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位置:首页 > IC型号导航 > 首字符A型号页 > 首字符A的型号第1283页 > ADF4212BCP
a
双通道RF / IF PLL频率合成器
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
概述
特点
ADF4210 : 550兆赫/ 1.2 GHz的
ADF4211 : 550兆赫/ 2.0 GHz的
ADF4212 : 1.0千兆赫/ 2.7 GHz的
ADF4213 : 1.0千兆赫/ 3 GHz的
2.7 V至5.5 V电源供电
独立的电荷泵电源(V
P
)允许扩展
调谐电压3 V系统
可编程双模预分频器
RF和IF : 8/9 , 16/17 , 32/33 , 64/65
可编程电荷泵电流
3线串行接口
模拟和数字锁定检测
快速锁定模式
掉电模式
该ADF4210 / ADF4211 / ADF4212 / ADF4213是一款双通道频率
合成器可以用于实现本地振荡器( LO)的
在无线的上变频和下变频部分
接收机和发射机。它们可以提供本振为
在RF和IF部分。它们由一个低噪声数字PFD的
(相位频率检测器) ,精密电荷泵,一个亲
可编程参考分频器,可编程A和B计数器
和一个双模前置分频器(P / P + 1) 。在A( 6位)和B
(12位)计数器,在结合双模预分频器
(P / P + 1 ) ,实现N分频器(N = BP + A) 。此外,
14位参考分频器(R计数器)允许选择
REFIN频率在PFD输入端。一个完整的PLL(相位
锁定环)可如合成器一起使用来实现
外部环路滤波器和VCO (压控振荡器) 。
所有片内寄存器均通过简单的3线接口。
应用
该器件的电源电压范围为2.7 V操作
基地台的无线电台(GSM, PCS ,DCS,
5伏,并且可以在使用中被掉电时不。
CDMA,WCDMA )
无线手机( GSM , PCS , DCS , CDMA , WCDMA )
无线局域网
通信测试设备
有线电视设备
功能框图
V
DD
1
V
DD
2
V
P
1
V
P
2
R
SET
12位IF
B- COUNTER
IF
IN
IF
预分频器
8位IF
A- COUNTER
比较
参考
收费
如果目前的
环境
IFCP3 IFCP2 IFCP1
CP
IF
REF
IN
振荡器
14位IF
R- COUNTER
IF
LOCK
检测
时钟
数据
LE
24-BIT
数据
SDOUT
注册
14位RF
R- COUNTER
产量
MUX
MUXOUT
RFCP3 RFCP2 RFCP1
RF
LOCK
检测
如果目前的
环境
收费
比较
参考
R
SET
FL
O
开关
FL
O
12位RF
B- COUNTER
RF
IN
RF
预分频器
6位射频
A- COUNTER
CP
RF
ADF4210/ADF4211/
ADF4212/ADF4213
AGND
IF
DGND
RF
AGND
RF
DGND
IF
DGND
IF
REV 。一
信息ADI公司提供的被认为是准确和
可靠的。但是,没有责任承担由Analog Devices其
使用,也不对第三方专利或其他权利的任何侵犯该
可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或以其他方式
在ADI公司的任何专利或专利权。
一个技术的方式, P.O. 9106箱,诺伍德,MA 02062-9106 , U.S.A.
联系电话: 781 / 329-4700
www.analog.com
传真: 781 / 326-8703
ADI公司, 2001
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213–SPECIFICATIONS
(V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V 10%, 5 V 10%; V
DD
1, V
DD
2
V
P
1, V
P
2
6.0 V ; AGND
RF
= DGND
RF
= AGND
IF
= DGND
IF
= 0 V ;
SET
= 2.7 k
T
A
= T
给T
最大
除非另有说明)。
P
ARAMETER
RF / IF特性( 3 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
RF输入灵敏度
IF输入频率( IF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
RF / IF特性( 5 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
RF输入灵敏度
IF输入频率( IF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
REFIN特性
REFIN输入频率
REFIN输入灵敏度
4
REFIN输入电容
REFIN输入电流
相位检测器
鉴相器频率
5
电荷泵
I
CP
吸入/源
高价值
低价值
绝对精度
R
SET
范围
I
CP
三态泄漏电流
漏极和源极电流匹配
I
CP
与V
CP
I
CP
与温度的关系
逻辑输入
V
INH
,输入高电压
V
INL
,输入低电压
I
INH
/I
INL
,输入电流
C
IN
,输入电容
逻辑输出
V
OH
,输出电压高
V
OL
,输出低电压
B版本
B芯片
2
单位
1
dBm至50
;
测试条件/评论
参见图3为输入电路。
使用方波的频率更低大于f
.
