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bq4013/Y
128Kx8非易失SRAM
特点
数据保留至少10
多年无动力
在自动写保护
上电/掉电周期
传统SRAM的工作,
包括无限制的写周期
电池BE-内部隔离
前发电应用
业界标准的32引脚DIP
引脚
概述
在CMOS bq4013 / Y是一个非易失
1,048,576位静态RAM组织为
131,072字由8位。积分
控制电路和锂电池
来源提供可靠的非易失性
再加上无限的写入赛扬
标准的SRAM克莱斯。
控制电路不断
监视5V单电源为
出公差条件。当
V
CC
属于出公差时, SRAM
是无条件写保护,以
防止意外的写入操作。
此时的积分能量
源被接通,以维持
内存中,直到经过V
CC
返回有效。
该bq4013 / Y极其使用
低待机电流的CMOS SRAM ,
再加上一个小纽扣锂
电池提供非易失性不
长写周期时间和
写周期限制相关
与EEPROM 。
该bq4013 / Y ,无需外部
电路和插座是兼容
与行业标准的SRAM和
大多数的EPROM和EEPROM的。
引脚连接
引脚名称
A
0
–A
16
DQ
0
-DQ
7
CE
OE
地址输入
数据输入/输出
芯片使能输入
输出使能输入
WE
NC
V
CC
V
SS
写使能输入
无连接
电源电压输入
选购指南
部分
bq4013MA -85
bq4013MA-120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
供应
公差
-5%
-5%
部分
bq4013YMA -70
bq4013YMA -85
bq4013YMA-120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
70
85
120
供应
公差
-10%
-10%
-10%
9/96 D
1
bq4013/Y
功能说明
当功率是有效的,则bq4013 / Y作为标操作
准CMOS SRAM 。在断电和上电
周期中, bq4013 / Y作为非易失性存储器的作用,自动
matically保护和维护内存CON-
帐篷。
掉电/上电控制电路不断MONI-
器的V
CC
供应电源故障检测阈值
V
PFD
。对于V的bq4013显示器
PFD
= 4.62V典型
使用含5%容差的供应系统。该bq4013Y
显示器的V
PFD
= 4.37V典型的系统中使用
有10 %的供应能力。
当V
CC
下降到低于V
PFD
阈值时,对SRAM盟
tomatically写保护的数据。所有输出成为
高阻抗,并且所有的输入都被视为“不
无所谓了。 “如果一个有效的连接过程在时间
掉电检测,存储周期持续的COM
完井。如果存储器周期未能在终止
时间T
WPT
,写保护发生。
为V
CC
属于过去的V
PFD
并接近3V ,控制
电路切换到内部锂电池备用电源,
它提供了数据保留,直到有效V
CC
被施加。
当V
CC
返回到内部备用上方的水平
单电池电压,电源被切换回至V
CC
。后
V
CC
斜上方的V
PFD
阈值时,写保护
持续一段时间t
CER
( 120ms的最大值) ,以允许
处理器的稳定。可以在正常的内存操作
在此时间后恢复。
所使用的bq4013内部纽扣电池/ Y有EX-
tremely长的保质期,并提供了数据保存的
超过10年,在没有系统电源。
由于运到的Unitrode ,积分锂电池
对MA-型模块是从电隔离
内存。 (自放电在这种条件下是近似
三方共同每年0.5% )之后的第一个应用程序
V
CC
,这种隔离被打破,而备用锂电池
提供后续的断电数据保持。
框图
OE
WE
128K ×8
SRAM
A
0
–A
16
DQ
0
-DQ
7
CE
CON
动力
CE
电源故障
V
CC
控制
CELL
BD-42
2
bq4013/Y
真值表
模式
未选择
输出禁用
CE
H
L
L
L
WE
X
H
H
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高Z
高Z
D
OUT
D
IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
绝对最大额定值
符号
V
CC
V
T
T
OPR
T
英镑
T
BIAS
T
SOLDER
注意:
参数
直流电压施加于V
CC
相对于V
SS
直流电压施加在任意引脚不包括V
CC
相对于V
SS
工作温度
储存温度
在偏置温度
焊接温度
价值
-0.3 7.0
-0.3 7.0
0至+70
-40至+85
-40到+70
-40至+85
-10至+70
-40至+85
+260
单位
V
V
°C
°C
°C
°C
°C
°C
°C
V
T
V
CC
+ 0.3
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工业“N”
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工业“N”
广告
工业“N”
10秒
条件
如果可能会出现永久性设备损坏
绝对最大额定值
被超过。功能操作
应仅限于本数据手册详细介绍了建议的直流工作条件。置身于CON组
超越经营范围的时间过长ditions可能会影响器件的可靠性。
3
bq4013/Y
建议的直流工作条件
( TA = TOPR )
符号
V
CC
V
SS
V
IL
V
IH
注意:
参数
电源电压
电源电压
输入低电压
输入高电压
最低
4.5
4.75
0
-0.3
2.2
典型
5.0
5.0
0
-
-
最大
5.5
5.5
0
0.8
V
CC
+ 0.3
单位
V
V
V
V
V
bq4013Y
bq4013
笔记
典型值指示器件的工作在T
A
= 25°C.
