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FQB8N60CF 600V N沟道MOSFET
2005年12月
FRFET
FQB8N60CF
600V N沟道MOSFET
特点
6.26A , 600V ,R
DS ( ON)
= 1.5
@V
GS
= 10 V
低栅极电荷(典型值28nC )
低的Crss (典型值12pF时)
快速开关
100 %雪崩测试
改进dv / dt能力
TM
描述
这些N沟道增强型功率场效应晶体管
器都采用飞兆半导体专有的,平面条形制作,
DMOS技术。
这种先进的技术已特别针对微型
迈兹的导通电阻,优越的开关perfor-
曼斯,并能承受高能量脉冲雪崩和
换流模式。这些装置非常适用于高艾菲
效率开关电源,电子镇流器
基于半桥拓扑。
D
D
G
G
S
D
2
-PAK
FQB系列
S
绝对最大额定值
符号
V
DSS
I
D
I
DM
V
GSS
E
AS
I
AR
E
AR
dv / dt的
P
D
T
J
, T
英镑
T
L
漏源电压
漏电流
漏电流
- 连续(T
C
= 25°C)
- 连续(T
C
= 100°C)
- 脉冲
(注1 )
参数
FQB8N60CF
600
6.26
3.96
25
±
30
(注2 )
(注1 )
(注1 )
(注3)
单位
V
A
A
A
V
mJ
A
mJ
V / ns的
W
W / ℃,
°C
°C
栅源电压
单脉冲雪崩能量
雪崩电流
重复性雪崩能量
峰值二极管恢复的dv / dt
功率耗散(T
C
= 25°C)
- 减免上述25℃
工作和存储温度范围
最大无铅焊接温度的目的,
8分之1 & QUOT ;从案例5秒
160
6.26
14.7
4.5
147
1.18
-55到+150
300
热特性
符号
R
θJC
R
θJA
R
θJA
参数
热阻,结到外壳
热阻,结到环境*
热阻,结到环境
FQB8N60CF
0.85
40
62.5
单位
° C / W
° C / W
° C / W
*当安装在推荐的最小焊盘尺寸( PCB安装)
2005仙童半导体公司
1
www.fairchildsemi.com
FQB8N60CF版本A
FQB8N60CF 600V N沟道MOSFET
包装标志和订购信息
器件标识
FQB8N60CF
设备
FQB8N60CFTM
D2-PAK
T
C
= 25 ° C除非另有说明
带尺寸
330mm
胶带宽度
24mm
QUANTITY
800
电气特性
符号
开关特性
BV
DSS
ΔBV
DSS
/
T
J
I
DSS
I
GSSF
I
GSSR
V
GS ( TH)
R
DS ( ON)
g
FS
C
国际空间站
C
OSS
C
RSS
t
D(上)
t
r
t
D(关闭)
t
f
Q
g
Q
gs
Q
gd
I
S
I
SM
V
SD
t
rr
Q
rr
注意事项:
参数
漏源击穿电压
击穿电压温度系数
零栅极电压漏极电流
门体漏电流,正向
门体漏电流,反向
栅极阈值电压
静态漏源导通电阻
正向跨导
输入电容
输出电容
反向传输电容
导通延迟时间
开启上升时间
打开-O FF延迟时间
关断下降时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
测试条件
V
GS
= 0 V,I
D
= 250
A
I
D
= 250
A,
参考25 ℃下
V
DS
= 600 V, V
GS
= 0 V
V
DS
= 480 V ,T
C
= 125°C
V
GS
= 30 V, V
DS
= 0 V
V
GS
= -30 V, V
DS
= 0 V
V
DS
= V
GS
, I
D
= 250
A
V
GS
= 10 V,I
D
= 3.13A
V
DS
= 40 V,I
D
= 3.13 A
V
DS
= 25 V, V
GS
= 0 V,
F = 1.0 MHz的
(注4 )
600
--
--
--
--
--
2.0
--
--
--
--
--
典型值
--
0.7
--
--
--
--
--
1.25
8.7
965
105
12
16.5
60.5
81
64.5
28
4.5
12
--
--
--
82
242
最大单位
--
--
10
100
100
-100
4.0
1.5
--
1255
135
16
45
130
170
140
36
--
--
6.26
25
1.4
--
--
V
V /°C的
A
A
nA
nA
V
S
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
A
A
V
ns
nC
基本特征
动态特性
开关特性
V
DD
= 300 V,I
D
= 6.26A,
R
G
= 25
--
--
--
(注4,5)
--
--
--
--
--
--
--
--
V
DS
= 480 V,I
D
= 6.26A,
V
GS
= 10 V
(注4,5)
漏源二极管的特性和最大额定值
最大连续漏源二极管的正向电流
最大脉冲漏源二极管的正向电流
漏源二极管的正向电压
反向恢复时间
反向恢复电荷
V
GS
= 0 V,I
S
= 6.26 A
V
GS
= 0 V,I
S
= 6.26 A,
dI
F
/ DT = 100 A / μs的
(注4 )
--
1.重复额定值:脉冲宽度有限的最高结温
2, L = 7.3mH ,我