0.1/1.2
0.1/2.0
0.15/2.7
0.2/3.0
–10/0
60/550
60/550
0.06/1.0
0.06/1.0
–10/0
165
0.1/1.2
0.1/2.0
0.15/2.7
0.2/3.0
–10/0
60/550
60/550
0.06/1.0
0.06/1.0
–10/0
165
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
MHz的最小/最大
MHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
0.18/1.2
0.18/2.0
0.2/2.3
0.2/2.5
–5/0
100/550
100/550
0.1/1.0
0.1/1.0
–5/0
200
0/115
–5/0
10
±
100
55
0.18/1.2
0.18/2.0
0.2/2.3
0.2/2.5
–5/0
100/550
100/550
0.1/1.0
0.1/1.0
–5/0
200
0/115
–5/0
10
±
100
55
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
MHz的最小/最大
MHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
MHz的最小/最大
dBm的最小/最大
pF的最大
A
最大
兆赫最大
参见图3为输入电路。
使用方波的频率更低大于f
.
参见图2为输入电路。
对于f < 5兆赫,采用直流耦合方波
( 0至V
DD
).
交流耦合。当直流耦合, 0至V
DD
最大
( CMOS兼容)
5
625
3
1.5/5.6
1
2
2
2
0.8
×
DV
DD
0.2
×
DV
DD
±
1
10
DV
DD
– 0.4
0.4
5
625
3
1.5/5.6
1
2
2
2
0.8
×
DV
DD
0.2
×
DV
DD
±
1
10
DV
DD
– 0.4
0.4
毫安(典型值)
A
典型值
% (典型值)
千欧,最小值/最大值
nA的典型值
% (典型值)
% (典型值)
% (典型值)
V分钟
V最大
A
最大
pF的最大
V分钟
V最大
可编程:见表V
有R
SET
= 2.7 k
有R
SET
= 2.7 k
0.5 V V
CP
0.5 V V
CP
V
CP
= V
P
/2
V
P
– 0.5 V
V
P
– 0.5 V
I
OH
= 500
A
I
OL
= 500
A
–2–
REV 。一
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
参数
电源
V
DD
1
V
DD
2
V
P
I
DD
( RF + IF )
6
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
I
DD
( RF只)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
I
DD
(如果只有)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
I
P
(I
P
1 + I
P
2)
低功耗休眠模式
噪声特性
ADF4213的相位噪声楼
7
相位噪声性能
8
ADF4210 / ADF4211 , IF : 540 MHz输出
9
ADF4212 / ADF4213 , IF : 900 MHz输出
10
ADF4210 / ADF4211 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4212 / ADF4213 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
12
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
13
ADF4212 / ADF4213 , RF : 2400 MHz输出
14
杂散信号
ADF4210 / ADF4211 , IF : 540 MHz输出
9
ADF4212 / ADF4213 , IF : 900 MHz输出
10
ADF4210 / ADF4211 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4212 / ADF4213 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
12
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
13
ADF4212 / ADF4213 , RF : 2400 MHz输出
14
B版本B芯片
2
单位
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
11.5
15.0
17.5
20
6.75
10
12.5
15
5.5
5.5
5.5
5.5
1.0
1
–171
–164
–91
–89
–89
–91
–85
–67
–88
–88/–90
–90/–94
–90/–94
–90/–94
–80/–82
–65/–70
–80/–82
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
11.5
15.0
17.5
20
6.75
10
12.5
15
5.5
5.5
5.5
5.5
1.0
1
–171
–164
–91
–89
–89
–91
–85
–67
–88
–88/–90
–90/–94
–90/–94
–90/–94
–80/–82
–65/–70
–80/–82
V MIN / V最大
V MIN / V最大
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
A
典型值
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
测试条件/评论
V
DD
1, V
DD
2
V
DD
1, V
DD
2
6.0 V
9.0毫安典型
11.0毫安典型
13.0毫安典型
15毫安典型
5.0毫安典型
7.0毫安典型
9.0毫安典型
11毫安典型
4.5毫安典型
4.5毫安典型
4.5毫安典型
4.5毫安典型
T
A
= 25℃ ,0.55 mA典型
@ 25 kHz的PFD频率
@ 200kHz的PFD频率
@ VCO输出
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
见注11
见注11
见注11
见注11
@ 200 Hz的偏移和10kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和1 MHz PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
见注11
见注11
见注11
见注11
@ 10千赫/ 20 kHz和10 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
笔记
1
工作温度范围如下: B版本: -40 ° C至+ 85°C 。
2
在B芯片特定网络阳离子给出的典型值。
3
这是CMOS计数器的最高工作频率。的分频器值的选择应确保该IF / RF输入被分频为频率为
超过此值以下。
4
V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V ;对于V
DD
1 = V
DD
2 = 5 V ,采用CMOS兼容的水平,T
A
= 25°C.