DC电气特性
( TA = TOPR , VCCmin
符号
I
LI
I
LO
V
OH
V
OL
I
SB1
I
SB2
参数
输入漏电流
输出漏电流
输出高电压
输出低电压
待机电源电流
待机电源电流
最低
-
-
2.4
-
-
-
典型
-
-
-
-
4
2.5
VCC
VCCmax )
单位
A
A
V
V
mA
mA
条件/注意事项
V
IN
= V
SS
到V
CC
CE = V
IH
或OE = V
IH
or
WE = V
IL
I
OH
= -1.0毫安
I
OL
= 2.1毫安
CE = V
IH
CE
V
CC
- 0.2V,
0V
V
IN
0.2V,
或V
IN
V
CC
- 0.2V
分钟。周期,占空比为100 % ,
CE = V
IL
, I
I / O
= 0毫安
bq4013
bq4013Y
最大
±
1
±
1
-
0.4
7
4
I
CC
工作电源电流
-
4.55
75
4.62
4.37
3
105
4.75
4.50
-
mA
V
V
V
V
PFD
V
SO
注意:
掉电检测电压
4.30
电源开关过电压
-
典型值指示器件的工作在T
A
= 25 ° C,V
CC
= 5V.
电容
( TA = 25°C , F = 1MHz时, VCC = 5.0V )
符号
C
I / O
C
IN
注意:
参数
输入/输出电容
输入电容
最低
-
-
典型
-
-
最大
10
10
单位
pF
pF
条件
输出电压= 0V
输入电压= 0V
这些参数进行采样,而不是100 %测试。
4
bq4013/Y
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序参考电平
输出负载(包括范围和夹具)
测试条件
0V至3.0V
5纳秒
1.5V(除非另有规定)
参见图1和2
图1.输出负载一
图2.输出负载B
读周期
符号
t
RC
t
AA
t
ACE
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
t
OHZ
t
OH
( TA = TOPR , VCCmin
VCC
VCCmax )
-70/-70N
参数
分钟。
70
-
-
-
5
0
0
0
10
分钟。
-
70
70
35
-
-
25
25
-
-85/-85N
分钟。
85
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
85
85
45
-
-
35
25
-
-120
分钟。
120
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
120
120
60
-
-
45
35
-
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
输出负载A
输出负载A
输出负载A
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载A
条件
读周期时间
地址访问时间
芯片使能存取时间
输出使能到输出有效
芯片使能在低Z输出
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
从地址变更输出保持
5
bq4013/Y/LY
www.ti.com
SLUS121A - 1999年5月 - 修订2007年5月
128 k
×
8非易失性SRAM ( 5 V , 3.3 V )
特点
数据保存至少10年不
动力
在自动写保护
上电/掉电周期
传统的SRAM运行,包括
没有写次数限制
电池的电源之前,内部隔离
应用
5 V或3.3 V工作
工业标准的32引脚DIP引脚
概述
该CMOS bq4013 / Y / LY是一种非易失性
1,048,576位静态RAM组织为131,072
字由8位。积分控制电路和
锂能源提供了可靠的非易失性
再加上标准的无限写入周期
SRAM 。
控制电路持续监控单
供应超差的情况。当V
CC
属于出公差时, SRAM是无条件
写保护,以防止意外的写入
操作。
此时的积分能量源被接通
维持内存中,直到V后
CC
返回有效。
该bq4013 / Y / LY采用极低的待机
当前的CMOS静态存储器,加上小锂
钮扣电池提供非易失性不长
写周期时间和写周期的限制
与EEPROM相关联。
该bq4013 / Y / LY无需外部电路,并
随着行业标准的1 -MB SRAM兼容
引脚排列。
