陶瓷涂层保护/轴向径向&
性能特征标准和高压
一般特定网络阳离子
工作电压：
轴向（ WVDC ）
C0G - 50 & 100
X7R - 50 & 100
Z5U - 50 & 100
径向（ WVDC ）
50, 100, 200, 500, 1k, 1.5k, 2k, 2.5k, 3k
50, 100, 200, 500, 1k, 1.5k, 2k, 2.5k, 3k
50 & 100
环境的
振动：
EIA RS - 198 ，方法304 ，条件D （ 10-2000Hz ; 20克）
冲击：
EIA RS - 198 ，方法305 ，条件I （ 100克）
寿命测试：
EIA RS - 198 ，方法201 ，条件D.
200V
C0G - 额定电压的200 ％@ + 125°C
X7R - 额定电压为200 ％ + 125°C
Z5U - 额定电压为200 ％ + 85°C
500V
C0G - 额定电压@ + 125°C
X7R - 额定电压@ + 125°C
帖子测试极限25°C为：
电容量变化：
C0G （ 200V ） - + 3 ％或电容是0.25 pF ，以较高者为准。
C0G （ 500V ） - + 3 ％或0.50pF ，以较大者为准。
X7R - 初始值+ 20 ％ （ 2 ）
Z5U - + 30％的初始值（2）
耗散因数：
C0G - 0.15 ％最大
X7R - 2.5 ％最大
Z5U - 4.0 ％最大
绝缘电阻：
C0G - 10K兆欧或100兆欧X μF ，以较低者为准。
1kV
测试@ 500V 。
X7R - 10K兆欧或100兆欧X μF ，以较低者为准。
1kV
测试@ 500V 。
Z5U - 1K兆欧或100兆欧X μF ，以较低者为准。
防潮性：
EIA RS - 198 ，方法204 ，条件A （ 10次循环不
施加的电压。 ）
帖子测试极限25°C为：
电容量变化：
C0G （ 200V ） - + 3 ％或电容是0.25 pF ，以较高者为准。
C0G （ 500V ） - + 3 ％或0.50pF ，以较大者为准。
X7R - 初始值+ 20 ％ （ 2 ）
Z5U - + 30％的初始值（2）
耗散因数：
C0G - 0.25 ％最大
X7R - 3.0 ％最大
Z5U - 4.0 ％最大
绝缘电阻：
C0G - 10K兆欧或100兆欧X μF ，以较低者为准。
500V
测试@额定电压，
1kV
测试@ 500V 。
X7R - 10K兆欧或100兆欧X μF ，以较低者为准。
500V
测试@额定电压， >1kV测试@ 500V 。
Z5U - 1K兆欧或100兆欧X μF ，以较低者为准。
热冲击：
EIA RS - 198 ，方法202 ，条件B （ C0G & X7R ： -55°C至
+ 125 ° C） ;条件A （ Z5U ： -55°C至85°C ）
温度特性：
C0G - 0 ± 30 PPM /°C，在 - 55 ° C至+ 125°C （ 1 ）
X7R - ± 15％ - 55 ° C至+ 125°C
Z5U - + 22 ％ / -56 ％，从+ 10 ° C至+ 85°C
电容容差：
C0G - ±值为0.5pF ， ±1％ ， ±2％ ， ±5％ ，±10％
X7R - ±10％ ， ± 20 ％，+ 80 ％/ 20％ ， + 100％ / -0 ％
Z5U - ±20％ ， + 80％ / 20％
结构：
环氧树脂封装 - 符合UL的阻燃测试要求
标准94V-0 。
高温焊锡 - 符合EIA RS - 198 ，方法302 ，
条件B （260℃ ，10秒）
导线材料：
100 ％雾锡（Sn ），镍（ Ni）的下板和钢芯。
可焊性：
EIA RS - 198 ，方法301 ，焊锡温度： 230℃ ± 5 ℃。
Dwell time in solder = 7 ± ½ seconds.
终端强度：
EIA RS - 198 ，方法303 ，条件A （ 2.2千克）
电动
电容@ 25 ° C：
在规定的公差和测试条件。
C0G - > 1000pF的1.0 VRMS @ 1 kHz的
1000pF的1.0 VRMS @ 1兆赫
X7R - 1.0 VRMS @ 1 kHz的
Z5U - 1.0 VRMS @ 1 kHz的
耗散因数@ 25 ° C：
相同的试验条件下的电容。
C0G - 0.15 ％最大
X7R - 2.5 ％最大
Z5U - 4.0 ％最大
绝缘电阻@ 25 ° C：
EIA RS - 198 ，方法104 ，条件A <1kV
C0G - 10万兆欧或1000兆欧X μF ，以较低者为准。
500V
测试@额定电压，
1kV
测试@ 500V
X7R - 10万兆欧或1000兆欧X μF ，以较低者为准。
500V
测试@额定电压，
1kV
测试@ 500V
Z5U - 10K兆欧或1000兆欧X μF ，以较低者为准。
绝缘耐电压：
EIA RS - 198 ，方法103
200V
测试@额定电压的250 ％，持续5秒钟，电流
限制至50mA 。
500V测试@额定电压的150 ％，持续5秒，电流
限制至50mA 。
1000V
测试@额定电压的120 ％，持续5秒钟，电流
限制至50mA 。
(1)
(2)
53 PPM -30 PPM /°C，在+ 25 ° C到-55°C ， + 60 PPM以下
10pF.
X7R和Z5U电介质表现出老化等特点; there-
前，强烈建议电容来deaged 2
在150℃下小时，并稳定在室温下搅拌48
电容测量时间之前作出。
4
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