AS
= 6.26A ,V
DD
= 50V ,R
G
= 25
,
起始物为
J
= 25°C
3. I
SD
6.26A , di / dt的
200A / μs的,V
DD
BV
DSS ,
起始物为
J
= 25°C
4.脉冲测试:脉冲宽度
300μS ,占空比
2%
5.基本上是独立工作温度
FQB8N60CF版本A
2
www.fairchildsemi.com
FQB8N60CF 600V N沟道MOSFET
典型性能特性
图1.区域特征
V
GS
15.0 V
10.0 V
8.0 V
7.0 V
6.5 V
6.0 V
5.5 V
底部: 5.0 V
上图:
图2.传输特性
10
1
10
1
I
D
,漏电流[ A]
I
D
,漏电流[ A]
150 C
o
10
0
25 C
10
0
o
-55 C
o
10
-1
注意事项:
1. 250μs的脉冲测试
2. T
C
= 25
-1
注意事项:
1. V
DS
= 40V
2. 250μs的脉冲测试
10
-1
10
10
0
10
1
2
4
6
8
10
V
DS
,漏源电压[V]
V
GS
,栅源电压[V]
图3.导通电阻变化对比
漏电流和栅极电压
图4.体二极管正向电压
变化与源电流
和Temperatue
3.5
R
DS ( ON)
[ ],
漏源导通电阻
2.5
V
GS
= 10V
2.0
I
DR
,反向漏电流[ A]
3.0
10
1
10
0
1.5
V
GS
= 20V
1.0
注:t
J
= 25
150
-1
25
注意事项:
1. V
GS
= 0V
2. 250μs的脉冲测试
0.5
0
5
10
15
20
10
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
1.2
1.4
I
D
,漏电流[ A]
V
SD
,源极 - 漏极电压[ V]
图5.电容特性
2000
1800
1600
1400
C
国际空间站
= C
gs
+ C
gd
(C
ds
=短路)
C
OSS
= C
ds
+ C
gd
C
RSS
= C
gd
图6.栅极电荷特性
12
10
V
GS
,栅源电压[V]
V
DS
= 120V
V
DS
= 300V
V
DS
= 480V
电容[ pF的]
C
国际空间站
8
1200
1000
800
600
400
200
注意事项;
1. V
GS
= 0 V
2. F = 1 MHz的
C
OSS
6
4
C
RSS
2
*注:我
D
= 6.26A
0
0
-1
10
0
5
10
15
20
25
30
10
0
10
1
V
DS
,漏源电压[V]
Q
G
,总栅极电荷[ NC ]
FQB8N60CF版本A
3
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FQB8N60CF 600V N沟道MOSFET
典型性能特性
(续)
图7.击穿电压变化
与温度的关系
1.2
图8.导通电阻变化
与温度的关系
BV
DSS
(归一化)
漏源击穿电压
3.0
1.1
R
DS ( ON)
(归一化)
漏源导通电阻
2.5
2.0
1.0
1.5
0.9
1.0
*注意:
1. V
GS
= 10 V
2. I
D
= 3.13 A
*注意:
1. V
GS
= 0 V
2. I
D
= 250
0.5
0.8
-100
-50
0
50
100
o
150
200
0.0
-100
-50
0
50
100
o
150
200
T
J
,结温[C]
T
J
,结温[C]
图9.最高安全工作区
2
图10.最大漏极电流
与外壳温度
8
10
在这一领域
由R有限公司
DS ( ON)
10
s
100
s
10
1
I
D
,漏电流[ A]
10
0
10ms
100ms
DC
I
D
,漏电流[ A]
1ms
6
4
10
-1
2
*注意:
o
1. T
C
= 25 C
2. T
J
= 150 C
3.单脉冲
o
10
-2
10
0
10
1
10
2
10
3
0
25
50
75
100
125
150
V
DS
,漏SourceVoltage [V ]
T
C
,外壳温度[
]
图11.瞬态热响应曲线
10
0
D = 0 .5
Z
θ
JC
(T ) ,热响应
0 .2
10
-1
0 .1
0 .0 5
0 .0 2
0 .0 1
N 2 O TE S:
1 . Z
θ
J·C
(t) = 0 .8 5
/ W M A X 。
2 。 ü TY F A C到R,D = T
1
/t
2
3 . T
J·M
- T
C
= P
D M
* Z
θ
J·C
(t)
10
-2
S IN克乐P ü LS ê
P
DM
t
1
10
-3
t
2
10
0
10
-5
10
-4
10
-2
10
-1
10
1
t
1
,S之四重W AVE P ü LS E D ü RA TIO N [秒]
FQB8N60CF版本A
4
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FQB8N60CF 600V N沟道MOSFET
栅极电荷测试电路波形&
电阻开关测试电路波形&
非钳位感应开关测试电路波形&
FQB8N60CF版本A
5
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