引脚连接
32引脚DIP模块
( TOP VIEW )
NC
A
16
A
14
A
12
A
7
A
6
A
5
A
4
A
3
A
2
A
1
A
0
DQ
0
DQ
1
DQ
2
V
SS
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
32
31
30
29
28
27
26
25
24
23
22
21
20
19
18
17
V
CC
A
15
NC
WE
A
13
A
8
A
9
A
11
OE
A
10
CE
DQ
7
DQ
6
DQ
5
DQ
4
DQ
3
请注意,一个重要的通知有关可用性,标准保修,并在得克萨斯州的关键应用程序使用
仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。
PRODUCTION数据信息为出版日期。
产品符合占德州条款规范
仪器标准保修。生产加工过程中不
不一定包括所有参数进行测试。
版权所有1999-2007 ,德州仪器
bq4013/Y/LY
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SLUS121A - 1999年5月 - 修订2007年5月
设备信息
表1.端子功能
终奌站
名字
A
0
A
1
A
2
A
3
A
4
A
5
A
6
A
7
A
8
A
9
A
10
A
11
A
12
A
13
A
14
A
15
A
16
CE
DQ
0
DQ
1
DQ
2
DQ
3
DQ
4
DQ
5
DQ
6
DQ
7
NC
OE
V
CC
V
SS
WE
12
11
10
9
8
7
6
5
27
26
23
25
4
28
3
31
2
22
13
14
15
17
18
19
20
21
1
30
24
32
16
29
I / O
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
I / O
-
-
I
I
-
I
无连接
输出使能输入
电源电压输入
写使能输入
数据输入/输出
芯片使能输入
地址输入
描述
功能说明
当功率是有效的,则bq4013 / Y / LY用作标准CMOS SRAM中。在断电和上电
周期中, bq4013 / Y / LY用作非易失性存储器时,自动保护和保存在存储器
目录。
掉电/上电控制电路持续监控V
CC
供应电源故障检测阈值V
PFD
.
对于V的bq4013显示器
PFD
= 4.62 V典型的5 -V系统中使用了5%的供应能力。该bq4013Y
显示器的V
PFD
= 4.37 V典型的5 -V系统中使用10%的电源容限。该bq4013LY监视
V
PFD
= 2.90 V(典型值)在3.3 V系统中使用。
2
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bq4013/Y/LY
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当V
CC
下降到低于V
PFD
阈值时,会自动SRAM写保护数据。所有输出成为
高阻抗,并且所有的输入都被视为
不在乎。
如果一个有效的访问是在处理时的时间掉电
检测时,存储器周期继续进行到完成。如果存储周期未能在时间t终止
WPT
,
写保护发生。
为V
CC
属于过去的V
PFD
和方法V
SO
时,控制电路转换到内部锂备用电源,
它提供了数据保留,直到有效V
CC
被施加。
当V
CC
返回到上面的内部备用电池电压电平,电源被切换回至V
CC
。 V后
CC
斜上方的V
PFD
阈值时,写保护持续时间t
CER
(最多5 -V系统120毫秒, 85
MS最大的3.3 -V系统) ,让处理器稳定。普通内存手术后可以恢复
这次。
所使用的bq4013内部纽扣电池/ Y / LY有一个非常长的保质期和提供数据保留
超过10年,在没有系统电源。
由于运到TI的MT型模块的积分锂电池电从内存中分离出来。
(自放电在这种条件下是每年约0.5%。 )按照Ⅴ的第一应用
CC
隔离被打破,而锂备份提供了数据保留在随后的断电。
框图
DIP模块
bq4013/Y/LY
MA包装
OE
128 k × 8
SRAM
A
0
- A
16
DQ
0
- DQ
7
WE
动力
CE
CON
CE
电源故障
控制
V
CC
+
CELL
UDG-06075
真值表
模式
未选择
输出禁用
CE
H
L
L
L
WE
X
H
H