5
通过设计保证。样品测试,以确保合规性。
6
V
DD
= 3 V ; P = 16 ; RF
IN
= 900 MHz的; IF
IN
= 540兆赫,T
A
= 25°C.
7
该合成器的相位噪声基底估计通过测量带内相位噪声的VCO的输出中减去上20 logN (N为N分频器值)。看
TPC 16 。
8
相位噪声测量与EVAL - ADF4210 / ADF4212 / ADF4213EB评估板和HP8562E频谱分析仪。频谱分析仪提供了
REFIN的合成(F
REFOUT
= 10 MHz的@ 0 dBm的) 。
9
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
IF
= 540 MHz的; N = 2700 ;环路B / W = 20千赫。
10
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 900 MHz的; N = 4500 ;环路B / W = 20千赫。
11
如附注10家上市条件相同。
12
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1750 MHz的; N = 8750 ;环路B / W = 20千赫。
13
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 10千赫;偏移频率= 200赫兹; F
RF
= 1750 MHz的; N = 175000 ;环的B / W = 1千赫。
14
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 1 MHz的;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1960 MHz的; N = 9800 ;环路B / W = 20千赫。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
REV 。一
–3–
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
(V 1 = V 2 = 3 V 10%, 5 V
时序特性
= AGND = DGND = 0 V ; T =
DD
DD
IF
IF
A
10%; V
DD
1, V
DD
2
V
P
1, V
P
2
6 V
给T
最大
除非另有说明)。
10% ; AGND
RF
= DGND
RF
参数
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
在极限
T
给T
最大
(B版)
10
10
25
25
10
20
单位
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
测试条件/评论
数据到时钟建立时间
数据时钟保持时间
时钟高时间
时钟低电平持续时间
时钟到LE建立时间
LE脉宽
笔记
通过设计保证,但未经生产测试。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
t
3
时钟
t
4
t
1
数据
DB20
(MSB)
DB19
t
2
DB2
DB1
(控制位C2 )
DB0 ( LSB )
(控制位C1 )
t
6
LE
t
5
LE
图1.时序图
绝对最大额定值
1, 2
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
V
DD
1至GND
3
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
DD
1至V
DD
2 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+0.3 V
V
P
1, V
P
2至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
P
1, V
P
2至V
DD
1 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+5.5 V
数字I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 -0.3 V到DV
DD
+ 0.3 V
模拟量I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V到V
P
+ 0.3 V
REF
IN
中,Rf
IN
A, RF
IN
B,
IF
IN
A, IF
IN
B至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V至VDD + 0.3 V
工作温度范围
工业(B版) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40∞C至+ 85∞C
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65∞C至+ 150∞C
最高结温。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150℃
TSSOP
θ
JA
热阻抗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150.4∞C / W
CSP
θ
JA
(桨焊接) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 122 ° C / W
CSP
θ
JA
(桨无焊接) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 216 ° C / W
焊接温度,焊接
气相(60秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 215℃
红外( 15秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 220℃
笔记
1
注意,超出上述绝对最大额定值可能会导致perma-
新界东北损坏设备。这是一个压力只有额定值。的功能操作
器件在这些或以上的运作中列出的任何其他条件
本规范的部分将得不到保证。暴露在绝对最大额定值
长时间条件下可能影响器件的可靠性。
2
这个装置是用的ESD额定值的高性能射频集成电路
< 2千伏,它是ESD敏感。适当的预防措施应采取的处理
和组装。
3
GND = AGND = DGND = 0V。
晶体管数量
11749 (CMOS)和522 (双极) 。
小心
ESD (静电放电)敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备,可排出而不被发现。虽然
该ADF4210 / ADF4211 / ADF4212 / ADF4213具有专用ESD保护电路, per-
永久性的损坏,可能会发生在经受高能量静电放电设备。因此,
适当的ESD预防措施建议,以避免性能下降或功能丧失。
订购指南
警告!
ESD敏感器件
模型
ADF4210BRU
ADF4210BCP
ADF4211BRU
ADF4211BCP
ADF4212BRU
ADF4212BCP
ADF4213BRU
ADF4213BCP
温度范围
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
包装说明
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
–4–
封装选项*
RU-20
CP-20
RU-20
CP-20
RU-20
CP-20
RU-20
CP-20
REV 。一
*联系方式
该工厂的芯片的可用性。
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
引脚功能描述
引脚数
TSSOP
1
助记符
V
DD
1
功能
电源的RF部分。去耦电容到接地平面应尽可能地
尽可能到该引脚。 V
DD
1应介于2.7 V和5.5 V V值
DD
1必须有
相同的电势为V
DD
2.
