AD

S8

51

ADS8517

7

AD

S8

517

www.ti.com..........................................................................................................................................................................................

SLAS527 - 2008年9月

16位200 kSPS时，低功耗，采样模拟数字转换器

内置电压基准及并行/串行接口

1

特点

应用

便携式测试设备

USB数据采集模块

医疗设备

工业过程控制

数字信号处理

仪器仪表

200 - kHz的最小采样速率

4 -V ， 5 V和± 10 V输入范围与

高阻抗输入

± 1.5 LSB INL最大值

+ 1.5 / -1 LSB最大/最小DNL ， 16位NMC

± 2 mV的最大BPZ ，± 0.6 PPM /°C的漂移BPZ

± 2 mV的最大UPZ ，± 0.15 PPM /°C的漂移UPZ

88.8 dB的SINAD与10 - kHz输入

SPI 兼容的串行输出与

菊花链（ TAG ） ， SPI主/从功能

全并行接口

二进制补码或标准二进制

输出编码格式

单4.5 V至5.5 V模拟电源， 1.65 V至

5.5 V电源接口

使用内部2.5 V或外部基准

无需外部精密电阻要求

低功耗（ ADC + REF + BUF ） ：

- 47 mW的典型值， 60毫瓦最大为200 kSPS时

50 μW最大掉电模式

引脚兼容的16位

ADS7807

和

ADS8507,

和12位

ADS7806

和

ADS8506

SO- 28封装（ TSSOP -28提供2季度， 2009年）

23

描述

该ADS8517是一个完整的低功耗，单5 -V

供的16位采样模拟到数字（A / D）的

转换器。

It

包含

a

完成后，

16-bit,

电容型，逐次逼近寄存器

（ SAR ） A / D转换器，采样和保持，时钟，

参考和数据接口。该转换器可以是

配置为各种输入范围包括± 10

伏， 4伏， 5伏对于大多数输入范围，输入

电压摆幅可至25 V或-25 V无损坏

到设备。

SPI兼容串行接口允许数据

同步于内部或外部时钟。全

使用可选的BYTE针并行接口

还提供了允许的最大系统设计

灵活性。该ADS8517是在200 kHz的规定

采样率在工业-40 ° C至+ 85°C

温度范围。

ADC

逐次逼近寄存器（ SAR ）

并行

数据

并行

和

串行

数据输出

和

控制

比较

PWRD

字节

忙

CS

的R / C

SB / BTC

标签

SDATA

DATACLK

40千瓦

R1

IN

华助会

10千瓦

R2

IN

20千瓦

40千瓦

帽

REF

卜FF器

REF

BUF

REF

6千瓦

2.5-V

内部参考

时钟

EXT / INT

REFD

1

2

3

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并在得克萨斯州的关键应用程序使用

仪器的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

SPI是Motorola ， Inc.的商标。

所有其他商标均为其各自所有者的财产。

2008 ，德州仪器

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合占德州条款规范

仪器标准保修。生产加工过程中不

不一定包括所有参数进行测试。

ADS8517

SLAS527 - SEPTEMBER 2008..........................................................................................................................................................................................

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这些器件具有有限的内置ESD保护。引线应短接在一起或设备放置在导电泡棉

储存或搬运过程中，以防止对静电损坏MOS大门。

封装/订购信息

(1)

最低

相对的

准确性

（ LSB ）

NO

MISSING

CODE

最低

SINAD

（ dB）的

特定网络版

温度

范围

套餐 -

领导

SO-28

ADS8517IB

±1.5

16

87

-40 ° C至+ 85°C

TSSOP-28

(2)

PW

包

代号

DW

订购

数

ADS8517IBDW

ADS8517IBDWR

ADS8517IBPW

ADS8517IBPWR

ADS8517IDW

ADS8517IDWR

ADS8517W

ADS8517IPWR

运输

媒体， QTY

管， 20

磁带和卷轴1000

管， 50

磁带和卷轴， 2000

管， 20

磁带和卷轴1000

管， 50

磁带和卷轴， 2000

产品

SO-28

ADS8517I

±3

15

85

-40 ° C至+ 85°C

TSSOP-28

(2)