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高-Z
高-Z
D
OUT
D
IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
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3
bq4013/Y/LY
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SLUS121A - 1999年5月 - 修订2007年5月
订购信息
对于最新的封装和订购信息,请参阅封装选项附录数据表的末尾,或者查看
TI网站www.ti.com 。
选购指南
设备号
bq4013MA-85
bq4013MA-120
bq4013YMA-70
bq4013YMA-85
bq4013YMA-120
bq4013YMA-70N
bq4013YMA-85N
bq4013LYMA-70N
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
70
85
120
70
85
70
3.3
-10
-40到85
5
负电源
公差
(%)
-5
0到70
额定输入
电压
V
CC
(V)
温度
(°C)
零件编号
产品
LINE
bq40
内存
密度
13
10 = 8 k
×
8
11 = 32 k
×
8
13 = 128 k
×
8
14 = 256 k
×
8
15 = 512 k
×
8
16 = 1024 k
×
8
17 = 2048 k
×
8
输入
电压
(V)
L
空白= 5
L= 3.3
供应
公差
Y
空白= 5 %
Y = 10%
MA
MA = DIP
速度
(纳秒)
70
70
85
100
120
150
200
N =工业
(-40到85)的
温度
(°C)
N
空白=商业
( 0-70 )
4
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bq4013/Y/LY
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SLUS121A - 1999年5月 - 修订2007年5月
绝对最大额定值
(1)
参数
V
CC
直流电压施加在相对VCC和VSS
条件
bq4013Y
bq4013
bq4013LY
bq4013Y
V
T
直流电压施加在任意引脚除外
V
VT
V
CC
+0.3 V
VCC相对于VSS
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10秒
bq4013
bq4013LY
T
OPR
T
英镑
T
BIAS
T
SOLDER
(1)
工作温度
储存温度
在偏置温度
焊接温度
价值
-0.3 7.0
-0.3 7.0
-0.3 6.0
-0.3 7.0
-0.3 7.0
-0.3 (V
CC
+ 0.3)
0到70
-40到85
-10到70
-40到85
-10到70
-40到85
260
°C
V
V
单位
如果可能会出现永久性设备损坏
绝对最大额定值
被超过。功能操作应限于该
建议的直流工作条件详见本数据表。置身于超越经营范围条件下,其
时间会影响器件的可靠性。
推荐工作条件(T
A
= T
OPR
)
bq4013Y
V
CC
V
SS
V
IL
V
IH
(1)
电源电压
电源电压
低电平输入电压
高电平输入电压
典型值指示器件的工作在T
A
= 25°C.
bq4013
bq4013LY
4.50
4.75
3.00
0
–0.3
2.2
典型值
(1)
5.00
5.00
3.30
0
最大
5.50
5.50
3.60
0
0.8
V
CC
+ 0.3
V
单位
DC电气特性
T
A
= T
OPR
, V
CC(分钟)
V
CC
V
CC( MAX)的
参数
I
LI
I
LO
V
OH
V
OL
I
SB1
I
SB2
输入漏电流
输出漏电流
输出高电压
输出低电压
待机电源电流
待机电源电流
bq4013
I
CC
工作电源电流
bq4013Y
bq4013LY
bq4013
V
PFD
掉电检测电压
bq4013Y
bq4013LY
bq4013
V
SO
电源开关过电压
bq4013Y
bq4013LY
(1)
典型值指示器件的工作在T
A
= 25 ° C,V
CC
= 5.0 V或V
CC
= 3.3 V.