电源为RF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
1.在系统中
V
DD
图1是3伏,它可以被设置为6 V和用于驱动具有调谐范围的VCO多达6五
输出从RF电荷泵。这通常被连接到一个环滤波器,驱动所述输入
到外部VCO 。
接地引脚的RF数字电路。
输入到RF预分频器。是交流耦合的RF VCO此低电平输入信号。
接地引脚的RF模拟电路。
RF / IF快速锁定模式。
参考输入。这是一个CMOS输入用作为V的标称阈值
DD
/ 2和等效输入
100 kΩ的电阻。该输入可以被驱动从一个TTL或CMOS晶体振荡器。
数字地的中频数字,接口和控制电路。
该多路输出允许使用的IF / RF锁定检测,在缩放RF , IF缩放或缩放
在外部访问的参考频率。
串行时钟输入。此串行时钟用于时钟的串行数据到寄存器。该数据是
锁存到在CLK的上升沿的24位移位寄存器。这个输入是高阻抗
CMOS输入。
串行数据输入。串行数据被加载的MSB音响首先用两个LSB被控制位。这
输入是高阻抗CMOS输入。
负荷启用, CMOS输入。当LE变为高电平时,存储在移位寄存器中的数据被加载到
的四个锁存器中的一个,使用控制比特被选择的锁存器。
在此引脚与地之间的电阻设置最大RF和IF电荷泵输出
电流。标称电压电势在R
SET
引脚为0.66 V.我之间的关系
CP
和R
SET
is
13.5
I
CP MAX
=
R
SET
所以,与
R
SET
= 2.7 k,
I
CP MAX
= 5毫安两者的RF和IF电荷泵。
接地引脚为中频模拟电路。
输入到RF预分频器。是交流耦合的IF VCO此低电平输入信号。
接地引脚的中频数字,接口和控制电路。
输出从IF电荷泵。这通常被连接到一个环滤波器,驱动所述输入
到外部VCO 。
电源为IF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
2.在系统中
V
DD
图2是3伏,它可以被设置为6 V和用于驱动具有调谐范围的VCO多达6五
电源为IF ,数字和接口部分。去耦电容到地平面应
被放置在尽可能靠近此引脚。 V
DD
2应介于2.7 V和5.5 V V值
DD
2
必须具有相同的电势为V
DD
1.
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
V
P
1
CP
RF
DGND
RF
RF
IN
AGND
RF
FL
O
REF
IN
DGND
IF
MUXOUT
CLK
12
13
14
数据
LE
R
SET
15
16
17
18
19
20
AGND
IF
IF
IN
DGND
IF
CP
IF
V
P
2
V
DD
2
销刀豆网络gurations
TSSOP
V
P
1
CP-20
V
DD
1
V
DD
2
CP
IF
16
15
DGND
IF
14
IF
IN
13
AGND
IF
12
R
SET
11
LE
V
DD
1
1
V
P
1
2
CP
RF 3
DGND
RF 4
RF
在5
AGND
RF 6
20
V
DD
2
20
19
18 17
ADF4210/
ADF4211/
ADF4212/
ADF4213
19
V 2
P
18
CP
IF
17
DGND
IF
16
IF
IN
CP
RF 1
DGND
RF 2
RF
IN 3
AGND
RF
FL
O
4
5
ADF4210/
ADF4211/
ADF4212/
ADF4213
顶视图
(不按比例)
6
7
8
9
10
顶视图
15
AGND
IF
(不按比例)
14
R
SET
FL
O 7
13
LE
12
数据
11
CLK
REF
在8
DGND
如果9
MUXOUT
10
REF
IN
CLK
V
P
2
DGND
IF
REV 。一
–5–
MUXOUT
数据
a
双通道RF / IF PLL频率合成器
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
概述
特点
ADF4210 : 550兆赫/ 1.2 GHz的
ADF4211 : 550兆赫/ 2.0 GHz的
ADF4212 : 1.0千兆赫/ 2.7 GHz的
ADF4213 : 1.0千兆赫/ 3 GHz的
2.7 V至5.5 V电源供电
独立的电荷泵电源(V
P
)允许扩展
调谐电压3 V系统
可编程双模预分频器
RF和IF : 8/9 , 16/17 , 32/33 , 64/65
可编程电荷泵电流
3线串行接口
模拟和数字锁定检测
快速锁定模式
掉电模式
该ADF4210 / ADF4211 / ADF4212 / ADF4213是一款双通道频率
