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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符A型号页 > 首字符A的型号第1399页 > AS8E128K32PN-120/883C
EEPROM
奥斯汀半导体公司
128K ×32 EEPROM
EEPROM存储器阵列
作为军事
特定网络阳离子
AS8E128K32
引脚分配
( TOP VIEW )
66铅PGA
(引脚8 , 21 , 28 39都在PN包未连接)
SMD 5962-94585
MIL-STD-883
的120 , 140 ,150, 200 ,250,和300纳秒的存取时间
建于去耦电容的低噪音运行
组织为128K的32倍;用户可配置
为256K X16或X8 512K
操作单5伏电源
低功耗CMOS
TTL兼容的输入和输出
工作温度范围:
军事: -55
o
C至+ 125
o
C
工业: -40
o
C至+ 85
o
C
特点
66铅PGA
(引脚8 , 21 , 28 39都在P封装理由)
选项
标志
-120
-140
-150
-200
-250
-300
Q
P
PN
703号
904号
904号
68铅CQFP
3
4
定时
120纳秒
140纳秒
150纳秒
200纳秒
250纳秒
300纳秒
陶瓷四方扁平封装
针脚栅格阵列 - 8系列
针脚栅格阵列 - 8系列
概述
奥斯汀半导体公司AS8E128K32是4兆位
EEPROM模块组织为128K ×32位。用户可配置到
256K X16或512Kx 8.模块实现高速接入,低
功耗和高可靠性通过使用先进的CMOS
内存技术。
军用级产品符合生产的
SMD和MIL -STD 883 ,因而非常适合于AS8E128K32
军事和空间应用。
该模块提供了1.075英寸见方的陶瓷插针网格
阵列基板。这种包装设计提供了最佳的空间
储蓄通孔封装接受董事会的解决方案。
该模块还提供了一个68铅0.990英寸方形陶瓷
四方扁平封装。它有一个最大值。 0.200英寸的高度。这种包装设计
是针对那些需要低剖面SMT应用
包装。
欲了解更多产品信息
请访问我们的网站:
www.austinsemiconductor.com
AS8E128K32
修订版5.5 9/01
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
1
EEPROM
奥斯汀半导体公司
设备Identi科幻阳离子
一个额外的128字节的EEPROM存储器可在每
死的用户标识。通过提高A9至12V + 0.5V使用
地址位置1FF80H到1FFFFH字节可以被写入到
或以相同的方式作为常规存储器阵列读取。
AS8E128K32
写入的最后一个字节将导致书面的补
数据被呈现在I / O7 。一旦写周期一直的COM
pleted ,真正的数据是对所有的输出有效,并在下一个写周期可以
开始。数据投票可以在写周期开始随时。
切换位
设备操作
的128K ×32 EEPROM存储器溶液是电
这就像一个访问可擦除和可编程存储器模块
用于读或写周期的静态RAM ,而不需要外部
组件。该器件包含一个128字节的页寄存器允许
同时写入的数据多达128个字节。在写
周期中,地址和数据的1到128个字节被内部地锁存,
释放地址和数据总线,用于其它操作。继
一个写入周期开始时,该装置将自动写入
使用一个内部的定时器控制锁存的数据。在写入周期结束时
可以通过I / O 7的数据的轮询来检测。一次写入的端
周期已被检测用于读出一个新的访问或写可以开始。
除了数据投票的模块提供了另一种方法
用于确定的一写周期的结束。在写入操作期间,
连续尝试从设备读取数据会导致I / O6
所访问的模具1和0之间切换。一旦写有
完成后, I / O6将停止切换,有效的数据将被读取。阅读
肘节位可以在写周期开始,在任何时间。
数据保护
如果不采取预防措施,在此期间可能会出现意外写入
主机电源的转换。电子
2
模块有其纳入
额定硬件和软件功能,以保护内存
防止意外写入。
存储器模块进行访问像静态RAM 。当CE \\
和OE \\低和WE \\是高,存储在存储器中的数据
由地址引脚确定的位置被置位的输出。
该模块可以被理解为一个32位,16位或8位的设备。输出
被置于高阻抗状态时,无论CE \\或OE \\高。
这双线路的控制,使设计人员灵活地预防公交车
争用在他们的系统。
硬件保护
硬件功能防止意外写入MOD-
ULE在以下几个方面:(1 ) Vcc的感觉 - 如果VCC低于3.8 V
(典型值)的写入功能受到抑制; (二) Vcc的上电延时 -
一旦VCC达到3.8V时,设备会自动超时5毫秒
(典型值)允许写入前; (三)禁止写入 - 持有的任何一个
OE \\低, CE \\高或WE \\高抑制写周期; (四)噪声滤波器 -
小于15纳秒(典型值) ,在WE \\或CE \\输入脉冲不会
发起一个写周期。
字节写
在WE \\或CE \\输入, CE \\低脉冲或WE \\低
(分别)和OE \\高启动一个写周期。的地址是
锁存CE \\下降沿或WE \\ ,最后的为准。该
数据通过CE \\第一个上升沿锁存或WE \\ 。一旦BWDW
(字节,字或双字)写已经开始将automati-
美云本身的时间完成。