最小周期,占空比为100 % ,
CE = V
IL
, I
I / O
= 0毫安
4.55
4.30
2.85
4.62
4.37
2.90
3
3
2.9
测试条件
V
IN
= V
SS
到V
CC
CE = V
IH
或OE = V
IH
或WE = V
IL
I
OH
= -1.0毫安
I
OL
= 2.1毫安
CE = V
IH
CE = V
CC
– 0.2 V, 0V
V
IN
0.2 V,
或V
IN
V
CC
– 0.2
1
0.1
2.4
0.4
2
1
50
50
4.75
4.50
2.95
V
典型值
(1)
最大
±1
±1
单位
A
V
A
mA
mA
提交文档反馈
5
bq4013/Y
128Kx8非易失SRAM
特点
数据保留至少10
多年无动力
在自动写保护
上电/掉电周期
传统SRAM的工作,
包括无限制的写周期
电池BE-内部隔离
前发电应用
业界标准的32引脚DIP
引脚
概述
在CMOS bq4013 / Y是一个非易失
1,048,576位静态RAM组织为
131,072字由8位。积分
控制电路和锂电池
来源提供可靠的非易失性
再加上无限的写入赛扬
标准的SRAM克莱斯。
控制电路不断
监视5V单电源为
出公差条件。当
V
CC
属于出公差时, SRAM
是无条件写保护,以
防止意外的写入操作。
此时的积分能量
源被接通,以维持
内存中,直到经过V
CC
返回有效。
该bq4013 / Y极其使用
低待机电流的CMOS SRAM ,
再加上一个小纽扣锂
电池提供非易失性不
长写周期时间和
写周期限制相关
与EEPROM 。
该bq4013 / Y ,无需外部
电路和插座是兼容
与行业标准的SRAM和
大多数的EPROM和EEPROM的。
引脚连接
引脚名称
A
0
–A
16
DQ
0
-DQ
7
CE
OE
地址输入
数据输入/输出
芯片使能输入
输出使能输入
WE
NC
V
CC
V
SS
写使能输入
无连接
电源电压输入
选购指南
部分
bq4013MA -85
bq4013MA-120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
85
120
供应
公差
-5%
-5%
部分
bq4013YMA -70
bq4013YMA -85
bq4013YMA-120
最大
ACCESS
时间(纳秒)
70
85
120
供应
公差
-10%
-10%
-10%
9/96 D
1
bq4013/Y
功能说明
当功率是有效的,则bq4013 / Y作为标操作
准CMOS SRAM 。在断电和上电
周期中, bq4013 / Y作为非易失性存储器的作用,自动
matically保护和维护内存CON-
帐篷。
掉电/上电控制电路不断MONI-
器的V
CC
供应电源故障检测阈值
V
PFD
。对于V的bq4013显示器
PFD
= 4.62V典型
使用含5%容差的供应系统。该bq4013Y
显示器的V
PFD
= 4.37V典型的系统中使用
有10 %的供应能力。
当V
CC
下降到低于V
PFD
阈值时,对SRAM盟
tomatically写保护的数据。所有输出成为
高阻抗,并且所有的输入都被视为“不
无所谓了。 “如果一个有效的连接过程在时间
掉电检测,存储周期持续的COM
完井。如果存储器周期未能在终止
时间T
WPT
,写保护发生。
为V
CC
属于过去的V
PFD
并接近3V ,控制
电路切换到内部锂电池备用电源,
它提供了数据保留,直到有效V
CC
被施加。
当V
CC
返回到内部备用上方的水平
单电池电压,电源被切换回至V
CC
。后
V
CC
斜上方的V
PFD
阈值时,写保护
持续一段时间t
CER
( 120ms的最大值) ,以允许
处理器的稳定。可以在正常的内存操作
在此时间后恢复。
所使用的bq4013内部纽扣电池/ Y有EX-
tremely长的保质期,并提供了数据保存的
超过10年,在没有系统电源。
由于运到的Unitrode ,积分锂电池
对MA-型模块是从电隔离
内存。 (自放电在这种条件下是近似
三方共同每年0.5% )之后的第一个应用程序
V
CC
,这种隔离被打破,而备用锂电池
提供后续的断电数据保持。
框图
OE
WE
128K ×8
SRAM
A
0
–A
16
DQ
0
-DQ
7
CE
CON
动力
CE
电源故障
V
CC
控制
CELL
BD-42
2
bq4013/Y
真值表
模式
未选择
输出禁用
CE
H
L
L
L
WE
X
H
H
L
OE
X
H
L
X
I / O操作
高Z
高Z
D
OUT
D
IN
动力
待机
活跃
活跃
活跃
绝对最大额定值
符号
V
CC
V
T
T
OPR