合成器可以用于实现本地振荡器( LO)的
在无线的上变频和下变频部分
接收机和发射机。它们可以提供本振为
在RF和IF部分。它们由一个低噪声数字PFD的
(相位频率检测器) ,精密电荷泵,一个亲
可编程参考分频器,可编程A和B计数器
和一个双模前置分频器(P / P + 1) 。在A( 6位)和B
(12位)计数器,在结合双模预分频器
(P / P + 1 ) ,实现N分频器(N = BP + A) 。此外,
14位参考分频器(R计数器)允许选择
REFIN频率在PFD输入端。一个完整的PLL(相位
锁定环)可如合成器一起使用来实现
外部环路滤波器和VCO (压控振荡器) 。
所有片内寄存器均通过简单的3线接口。
应用
该器件的电源电压范围为2.7 V操作
基地台的无线电台(GSM, PCS ,DCS,
5伏,并且可以在使用中被掉电时不。
CDMA,WCDMA )
无线手机( GSM , PCS , DCS , CDMA , WCDMA )
无线局域网
通信测试设备
有线电视设备
功能框图
V
DD
1
V
DD
2
V
P
1
V
P
2
R
SET
12位IF
B- COUNTER
IF
IN
IF
预分频器
8位IF
A- COUNTER
比较
参考
收费
如果目前的
环境
IFCP3 IFCP2 IFCP1
CP
IF
REF
IN
振荡器
14位IF
R- COUNTER
IF
LOCK
检测
时钟
数据
LE
24-BIT
数据
SDOUT
注册
14位RF
R- COUNTER
产量
MUX
MUXOUT
RFCP3 RFCP2 RFCP1
RF
LOCK
检测
如果目前的
环境
收费
比较
参考
R
SET
FL
O
开关
FL
O
12位RF
B- COUNTER
RF
IN
RF
预分频器
6位射频
A- COUNTER
CP
RF
ADF4210/ADF4211/
ADF4212/ADF4213
AGND
IF
DGND
RF
AGND
RF
DGND
IF
DGND
IF
REV 。一
信息ADI公司提供的被认为是准确和
可靠的。但是,没有责任承担由Analog Devices其
使用,也不对第三方专利或其他权利的任何侵犯该
可能是由于它的使用。没有获发牌照以暗示或以其他方式
在ADI公司的任何专利或专利权。
一个技术的方式, P.O. 9106箱,诺伍德,MA 02062-9106 , U.S.A.
联系电话: 781 / 329-4700
www.analog.com
传真: 781 / 326-8703
ADI公司, 2001
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213–SPECIFICATIONS
(V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V 10%, 5 V 10%; V
DD
1, V
DD
2
V
P
1, V
P
2
6.0 V ; AGND
RF
= DGND
RF
= AGND
IF
= DGND
IF
= 0 V ;
SET
= 2.7 k
T
A
= T
给T
最大
除非另有说明)。
P
ARAMETER
RF / IF特性( 3 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
RF输入灵敏度
IF输入频率( IF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
RF / IF特性( 5 V )
RF输入频率( RF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
RF输入灵敏度
IF输入频率( IF
IN
)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
IF输入灵敏度
最大允许
预分频器输出频率
3
REFIN特性
REFIN输入频率
REFIN输入灵敏度
4
REFIN输入电容
REFIN输入电流
相位检测器
鉴相器频率
5
电荷泵
I
CP
吸入/源
高价值
低价值
绝对精度
R
SET
范围
I
CP
三态泄漏电流
漏极和源极电流匹配
I
CP
与V
CP
I
CP
与温度的关系
逻辑输入
V
INH
,输入高电压
V
INL
,输入低电压
I
INH
/I
INL
,输入电流
C
IN
,输入电容
逻辑输出
V
OH
,输出电压高
V
OL
,输出低电压
B版本
B芯片
2
单位
1
dBm至50
;
测试条件/评论
参见图3为输入电路。
使用方波的频率更低大于f
.