软件数据保护
软件控制的数据保护功能已经imple-
mented内存模块上。当启用时,该软件数据
保护( SDP ) ,将防止意外写入。在SDP功能
可启用或由用户禁用,随SDP
禁用, SDP是由主机系统发出一系列三个启用
写命令;数据的三个特定字节写入到三
具体地址(请参考软件数据保护算法) 。后
写了三字节指令序列和T后
WC
整个
模块将受到保护,免受意外的写操作。它应该
应当注意,一旦受保护主机仍可能执行页面的一个字节
写入模块。这是通过将数据前要写入完成
通过用于启用SDP中的相同的三个字节的命令序列。一旦
集, SDP将保持活跃,除非禁用命令序列
发行。电源转换不禁SDP和SDP将保护
在上电和掉电条件的128K ×32 EEPROM
系统蒸发散。所有的命令序列必须符合页写时序
规格。在启用和禁用命令序列的数据
不写入在所使用的设备和存储器地址
序列可以被写入任一字节或页写入数据
操作。
SDP设置后,任何试图写入设备无
3字节的命令序列将启动内部写定时器。没有
数据将被写入到该设备;然而,在t的持续时间
WC
,
读操作将有效地被轮询操作。
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
页写
的128K ×32 EEPROM页写操作允许1到
128 BWDWs数据期间的单个被写入到器件
内部编程周期。每个新BWDW必须写
在150 μ秒(T
BLC
)以前BWDW的。如果T
BLC
极限
突破内存模块将停止接受数据,并开始
内部编程操作。对于我们每前高后低跃迁
页写操作过程中灰,A7 -A16必须是相同的。
在A0 - A6输入用于指定范围内的哪些字节
页将被写入。该字节可以以任何顺序被加载,并且可以
相同的负载周期内进行各种变更。只有那些经试样字节
田间写作将被写入;其他字节不必要的自行车
在页面内不会发生。
数据轮询
此内存模块的特点是数据查询来说明到底
的一个写周期。在一个字节或页写周期中试图读
AS8E128K32
修订版5.5 9/01
2
EEPROM
奥斯汀半导体公司
绝对最大额定值*
在VCC电源相对于Vss电压
VCC ................................................. .............................- , 5V至+ 7.0V
储存温度....................... ....................- 65 ° C至+ 150°C
短路输出电流(每个I / O) ... ............................. 20毫安
任一引脚电压相对于Vss .....................- 。 5V至Vcc + 1 V
最高结温** ............................................. + 150°C
热阻结到管壳( θ
JC
):
包装类型Q ............................................... 11.3 ° C / W
封装类型P & PN ....................................... 2.8 ° C / W
AS8E128K32
*应力大于下& QUOT上市,绝对最大
Ratings"可能对器件造成永久性损坏。这是
一个额定值,器件的功能操作
这些或任何上述的那些其他条件中指示的
本规范的操作部分将得不到保证。曝光
在绝对最大额定值条件下工作
会影响其可靠性。
**结温取决于封装类型,周期时间,
负载,环境温度和空气流和湿度(塑料
抽搐) 。
电气特性和建议的直流工作条件
(-55
o
C<T
A
<125
o
C或-40
o
C至+ 85
o
℃; VCC = 5V + 10 % )

 

   





   


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AS8E128K32
修订版5.5 9/01
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3
EEPROM
奥斯汀半导体公司
电容表
1
(V
IN
= 0V , F = 1 MHz时,T
A
= 25
o
C)
符号
C
添加
C
OE
C
WE ,
C
CE
C
IO
参数
A0 - A16电容
OE \\电容
WE \\和CE \\电容
I / O 0 I / O容量31
最大
40
40
10
12
单位
pF
pF
pF
pF
AS8E128K32
注意:
1.此参数是保证,但未经测试。
真值表
模式
写( 2 )
待机/写
写禁止
写禁止
输出禁用
CE
V
IL
V
IL
V
IH
X
X
X
OE
V
IL
V
IH
X (1)
X
V
IL
V
IH
WE
V
IH
V
IL
X
V
IH
X
X
高Z
I / O
D
OUT
D
IN
高Z
注意事项:
1. X可以是V
IL
或V
IH
2.参考AC编程波形
AC测试条件
I
OL
电流源
测试规范
输入脉冲电平........................................... V
SS
到3V
输入上升和下降时间为5ns ...........................................