T
英镑
T
BIAS
T
SOLDER
注意:
参数
直流电压施加于V
CC
相对于V
SS
直流电压施加在任意引脚不包括V
CC
相对于V
SS
工作温度
储存温度
在偏置温度
焊接温度
价值
-0.3 7.0
-0.3 7.0
0至+70
-40至+85
-40到+70
-40至+85
-10至+70
-40至+85
+260
单位
V
V
°C
°C
°C
°C
°C
°C
°C
V
T
V
CC
+ 0.3
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工业“N”
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10秒
条件
如果可能会出现永久性设备损坏
绝对最大额定值
被超过。功能操作
应仅限于本数据手册详细介绍了建议的直流工作条件。置身于CON组
超越经营范围的时间过长ditions可能会影响器件的可靠性。
3
bq4013/Y
建议的直流工作条件
( TA = TOPR )
符号
V
CC
V
SS
V
IL
V
IH
注意:
参数
电源电压
电源电压
输入低电压
输入高电压
最低
4.5
4.75
0
-0.3
2.2
典型
5.0
5.0
0
-
-
最大
5.5
5.5
0
0.8
V
CC
+ 0.3
单位
V
V
V
V
V
bq4013Y
bq4013
笔记
典型值指示器件的工作在T
A
= 25°C.
DC电气特性
( TA = TOPR , VCCmin
符号
I
LI
I
LO
V
OH
V
OL
I
SB1
I
SB2
参数
输入漏电流
输出漏电流
输出高电压
输出低电压
待机电源电流
待机电源电流
最低
-
-
2.4
-
-
-
典型
-
-
-
-
4
2.5
VCC
VCCmax )
单位
A
A
V
V
mA
mA
条件/注意事项
V
IN
= V
SS
到V
CC
CE = V
IH
或OE = V
IH
or
WE = V
IL
I
OH
= -1.0毫安
I
OL
= 2.1毫安
CE = V
IH
CE
V
CC
- 0.2V,
0V
V
IN
0.2V,
或V
IN
V
CC
- 0.2V
分钟。周期,占空比为100 % ,
CE = V
IL
, I
I / O
= 0毫安
bq4013
bq4013Y
最大
±
1
±
1
-
0.4
7
4
I
CC
工作电源电流
-
4.55
75
4.62
4.37
3
105
4.75
4.50
-
mA
V
V
V
V
PFD
V
SO
注意:
掉电检测电压
4.30
电源开关过电压
-
典型值指示器件的工作在T
A
= 25 ° C,V
CC
= 5V.
电容
( TA = 25°C , F = 1MHz时, VCC = 5.0V )
符号
C
I / O
C
IN
注意:
参数
输入/输出电容
输入电容
最低
-
-
典型
-
-
最大
10
10
单位
pF
pF
条件
输出电压= 0V
输入电压= 0V
这些参数进行采样,而不是100 %测试。
4
bq4013/Y
AC测试条件
参数
输入脉冲电平
输入上升和下降时间
输入和输出时序参考电平
输出负载(包括范围和夹具)
测试条件
0V至3.0V
5纳秒
1.5V(除非另有规定)
参见图1和2
图1.输出负载一
图2.输出负载B
读周期
符号
t
RC
t
AA
t
ACE
t
OE
t
CLZ
t
OLZ
t
CHZ
t
OHZ
t
OH
( TA = TOPR , VCCmin
VCC
VCCmax )
-70/-70N
参数
分钟。
70
-
-
-
5
0
0
0
10
分钟。
-
70
70
35
-
-
25
25
-
-85/-85N
分钟。
85
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
85
85
45
-
-
35
25
-
-120
分钟。
120
-
-
-
5
0
0
0
10
马克斯。
-
120
120
60
-
-
45
35
-
单位
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
输出负载A
输出负载A
输出负载A
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载B
输出负载A
条件
读周期时间
地址访问时间
芯片使能存取时间
输出使能到输出有效
芯片使能在低Z输出
输出使能到输出中低Z
芯片禁用高Z输出
输出禁止到输出中高Z
从地址变更输出保持
5
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