0.1/1.2
0.1/2.0
0.15/2.7
0.2/3.0
–10/0
60/550
60/550
0.06/1.0
0.06/1.0
–10/0
165
0.1/1.2
0.1/2.0
0.15/2.7
0.2/3.0
–10/0
60/550
60/550
0.06/1.0
0.06/1.0
–10/0
165
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
MHz的最小/最大
MHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
0.18/1.2
0.18/2.0
0.2/2.3
0.2/2.5
–5/0
100/550
100/550
0.1/1.0
0.1/1.0
–5/0
200
0/115
–5/0
10
±
100
55
0.18/1.2
0.18/2.0
0.2/2.3
0.2/2.5
–5/0
100/550
100/550
0.1/1.0
0.1/1.0
–5/0
200
0/115
–5/0
10
±
100
55
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
MHz的最小/最大
MHz的最小/最大
GHz的最小/最大
GHz的最小/最大
dBm的最小/最大
兆赫最大
MHz的最小/最大
dBm的最小/最大
pF的最大
A
最大
兆赫最大
参见图3为输入电路。
使用方波的频率更低大于f
.
参见图2为输入电路。
对于f < 5兆赫,采用直流耦合方波
( 0至V
DD
).
交流耦合。当直流耦合, 0至V
DD
最大
( CMOS兼容)
5
625
3
1.5/5.6
1
2
2
2
0.8
×
DV
DD
0.2
×
DV
DD
±
1
10
DV
DD
– 0.4
0.4
5
625
3
1.5/5.6
1
2
2
2
0.8
×
DV
DD
0.2
×
DV
DD
±
1
10
DV
DD
– 0.4
0.4
毫安(典型值)
A
典型值
% (典型值)
千欧,最小值/最大值
nA的典型值
% (典型值)
% (典型值)
% (典型值)
V分钟
V最大
A
最大
pF的最大
V分钟
V最大
可编程:见表V
有R
SET
= 2.7 k
有R
SET
= 2.7 k
0.5 V V
CP
0.5 V V
CP
V
CP
= V
P
/2
V
P
– 0.5 V
V
P
– 0.5 V
I
OH
= 500
A
I
OL
= 500
A
–2–
REV 。一
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
参数
电源
V
DD
1
V
DD
2
V
P
I
DD
( RF + IF )
6
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
I
DD
( RF只)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
I
DD
(如果只有)
ADF4210
ADF4211
ADF4212
ADF4213
I
P
(I
P
1 + I
P
2)
低功耗休眠模式
噪声特性
ADF4213的相位噪声楼
7
相位噪声性能
8
ADF4210 / ADF4211 , IF : 540 MHz输出
9
ADF4212 / ADF4213 , IF : 900 MHz输出
10
ADF4210 / ADF4211 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4212 / ADF4213 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
12
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
13
ADF4212 / ADF4213 , RF : 2400 MHz输出
14
杂散信号
ADF4210 / ADF4211 , IF : 540 MHz输出
9
ADF4212 / ADF4213 , IF : 900 MHz输出
10
ADF4210 / ADF4211 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4212 / ADF4213 , RF : 900 MHz输出
10
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
12
ADF4211 / ADF4212 , RF : 1750 MHz输出
13
ADF4212 / ADF4213 , RF : 2400 MHz输出
14
B版本B芯片
2
单位
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
11.5
15.0
17.5
20
6.75
10
12.5
15
5.5
5.5
5.5
5.5
1.0
1
–171
–164
–91
–89
–89
–91
–85
–67
–88
–88/–90
–90/–94
–90/–94
–90/–94
–80/–82
–65/–70
–80/–82
2.7/5.5
V
DD
1
V
DD
1/6.0
11.5
15.0
17.5
20
6.75
10
12.5
15
5.5
5.5
5.5
5.5
1.0
1
–171
–164
–91
–89
–89
–91
–85
–67
–88
–88/–90
–90/–94
–90/–94
–90/–94
–80/–82
–65/–70
–80/–82
V MIN / V最大
V MIN / V最大
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
A
典型值
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dBc的/赫兹(典型值)
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
dB典型值
测试条件/评论
V
DD
1, V
DD
2
V
DD
1, V
DD
2
6.0 V
9.0毫安典型
11.0毫安典型
13.0毫安典型
15毫安典型
5.0毫安典型
7.0毫安典型
9.0毫安典型
11毫安典型
4.5毫安典型
4.5毫安典型
4.5毫安典型
4.5毫安典型
T
A
= 25℃ ,0.55 mA典型
@ 25 kHz的PFD频率
@ 200kHz的PFD频率
@ VCO输出
@ 1 kHz偏置和200kHz的PFD频率
见注11
见注11
见注11
见注11
@ 200 Hz的偏移和10kHz的PFD频率
@ 1 kHz偏置和1 MHz PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
见注11
见注11
见注11
见注11
@ 10千赫/ 20 kHz和10 kHz的PFD频率
@ 200千赫/ 400 kHz和200 kHz的PFD频率
笔记
1
工作温度范围如下: B版本: -40 ° C至+ 85°C 。
2
在B芯片特定网络阳离子给出的典型值。
3
这是CMOS计数器的最高工作频率。的分频器值的选择应确保该IF / RF输入被分频为频率为
超过此值以下。
4
V
DD
1 = V
DD
2 = 3 V ;对于V
DD
1 = V
DD
2 = 5 V ,采用CMOS兼容的水平,T
A
= 25°C.