输入时序参考电平1.5V .................................
输出参考电平1.5V .........................................
输出负载................................................见图1
设备
TEST
-
+
+
VZ = 1.5V
(双极
SUPPLY )
CEFF = 50pF的
电流源
I
OH
注意事项:
VZ的可编程范围为-2V至+ 7V 。
I
OL
OH
可编程从0到16毫安。
Vz的典型Ⅴ的中点
OH
和V
OL
.
I
OL
OH
被调整,以模拟典型的电阻性负载
电路。
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修订版5.5 9/01
图1
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
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EEPROM
奥斯汀半导体公司
AS8E128K32
电气特性和推荐AC工作条件
(-55
o
<牛逼
A
< 125
o
C或-40
o
C至+ 85
o
℃; VCC = 5V + 10 % )
描述
地址输出延迟
CE \\到输出延迟
OE \\到输出延迟
CE \\或OE \\到输出的浮动
从OE \\ CE \\或地址输出保持,
以先到者为准
符号最小值
120
最大
120
120
140
最小最大
140
140
0
55
55
0
150
最大
150
150
200
最大
200
200
250
最大
250
250
300
最大单位
300
300
ns
ns
ns
ns
ns
t
t
CE
t
OE
t
DF
t
OH
0
0
50
55
0
55
55
0
55
55
0
55
55
0
55
55
0
0
0
0
AC读波形
(1,2,3)
TRC
地址
地址有效
t
CE
TCE
CE /
t
DF
TDF
t
OE
TOE
t
OH
TOH
OE \\
t
TACC
DQ
输出有效
注意事项:
1. CE \\可能会延迟到t
-t
CE
没有对T的影响地址转换后,
.
2. OE \\可能会延迟到t
CE
-t
OE
的CE \\没有对T的影响下降沿后
CE
或用t
-t
OE
地址变更后
没有inpact对T
.
3. t
DF
从OE \\或CE \\以先到为准(C规定
L
= 5pF的) 。
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修订版5.5 9/01
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5
EEPROM
奥斯汀半导体公司
128K ×32 EEPROM
EEPROM存储器阵列
作为军事
特定网络阳离子
AS8E128K32
引脚分配
( TOP VIEW )
66铅PGA
(引脚8 , 21 , 28 39都在PN包未连接)
SMD 5962-94585
MIL-STD-883
的120 , 140 ,150, 200 ,250,和300纳秒的存取时间
建于去耦电容的低噪音运行
组织为128K的32倍;用户可配置
为256K X16或X8 512K
操作单5伏电源
低功耗CMOS
TTL兼容的输入和输出
工作温度范围:
军事: -55
o
C至+ 125
o
C
工业: -40
o
C至+ 85
o
C
特点
66铅PGA
(引脚8 , 21 , 28 39都在P封装理由)
选项
标志
-120
-140
-150
-200
-250
-300
Q
P
PN
703号
904号
904号
68铅CQFP
3
4
定时
120纳秒
140纳秒
150纳秒
200纳秒
250纳秒
300纳秒
陶瓷四方扁平封装
针脚栅格阵列 - 8系列
针脚栅格阵列 - 8系列
概述
奥斯汀半导体公司AS8E128K32是4兆位
EEPROM模块组织为128K ×32位。用户可配置到
256K X16或512Kx 8.模块实现高速接入,低
功耗和高可靠性通过使用先进的CMOS
内存技术。
军用级产品符合生产的
SMD和MIL -STD 883 ,因而非常适合于AS8E128K32
军事和空间应用。
该模块提供了1.075英寸见方的陶瓷插针网格
阵列基板。这种包装设计提供了最佳的空间
储蓄通孔封装接受董事会的解决方案。
该模块还提供了一个68铅0.990英寸方形陶瓷
四方扁平封装。它有一个最大值。 0.200英寸的高度。这种包装设计
是针对那些需要低剖面SMT应用
包装。
欲了解更多产品信息
请访问我们的网站:
www.austinsemiconductor.com
AS8E128K32
7.6修订版06/05
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
1
EEPROM
奥斯汀半导体公司
设备Identi科幻阳离子
一个额外的128字节的EEPROM存储器可在每
死的用户标识。通过提高A9至12V + 0.5V使用
