输入)
V
IN
>的Vcc - 0.2V或
V
IN
< VSS + 0.2V
-
-
8
-25 85 ° C或
-40~ 85°C
V
OL
输出低电压
I
OL
= 2.1毫安
-
-
0.4
V
OH
输出高电压
I
OH =
-1.0mA
2.2
-
-
注:典型值是在Vcc = 3.0 / 3.3V ,T
A
= 25°C
单位
uA
uA
mA
mA
mA
uA
uA
V
V
转/五月04 。 2001年
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