DW

PW

(1)

(2)

对于最新的封装和订购信息，请参阅封装选项附录本文档的末尾，或见TI

网站： www.ti.com 。

TSSOP -28 （ PW ）封装Q2 2009 。

绝对最大额定值

(1) (2)

在工作自由空气的温度范围内（除非另有说明） 。

参数

R1

IN

模拟输入

R2

IN

REF

DGND ， AGND2

接地电压差

V

ANA

V

DIG

到V

ANA

V

DIG

数字输入

最高结温

存储温度范围

内部功耗

引线温度（焊接，从案例1.6毫米， 10秒）

(1)

(2)

单位

±25 V

±25 V

+V

ANA

+ 0.3 V至AGND2 - 0.3 V

±0.3 V

6V

0.3 V

6V

-0.3 V至+ V

DIG

+ 0.3 V

+165°C

-65 ° C至+ 150°C

700毫瓦

+260°C

注意，超出上述绝对最大额定值可能会导致器件永久性损坏。暴露在绝对

最大的条件下长时间可能会影响器件的可靠性。

所有电压值都是相对于网络的接地端子。

电气特性

在T

A

= -40 ° C至+ 85 ° C，F

S

= 200千赫，V

DIG

= V

ANA

= 5 V ，使用内部参考（见

图39） ，

除非另有说明。

ADS8517I

参数

决议

模拟量输入

–10

电压范围

SEE

表1

0

0

阻抗

电容

45

10

5

4

SEE

表1

45

pF

–10

0

0

10

5

4

V

测试条件

民

典型值

最大

16

民

ADS8517IB

(1)

典型值

最大

16

单位

位

(1)

阴影部分表示不同规格的高档版本的设备。

2

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ADS8517

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SLAS527 - 2008年9月

电气特性（续）

在T

A

= -40 ° C至+ 85 ° C，F

S

= 200千赫，V

DIG

= V

ANA

= 5 V ，使用内部参考（见

图39） ，

除非另有说明。

ADS8517I

参数

吞吐速度

转换时间

完整的周期

吞吐率

DC精度

INL

DNL

积分非线性误差

微分线性误差

无失码

过渡噪声

增益误差

满量程误差

(4)

内部参考

外部2.5 V参考

内部参考

外部2.5 V参考

± 10 V范围

± 10 V范围

0 V至5 V ， 0 V至24 V范围

0 V至5 V ， 0 V至24 V范围

2.2 μF电容CAP

4.75 V < V

ANA

< +5.25 V

+4.5 V＆ LT ; V

ANA

＆ LT ; +5.5 V

f

IN

= 10 kHz时， ± 10 V

f

IN

= 10 kHz时， ± 10 V

f

IN

= 10 kHz时， ± 10 V

-60 dB的输入

f

IN

= 10 kHz时， ± 10 V

(7)

(3)

ADS8517IB

(1)

最大

民

典型值

最大

单位

s

s

千赫

最低位

(2)

最低位

位

0.8

±0.1

0.75

0.75

–0.75

–0.75

±9

±1

5

–2

±1

±0.6

3

–2

±0.1

±0.15

1

+8

+20

–6

–12

+6

+12

2

2

0.75

0.75

最低位

%

%

%

PPM /°C的

PPM /°C的

mV

PPM /°C的

mV

PPM /°C的

ms

最低位

测试条件

民

典型值

2.5

采集和转换

200

5

200

2.5

5

–3

–2

15

0.9

±0.2

–0.75

–0.75

±9

±1

–5

±1

±0.6

–3

±0.1

±0.15

1

–8

–20

3

3

–1.5

–1

16

1.5

1.5

满量程误差漂移

BPZ

双极性零误差

双极性零误差漂移

UPZ

单极性零误差

单极零误差漂移

恢复时间达到规定精度

从掉电

(5)