地址位置1FF80H到1FFFFH字节可以被写入到
或以相同的方式作为常规存储器阵列读取。
AS8E128K32
写入的最后一个字节将导致书面的补
数据被呈现在I / O7 。一旦写周期一直的COM
pleted ,真正的数据是对所有的输出有效,并在下一个写周期可以
开始。数据投票可以在写周期开始随时。
切换位
设备操作
的128K ×32 EEPROM存储器溶液是电
这就像一个访问可擦除和可编程存储器模块
用于读或写周期的静态RAM ,而不需要外部
组件。该器件包含一个128字节的页寄存器允许
同时写入的数据多达128个字节。在写
周期中,地址和数据的1到128个字节被内部地锁存,
释放地址和数据总线,用于其它操作。继
一个写入周期开始时,该装置将自动写入
使用一个内部的定时器控制锁存的数据。在写入周期结束时
可以通过I / O 7的数据的轮询来检测。一次写入的端
周期已被检测用于读出一个新的访问或写可以开始。
除了数据投票的模块提供了另一种方法
用于确定的一写周期的结束。在写入操作期间,
连续尝试从设备读取数据会导致I / O6
所访问的模具1和0之间切换。一旦写有
完成后, I / O6将停止切换,有效的数据将被读取。阅读
肘节位可以在写周期开始,在任何时间。
数据保护
如果不采取预防措施,在此期间可能会出现意外写入
主机电源的转换。电子
2
模块有其纳入
额定硬件和软件功能,以保护内存
防止意外写入。
存储器模块进行访问像静态RAM 。当CE \\
和OE \\低和WE \\是高,存储在存储器中的数据
由地址引脚确定的位置被置位的输出。
该模块可以被理解为一个32位,16位或8位的设备。输出
被置于高阻抗状态时,无论CE \\或OE \\高。
这双线路的控制,使设计人员灵活地预防公交车
争用在他们的系统。
硬件保护
硬件功能防止意外写入MOD-
ULE在以下几个方面:(1 ) Vcc的感觉 - 如果VCC低于3.8 V
(典型值)的写入功能受到抑制; (二) Vcc的上电延时 -
一旦VCC达到3.8V时,设备会自动超时5毫秒
(典型值)允许写入前; (三)禁止写入 - 持有的任何一个
OE \\低, CE \\高或WE \\高抑制写周期; (四)噪声滤波器 -
小于15纳秒(典型值) ,在WE \\或CE \\输入脉冲不会
发起一个写周期。
字节写
在WE \\或CE \\输入, CE \\低脉冲或WE \\低
(分别)和OE \\高启动一个写周期。的地址是
锁存CE \\下降沿或WE \\ ,最后的为准。该
数据通过CE \\第一个上升沿锁存或WE \\ 。一旦BWDW
(字节,字或双字)写已经开始将automati-
美云本身的时间完成。
软件数据保护
软件控制的数据保护功能已经imple-
mented内存模块上。当启用时,该软件数据
保护( SDP ) ,将防止意外写入。在SDP功能
可启用或由用户禁用,随SDP
禁用, SDP是由主机系统发出一系列三个启用
写命令;数据的三个特定字节写入到三
具体地址(请参考软件数据保护算法) 。后
写了三字节指令序列和T后
WC
整个
模块将受到保护,免受意外的写操作。它应该
应当注意,一旦受保护主机仍可能执行页面的一个字节
写入模块。这是通过将数据前要写入完成
通过用于启用SDP中的相同的三个字节的命令序列。一旦
集, SDP将保持活跃,除非禁用命令序列
发行。电源转换不禁SDP和SDP将保护
在上电和掉电条件的128K ×32 EEPROM
系统蒸发散。所有的命令序列必须符合页写时序
规格。在启用和禁用命令序列的数据
不写入在所使用的设备和存储器地址
序列可以被写入任一字节或页写入数据
操作。
SDP设置后,任何试图写入设备无
3字节的命令序列将启动内部写定时器。没有
数据将被写入到该设备;然而,在t的持续时间
WC
,
读操作将有效地被轮询操作。
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
页写
的128K ×32 EEPROM页写操作允许1到
128 BWDWs数据期间的单个被写入到器件
内部编程周期。每个新BWDW必须写
在150 μ秒(T
BLC
)以前BWDW的。如果T
BLC
极限
突破内存模块将停止接受数据,并开始
内部编程操作。对于我们每前高后低跃迁
页写操作过程中灰,A7 -A16必须是相同的。
在A0 - A6输入用于指定范围内的哪些字节
页将被写入。该字节可以以任何顺序被加载,并且可以
相同的负载周期内进行各种变更。只有那些经试样字节
田间写作将被写入;其他字节不必要的自行车
在页面内不会发生。
数据轮询
此内存模块的特点是数据查询来说明到底
的一个写周期。在一个字节或页写周期中试图读
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2
EEPROM
奥斯汀半导体公司
绝对最大额定值*
在VCC电源相对于Vss电压
VCC ................................................. .............................- , 5V至+ 7.0V
储存温度....................... ....................- 65 ° C至+ 150°C
