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EM39LV040
4M ( 512Kx8 )位闪存
规范
概述
该EM39LV040是组织为512K ×8位的4M位闪存。该EM39LV040
使用两个读一个单一的3.0伏,只有电源和写入功能。拥有高
高性能闪存技术, EM39LV040提供了一个典型的字节编程
11微秒的时间和40毫秒的典型扇区擦除时间。该设备采用翻转位或
数据#轮询检测完成计划或擦除操作。为了防止
意外写操作,该器件具有片上硬件和软件数据保护方案。
该器件提供典型的10万次耐用性和超过10年的数据保存。
该EM39LV040符合JEDEC标准引脚输出为X8的回忆。它提供了在
32引脚PLCC ,32引脚TSOP和已知良好芯片(KGD )的封装类型。对于KGD ,请
联系义隆电子股份有限公司或其代表的详细信息(见附录在
本规范的底部订购信息) 。
该EM39LV040器件用于需要回忆与应用开发
的程序,数据或构造,例如,网络方便和经济的更新
卡, CD - RW ,扫描仪,数字电视,电子书, GPS,路由器/交换器等。
特点
单电源供电
全电压范围从2.7到3.6伏
进行读取和写入操作
稳压电压范围: 3.0 3.6伏
进行读取和写入操作
扇区擦除功能
统一的4K字节扇区
扇区擦除功能
统一64K字节扇区
读取时间
访问时间: 45 , 55 , 70和90纳秒
耗电量
工作电流:5 mA(典型值)
待机电流: 1
A
(典型值)
擦除/编程功能
扇区擦除时间: 40毫秒(典型值)
芯片擦除时间:
40毫秒(典型值)
字节编程时间: 11μs (典型值)
芯片重写时间:6秒(典型)
结束程序或最终的擦除
发现
数据#投票
切换位
CMOS I / O兼容性
JEDEC标准
引脚和软件命令集
与单电源兼容
|闪存
高可靠性
耐力周期: 100K (典型值)
数据保存: 10年
封装选项
32引脚PLCC
32针TSOP
本规范如有变更,恕不另行通知。 ( 2004年7月22日V1.0 )
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EM39LV040
4M ( 512Kx8 )位闪存
规范
功能框图
FL灰
纪念品储器阵列
X解码器
纪念品ORY地址
地址缓冲器&
锁存器
y解码器
CE#
OE #
宽E #
控制逻辑
I / O缓冲器和数据锁存器
DQ7-DQ0
图0A :
功能框图
引脚分配
32引脚PLCC
A12 A15 A16 A18 V
DD
WE#
A17
4
3
2
1
32 31 30
29
28
27
26
A7
A6
A5
A4
A3
A2
A1
A0
DQ0
5
6
7
8
9
10
11
12
13
A14
A13
A8
A9
A11
OE #
A10
CE#
DQ7
32引脚PLCC
顶视图
25
24
23
22
21
14 15 16 17 18 19 20
DQ1DQ2 V
SS
DQ3DQ4DQ5DQ6
图0B :
PLCC引脚分配
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EM39LV040
4M ( 512Kx8 )位闪存
规范
32引脚TSOP
A11
A9
A8
A13
A14
A17
宽E #
V
DD
A18
A16
A15
A12
A7
A6
A5
A4
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
OE #
A10
CE#
DQ7
DQ6
DQ5
DQ4
DQ3
V
SS
DQ2
DQ1
DQ0
A0
A1
A2
A3
标准TSOP
图0C :
TSOP针脚分配
引脚说明
引脚名称
A0–A18
DQ7–DQ0
CE#
OE #
WE#
V
DD
V
SS
19地址
数据输入/输出
芯片使能
OUTPUT ENABLE
写使能
3.0伏,只有单电源供电
*
接地装置
功能
*
参见附录订购信息速度的选择
与电源电压的容差。
表1:
引脚说明
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第21 3
EM39LV040
4M ( 512Kx8 )位闪存
规范
设备操作
该EM39LV040使用命令来启动存储器操作功能。该
命令WE#置低,同时保持CE#低写入设备。该
地址总线被锁定在WE#或CE #下降沿,最后的为准。数据
公交车被锁在WE#或CE #的上升沿,以先到为准。
该EM39LV040的读操作通过CE#和OE #控制。两者必须是低
该系统以获得从所述输出数据。 CE#用于器件选择。当CE#
为高电平时,芯片被取消选中,仅待机电力消耗。 OE#为输出
控制,并用于从所述门控输出引脚的数据。数据总线处于高阻抗状态
当CE#或OE #为高电平。请参见读周期时序图如图1
进一步的细节。
字节编程
该EM39LV040被编程在逐字节的基础。在编程之前,扇区
其中字节所在;必须彻底清除。程序操作
完成三个步骤:
第一步是对软件数据保护三字节装入序列。
第二步骤是要加载的字节地址和字节的数据。在字节编程
操作时,地址被锁存, CE#或WE#的下降沿,取其
去年发生;并且该数据被锁存, CE#或WE #的上升沿,取
先发生。
第三步骤是被后的上升沿启动内部编程操作
第四WE#或CE # ,以先到为准。临克操作,一旦开始,
将在16 μs内完成。参见图2和图3为WE #和CE#控制
编程操作分别和时序图图12为相应的
流程图。
在编程操作期间,唯一有效的读操作是数据#查询和翻转位。中
内部编程操作,主机可以自由地执行其他任务。任何命令
内部编程操作期间发出的被忽略。
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第21 4
EM39LV040
4M ( 512Kx8 )位闪存
规范
EM39LV040设备操作
手术
节目
抹去
待机
写禁止
写禁止
软件模式
产品
鉴定
CE#
V
IL
V
IL
V
IL
V
IH
X
X
V
IL
OE #
V
IL
V
IH
V
IH
X
V
IL
X
V
IL
WE#
V
IH
V
IL
V
IL
X
X
V
IH
V
IH
DQ
D
OUT
D
IN
X
*
高Z
高Z / D
OUT
高Z / D
OUT
A
IN
A
IN
地址
扇区或块地址,为XXH
芯片擦除
X
X
X
见表3
*
X可以是V
IL
或V
IH
,但没有其他价值。
表2:
EM39LV040设备操作
写命令/命令序列
该EM39LV040提供了两种软件方法来检测完成一个项目或
擦除,以优化系统写周期时间周期。软件检测包含
两个状态位:数据#查询( DQ7 )和翻转位( DQ6 ) 。写操作结束检测模式
之后WE#上升沿,启动内部编程或擦除启用
操作。在写操作的实际完成是与系统异步的;
因此,无论是数据#查询或翻转位的读操作,可能会同时与完成
写周期。如果出现这种情况,系统可能得到一个错误的结果,即,有效数据
可能会与DQ7或DQ6冲突。为了防止这样的寄生干扰抑制,
当一个错误的结果发生时,软件程序应包括一个附加的2倍
循环读取访问的位置。如果两个读数都是有效的,则该设备已完成
写周期,否则拒绝是有效的。
芯片擦除
该EM39LV040提供片擦除功能,它允许对整个存储器阵列是
擦除到逻辑“1”状态。通过执行一个6字节的启动芯片擦除操作
与芯片擦除命令( 10H )地址5555H中的最后一个字节的命令序列
序列。擦除操作开始的6个WE#或CE #上升沿,
以先到为准。在擦除操作,唯一有效的读操作是翻转位和
数据#投票。请参阅表3中的命令序列,图6的时序图,
图15为相应的流程图。全片擦除期间发出的任何命令
操作将被忽略。
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第21 5
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