5
通过设计保证。样品测试,以确保合规性。
6
V
DD
= 3 V ; P = 16 ; RF
IN
= 900 MHz的; IF
IN
= 540兆赫,T
A
= 25°C.
7
该合成器的相位噪声基底估计通过测量带内相位噪声的VCO的输出中减去上20 logN (N为N分频器值)。看
TPC 16 。
8
相位噪声测量与EVAL - ADF4210 / ADF4212 / ADF4213EB评估板和HP8562E频谱分析仪。频谱分析仪提供了
REFIN的合成(F
REFOUT
= 10 MHz的@ 0 dBm的) 。
9
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
IF
= 540 MHz的; N = 2700 ;环路B / W = 20千赫。
10
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 900 MHz的; N = 4500 ;环路B / W = 20千赫。
11
如附注10家上市条件相同。
12
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 200千赫;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1750 MHz的; N = 8750 ;环路B / W = 20千赫。
13
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 10千赫;偏移频率= 200赫兹; F
RF
= 1750 MHz的; N = 175000 ;环的B / W = 1千赫。
14
f
REFIN
= 10 MHz的; F
PFD
= 1 MHz的;偏移频率= 1千赫; F
RF
= 1960 MHz的; N = 9800 ;环路B / W = 20千赫。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
REV 。一
–3–
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
(V 1 = V 2 = 3 V 10%, 5 V
时序特性
= AGND = DGND = 0 V ; T =
DD
DD
IF
IF
A
10%; V
DD
1, V
DD
2
V
P
1, V
P
2
6 V
给T
最大
除非另有说明)。
10% ; AGND
RF
= DGND
RF
参数
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
在极限
T
给T
最大
(B版)
10
10
25
25
10
20
单位
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
ns(最小值)
测试条件/评论
数据到时钟建立时间
数据时钟保持时间
时钟高时间
时钟低电平持续时间
时钟到LE建立时间
LE脉宽
笔记
通过设计保证,但未经生产测试。
特定网络阳离子如有更改,恕不另行通知。
t
3
时钟
t
4
t
1
数据
DB20
(MSB)
DB19
t
2
DB2
DB1
(控制位C2 )
DB0 ( LSB )
(控制位C1 )
t
6
LE
t
5
LE
图1.时序图
绝对最大额定值
1, 2
(T
A
= 25 ° C除非另有说明)
V
DD
1至GND
3
。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
DD
1至V
DD
2 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+0.3 V
V
P
1, V
P
2至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+7 V
V
P
1, V
P
2至V
DD
1 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -0.3 V至+5.5 V
数字I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 -0.3 V到DV
DD
+ 0.3 V
模拟量I / O电压为GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V到V
P
+ 0.3 V
REF
IN
中,Rf
IN
A, RF
IN
B,
IF
IN
A, IF
IN
B至GND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V至VDD + 0.3 V
工作温度范围
工业(B版) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40∞C至+ 85∞C
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65∞C至+ 150∞C
最高结温。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150℃
TSSOP
θ
JA
热阻抗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 150.4∞C / W
CSP
θ
JA
(桨焊接) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 122 ° C / W
CSP
θ
JA
(桨无焊接) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 216 ° C / W
焊接温度,焊接
气相(60秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 215℃
红外( 15秒) 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 220℃
笔记
1
注意,超出上述绝对最大额定值可能会导致perma-
新界东北损坏设备。这是一个压力只有额定值。的功能操作
器件在这些或以上的运作中列出的任何其他条件
本规范的部分将得不到保证。暴露在绝对最大额定值
长时间条件下可能影响器件的可靠性。
2
这个装置是用的ESD额定值的高性能射频集成电路
< 2千伏,它是ESD敏感。适当的预防措施应采取的处理
和组装。
3
GND = AGND = DGND = 0V。
晶体管数量
11749 (CMOS)和522 (双极) 。
小心
ESD (静电放电)敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备,可排出而不被发现。虽然
该ADF4210 / ADF4211 / ADF4212 / ADF4213具有专用ESD保护电路, per-
永久性的损坏,可能会发生在经受高能量静电放电设备。因此,
适当的ESD预防措施建议,以避免性能下降或功能丧失。
订购指南
警告!