电源灵敏度

(V

DIG

= V

ANA

= V

S

)

AC精度

SFDR

THD

SINAD

SNR

无杂散动态范围

总谐波失真

信号与（噪声+失真）

信噪比

SNR可用带宽

92

100

–97

–92

96

101

–98

–95

dB

(6)

dB

dB

dB

千赫

千赫

85

88

29

87

88.5

29

85

88

130

600

88

89

130

600

f

IN

= 10 kHz时， ± 10 V

f

IN

= 10 kHz时， ± 10 V

SNR全功率带宽（ -3 dB）的

采样动态

孔径延迟

孔径抖动

瞬态响应

过压恢复

(8)

40

20

FS步骤

750

5

40

20

5

750

ns

ps

s

ns

(2)

(3)

(4)

(5)

(6)

(7)

(8)

LSB表示最低有效位。一个LSB为± 10 V输入范围是305

V.

典型均方根噪声在最坏情况下的转换。

满量程误差为 - 全规模还是从理想的第一和最后一个代码转换+全尺寸修剪差，除以最糟糕的情况下，

过渡电压（不是由满量程范围划分），并且包括偏移误差的影响。

这是时间延迟后， ADS8517是带出掉电模式，直到所有的内部发生沉降和模拟输入

后天额定精度。这种延迟后Convert命令将产生准确的结果。

以dB为单位，所有规格均参考满量程输入。

定义为满量程输入频率处信纳比（噪声+失真）降低到60分贝可用带宽。

经过2个FS输入过压恢复到指定的性能。

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3

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电气特性（续）

在T

A

= -40 ° C至+ 85 ° C，F

S

= 200千赫，V

DIG

= V

ANA

= 5 V ，使用内部参考（见

图39） ，

除非另有说明。

ADS8517I

参数

参考

内部参考电压

内部基准电压源电流

（必须使用外部缓冲器）

内部参考电压漂移

外部参考电压范围

对于规定的线性度

外部参考电流消耗

数字输入

V

IL

V

IH

I

IL

I

IH

低电平输入电压

(9)

高电平输入电压

低电平输入电流

高层次的输入电流

(9)

ADS8517IB

(1)