任一引脚电压相对于Vss .....................- 。 5V至Vcc + 1 V
最高结温** ............................................. + 150°C
热阻结到管壳( θ
JC
):
包装类型Q ............................................... 11.3 ° C / W
封装类型P & PN ....................................... 2.8 ° C / W
AS8E128K32
*应力大于下& QUOT上市,绝对最大
Ratings"可能对器件造成永久性损坏。这是
一个额定值,器件的功能操作
这些或任何上述的那些其他条件中指示的
本规范的操作部分将得不到保证。曝光
在绝对最大额定值条件下工作
会影响其可靠性。
**结温取决于封装类型,周期时间,
负载,环境温度和空气流和湿度(塑料
抽搐) 。
电气特性和建议的直流工作条件
(-55
o
C<T
A
<125
o
C或-40
o
C至+ 85
o
℃; VCC = 5V + 10 % )

 

   





   


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AS8E128K32
7.6修订版06/05
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
3
EEPROM
奥斯汀半导体公司
电容表
1
(V
IN
= 0V , F = 1 MHz时,T
A
= 25
o
C)
符号
C
添加
C
OE
C
WE ,
C
CE
C
IO
参数
A0 - A16电容
OE \\电容
WE \\和CE \\电容
I / O 0 I / O容量31
最大
40
40
10
12
单位
pF
pF
pF
pF
AS8E128K32
注意:
1.此参数是保证,但未经测试。
真值表
模式
写( 2 )
待机/写
写禁止
写禁止
输出禁用
CE
V
IL
V
IL
V
IH
X
X
X
OE
V
IL
V
IH
X (1)
X
V
IL
V
IH
WE
V
IH
V
IL
X
V
IH
X
X
高Z
I / O
D
OUT
D
IN
高Z
注意事项:
1. X可以是V
IL
或V
IH
2.参考AC编程波形
AC测试条件
I
OL
电流源
测试规范
输入脉冲电平........................................... V
SS
到3V
输入上升和下降时间为5ns ...........................................
输入时序参考电平1.5V .................................
输出参考电平1.5V .........................................
输出负载................................................见图1
设备
TEST
-
+
+
VZ = 1.5V
(双极
SUPPLY )
CEFF = 50pF的
电流源
I
OH
注意事项:
VZ的可编程范围为-2V至+ 7V 。
I
OL
OH
可编程从0到16毫安。
Vz的典型Ⅴ的中点
OH
和V
OL
.
I
OL
OH
被调整,以模拟典型的电阻性负载
电路。
AS8E128K32
7.6修订版06/05
图1
奥斯汀半导体公司保留更改产品或规格,恕不另行通知。
4
EEPROM
奥斯汀半导体公司
AS8E128K32
电气特性和推荐AC工作条件
(-55
o
<牛逼
A
< 125
o
C或-40
o
C至+ 85
o
℃; VCC = 5V + 10 % )
描述
地址输出延迟
CE \\到输出延迟
OE \\到输出延迟
CE \\或OE \\到输出的浮动
从OE \\ CE \\或地址输出保持,
以先到者为准
符号最小值
120
最大
120
120
140
最小最大
140
140
0
55
55
0
150
最大
150
150
200
最大
200
200
250
最大
250
250
300
最大单位
300
300
ns
ns
ns
ns
ns
t
t
CE
t
OE
t
DF
t
OH
0
0
50
55
0
55
55
0
55
55
0
55
55
0
55
55
0
0
0
0
AC读波形
(1,2,3)
TRC
地址
地址有效
t
CE
TCE
CE /
t
DF
TDF
t
OE
TOE
t
OH
TOH
OE \\
t
TACC
DQ
输出有效
注意事项:
1. CE \\可能会延迟到t
-t
CE
没有对T的影响地址转换后,
.
2. OE \\可能会延迟到t
CE
-t
OE
的CE \\没有对T的影响下降沿后
CE
或用t
-t
OE
地址变更后
没有inpact对T
.
3. t
DF
从OE \\或CE \\以先到为准(C规定
L
= 5pF的) 。
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