ESD敏感器件
模型
ADF4210BRU
ADF4210BCP
ADF4211BRU
ADF4211BCP
ADF4212BRU
ADF4212BCP
ADF4213BRU
ADF4213BCP
温度范围
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
-40 ° C至+ 85°C
包装说明
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
超薄紧缩小型封装( TSSOP )
芯片级封装
–4–
封装选项*
RU-20
CP-20
RU-20
CP-20
RU-20
CP-20
RU-20
CP-20
REV 。一
*联系方式
该工厂的芯片的可用性。
ADF4210/ADF4211/ADF4212/ADF4213
引脚功能描述
引脚数
TSSOP
1
助记符
V
DD
1
功能
电源的RF部分。去耦电容到接地平面应尽可能地
尽可能到该引脚。 V
DD
1应介于2.7 V和5.5 V V值
DD
1必须有
相同的电势为V
DD
2.
电源为RF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
1.在系统中
V
DD
图1是3伏,它可以被设置为6 V和用于驱动具有调谐范围的VCO多达6五
输出从RF电荷泵。这通常被连接到一个环滤波器,驱动所述输入
到外部VCO 。
接地引脚的RF数字电路。
输入到RF预分频器。是交流耦合的RF VCO此低电平输入信号。
接地引脚的RF模拟电路。
RF / IF快速锁定模式。
参考输入。这是一个CMOS输入用作为V的标称阈值
DD
/ 2和等效输入
100 kΩ的电阻。该输入可以被驱动从一个TTL或CMOS晶体振荡器。
数字地的中频数字,接口和控制电路。
该多路输出允许使用的IF / RF锁定检测,在缩放RF , IF缩放或缩放
在外部访问的参考频率。
串行时钟输入。此串行时钟用于时钟的串行数据到寄存器。该数据是
锁存到在CLK的上升沿的24位移位寄存器。这个输入是高阻抗
CMOS输入。
串行数据输入。串行数据被加载的MSB音响首先用两个LSB被控制位。这
输入是高阻抗CMOS输入。
负荷启用, CMOS输入。当LE变为高电平时,存储在移位寄存器中的数据被加载到
的四个锁存器中的一个,使用控制比特被选择的锁存器。
在此引脚与地之间的电阻设置最大RF和IF电荷泵输出
电流。标称电压电势在R
SET
引脚为0.66 V.我之间的关系
CP
和R
SET
is
13.5
I
CP MAX
=
R
SET
所以,与
R
SET
= 2.7 k,
I
CP MAX
= 5毫安两者的RF和IF电荷泵。
接地引脚为中频模拟电路。
输入到RF预分频器。是交流耦合的IF VCO此低电平输入信号。
接地引脚的中频数字,接口和控制电路。
输出从IF电荷泵。这通常被连接到一个环滤波器,驱动所述输入
到外部VCO 。
电源为IF电荷泵。这应该是大于或等于V
DD
2.在系统中
V
DD
图2是3伏,它可以被设置为6 V和用于驱动具有调谐范围的VCO多达6五
电源为IF ,数字和接口部分。去耦电容到地平面应
被放置在尽可能靠近此引脚。 V
DD
2应介于2.7 V和5.5 V V值
DD
2
必须具有相同的电势为V
DD
1.
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
V
P
1
CP
RF
DGND
RF
RF
IN
AGND
RF
FL
O
REF
IN
DGND
IF
MUXOUT
CLK
12
13
14
数据
LE
R
SET
15
16
17
18
19
20
AGND
IF
IF
IN
DGND
IF
CP
IF
V
P
2
V
DD
2
销刀豆网络gurations
TSSOP
V
P
1
CP-20
V
DD
1
V
DD
2
CP
IF
16
15
DGND
IF
14
IF
IN
13
AGND
IF
12
R
SET
11
LE
V
DD
1
1
V
P
1
2
CP
RF 3
DGND
RF 4
RF
在5
AGND
RF 6
20
V
DD
2
20
19
18 17
ADF4210/
ADF4211/
ADF4212/
ADF4213
19
V 2
P
18
CP
IF
17
DGND
IF
16
IF
IN
CP
RF 1
DGND
RF 2
RF
IN 3
AGND
RF
FL
O
4
5
ADF4210/
ADF4211/
ADF4212/
ADF4213
顶视图
(不按比例)
6
7
8
9
10
顶视图
15
AGND
IF
(不按比例)
14
R
SET
FL
O 7
13
LE
12
数据
11
CLK
REF
在8
DGND
如果9
MUXOUT
10
REF
IN
CLK
V
P
2
DGND
IF
REV 。一
–5–
MUXOUT
数据
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    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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联系人:刘先生
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