最大

民

典型值

最大

单位

测试条件

民

典型值

空载

2.48

2.5

1

8

2.52

2.48

2.5

1

8

2.52

V

A

PPM /°C的

2.3

外部2.5 V参考

2.5

2.7

100

2.3

2.5

2.7

100

V

A

V

V

A

A

V

DIG

= 1.65 V至5.5 V

V

DIG

= 1.65 V至5.5 V

V

IL

= 0 V

V

IH

= 5 V

–0.3

0.5× V

DIG

0.6

V

DIG

+ 0.3

±10

±10

–0.3

0.5× V

DIG

0.6

V

DIG

+ 0.3

±10

±10

数字输出

数据格式 - 并行16位中2个字节，串行

数据编码 - 二进制补码或标准二进制

V

OL

V

OH

低电平输出电压

高电平输出电压

漏电流

输出电容

数字定时

总线访问时间

总线释放时间

电源

V

DIG

V

ANA

I

DIG

I

ANA

接口电压

ADC内核电压

接口电流

ADC内核电流

V

DIG

= 5 V

V

ANA

= 5 V

V

ANA

= V

DIG

= 5 V,

f

S

= 200千赫

功耗

REFD高配BUF上

PWRD和REFD高

温度范围

指定的性能

性能会下降

储存温度

θ

JA

热阻抗

TSSOP

SO

–40

–55

–65

62

46

+85

+125

+150

–40

–55

–65

62

46

+85

+125

+150

°C

°C

°C

° C / W

1.65

4.5

1.8

5

0.3

9

47

42

50

60

5.5

5.5

1.65

4.5

1.8

5

0.3

9

47

42

50

60

5.5

5.5

V

V

mA

mA

mW

mW

W

R

L

= 3.3 kΩ的，C

L

= 50 pF的

R

L

= 3.3 kΩ的，C

L

= 10 pF的

83

83

83

83

ns

ns

I

SINK

= 1.6毫安，

V

DIG

= 1.65V至5.5V

I

来源

= 500A,

V

DIG

= 1.65V至5.5V

高阻态，

V

OUT

= 0 V到V

DIG

高阻态

V

DIG

– 0.45

±5

15

0.45

V

DIG

– 0.45

±5

15

0.45

V

V

A

pF

(9)

TTL兼容的5V电源。

表1.模拟输入范围的连接（见

图38

和

图39）

模拟量输入

范围

±10 V

0 V至5 V

0 V至24 V

CONNECT R1

IN

VIA 200

TO

V

IN

AGND

V

IN

CONNECT R2

IN

通过100

TO

帽

V

IN

V

IN

阻抗

45.7 k

20.0 k

21.4 k

4

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SLAS527 - 2008年9月

引脚配置

DW ， PW套餐

SO- 28和TSSOP -28

(1)

（ TOP VIEW ）

R1

IN

AGND1

R2

IN

帽

REF

AGND2

SB / BTC

EXT / INT

D7

D6

D5

D4

D3

DGND

1

2

3

4

5

6

7

28

27

26

25

24

23

22

V

DIG

V

ANA

REFD

PWRD

忙

CS

的R / C

字节

标签

SDATA

DATACLK

D0

D1

D2

ADS8517

8

9

10

11

12

13

14

21

20

19

18

17

16

15

(1)

TSSOP -28 （ PW ）封装Q2 2009 。

引脚分配

针

名字

R1

IN

AGND1

R2

IN

帽

REF

AGND2

SB / BTC

号

1

2

3

4

5

6

7

I

数字

I / O

模拟输入。

模拟感应地面。内部使用的接地参考点。最小电流

模拟输入。

基准缓冲输出。 2.2 μF的钽电容到地。

基准输入/输出。输出内部2.5 V基准电压源。也可以由外部系统驱动

参考。在这两种情况下，旁路至地， 2.2 μF钽电容。

模拟地

输出模式选择。选择标准二进制或二进制补码输出数据格式。如果

高时，数据是在一个标准二进制格式的输出。如果低，数据是在一个二进制二进制补码输出

补码格式。

外部/内部数据进行选择。选择外部/内部数据时钟传输数据。如果高，

数据输出同步到DATACLK时钟输入。如果低，一个转换命令将启动

从先前转换的数据的传输，以及16输出的时钟脉冲上

DATACLK 。

数据位7 ，如果BYTE高。数据15位（MSB ） ，如果字节是低的。高阻当CS为高电平和/或R / C

是低的。使用串行输出时不连接。

数据位6 ，如果一个字节是高的。数据位14 ，如果BYTE低。高Z当CS为高电平时和/或R / C为低。

数据位5 ，如果BYTE高。数据位13 ，如果BYTE低。高Z当CS为高电平时和/或R / C为低。

数据位4 ，如果BYTE高。数据位12 ，如果BYTE低。高Z当CS为高电平时和/或R / C为低。

数据位3 ，如果BYTE高。数据位11字节，如果是低的。高Z当CS为高电平时和/或R / C为低。

数字地

O

O

数据位2 ，如果BYTE高。数据位10 ，如果BYTE低。高Z当CS为高电平时和/或R / C为低。

数据位1 ，如果一个字节是高的。数据位9 ，如果BYTE低。高Z当CS为高电平时和/或R / C为低。

描述

EXT / INT

8

I

D7

D6

D5

D4

D3

DGND

D2

D1

9

10

11

12

13

14

15

16

O

O

O

O

O

2008 ，德州仪器

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5