a
特点
4个14位DAC，在一个封装中
电压输出
独立的失调调整每路输出
5 V参考范围
10 V最大输出电压范围
清除功能，以用户定义的代码
44引脚MQFP封装
应用
过程控制
自动测试设备
通用仪器
概述
LC MOS
四通道14位DAC
AD7836
该AD7836包含在一个单片4个14位DAC
芯片。它的输出电压用的满量程范围
±
10 V
从参考电压
±
5 V.
的AD7836接受14位并行加载的数据从克斯特
的控制下，最终公交车到一个输入锁存器
WR ， CS
和DAC通道地址引脚， A0 -A2 。
DAC输出单独更新，在接收新
数据。此外， SEL输入可用于输入的用户
在DAC会员E编程值以所有DAC ，从而设置
所有DAC的输出电压，以相同的水平。的内容
DAC数据寄存器不受由SEL输入。
每个DAC的输出缓冲与两个放大器的增益为
其中外部DAC偏置电压可以通过插入
DUTGNDx引脚。
在AD7836可在一个44引脚MQFP封装。
2
功能框图
V
CC
V
SS
V
DD
V
REF
（ + ） A V
REF
(–)A
V
REF
（ + ） B V
REF
(–)B
X1
X1
AD7836
14
数据
REG
A
14
14
MUX
DAC A
V
OUT
A
X1
X1
R
R
DUTGND一
MUX
DAC B
V
OUT
B
R
DB13
14
输入
卜FF器
14
数据
REG
B
DB0
WR
CS
数据
REG
C
A0
A1
A2
地址
解码
R
MUX
DAC B
DUTGND B
V
OUT
C
R
X1
数据
REG
D
MUX
DAC
V
OUT
D
R
数据
REG
E
X1
X1
R
DUTGND
X1
R
DUTGND
DGND
AGND
SEL
V
REF
（ + ） D V
REF
(–)D
V
REF
（ + ）C V
REF
(–)C
CLR
REV 。一
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ADI公司， 1999
AD7836–SPECIFICATIONS
参数
准确性
决议
相对精度
微分非线性
满量程误差
零刻度误差
增益误差
增益温度COEF网络cient
2
直流串扰
2
参考输入
直流输入电阻
输入电流
V
REF
（ + ）范围
V
REF
（ - ）范围
[V
REF
(+) – V
REF
(–)]
输出特性
输出电压摆幅
短路电流
阻性负载
容性负载
数字输入
V
INH
，输入高电压
V
INL
，输入低电压
I
INH
，输入电流
C
IN
，输入电容
电源要求
V
CC
V
DD
V
SS
电源灵敏度
-full
规模/ ΔV
DD
-full
规模/ ΔV
SS
I
CC
I
DD
I
SS
A
14
±
2
±
0.9
±
8
±
8
±
2
20
40
50
100
±
1
0/+5
–5/0
2/10
(V
CC
= +5 V 5%; V
DD
= +15 V 5%; V
SS
= -15 V的5％ ; AGND = DGND = DUTGND
= 0 V ;
L
= 5K，和C
L
= 50 pF到GND ，T
A1
= T
民
给T
最大
中，除非另有说明）
测试条件/评论
单位
位
LSB（最大值）
LSB（最大值）
LSB（最大值）
LSB（最大值）
mV的典型
FSR PPM /°C的典型值
PPM FSR / ° C最大值
V
最大
MΩ （典型值）
A
最大
V最小/最大
V最小/最大
V最小/最大
保证单调过热
V
REF
(+) = +5 V, V
REF
（ - ） = -5V。通常在
±
1 LSB
V
REF
(+) = +5 V, V
REF
（ - ） = -5V。通常在
±
1 LSB
V
REF
(+) = +5 V, V
REF
(–) = –5 V
参见术语。
L
= 5 k
每输入。通常
±
20 nA的
对于指定的性能。可以低至0 V，
但性能没有保证
2
×
(V
REF
(–)+[V
REF
(+)-V
REF
（ - ）] D） - V
DUTDGN
到0V
到0V
±
10
25
5
50
2.4
0.8
±
10
10
5.0
15.0
–15.0
110
100
0.5
8
14
14
V分钟
最大mA
kΩ的分
pF的最大
V分钟
V最大
A
最大
pF的最大
V NOM
V NOM
V NOM
dB典型值
dB典型值
最大mA
最大mA
最大mA
最大mA
总计所有引脚
±
对于指定的性能5 ％
±
对于指定的性能5 ％
±
对于指定的性能5 ％
V
INH
= V
CC
, V
INL
= DGND 。动态电流
V
INH
= 2.4 V分钟，V
INL
= 0.8 V最大
输出空载。通常情况下7毫安
输出空载。通常情况下7毫安
AC性能特点
参数
动态性能
输出电压建立时间
数模转换毛刺脉冲
直流输出阻抗
通道到通道隔离
DAC至DAC串扰
数字串扰
数字馈通
输出噪声谱密度
@ 1千赫
笔记
1
温度范围：版本： -40 ° C至+ 85°C
2
通过设计保证。
特定网络阳离子如有更改，恕不另行通知。
（这些特性包括用于设计参考，不
受生产测试）。
测试条件/评论
满量程更改为
±
1/2 LSB 。 DAC锁存器的内容或者
装有全0和全1
与V测
REF
(+) = +5 V, V
REF
（ - ） = -5 V. DAC锁存器
另外满载1FFF十六进制和十六进制2000 。不依赖
负载条件
请参阅术语
请参阅术语
请参阅术语
穿心到DAC输出在测试由于更改数字
输入代码以另一种转换器
输入总线活动对DAC输出在测试
全1载入DAC 。 V
REF
(+) = V
REF
(–) = 0 V
A
16
150
0.3
115
10
10
0.2
40
单位
s
典型值
nV-s表示，典型值
最大
dB典型值
nV-s表示，典型值
nV-s表示，典型值
nV-s表示，典型值
内华达州/ √Hz的典型值
–2–
REV 。一
AD7836
时序特定网络阳离子
1
参数
t
1
t
2
t
3
t
4
t
5
t
6
t
7
t
8
t
9
t
10
15
0
0
0
44
15
4.5
44
16
300
(V
CC
= +5 V
5%; V
DD
= +15 V
5%; V
SS
= –15 V
5％ ; AGND = DGND = 0V）
描述
A0，A1， A2到
WR
建立时间
A0，A1， A2到
WR
保持时间
CS
to
WR
建立时间
WR
to
CS
保持时间
WR
脉宽
数据建立时间
数据保持时间
WR
脉冲间隔
建立时间
CLR
脉冲激活时间
在T限制
敏
T
最大
单位
ns（最小值）
ns（最小值）
ns（最小值）
ns（最小值）
ns（最小值）
ns（最小值）
ns（最小值）
ns（最小值）
s
典型值
ns（最大值）
笔记
1
所有的输入信号是从1.6V的电压电平中指定与指定tR = tF = 5纳秒（10％至90％的5伏），并定时
2
上升和下降时间应不超过50纳秒。
特定网络阳离子如有更改，恕不另行通知。
t
1
A0, A1, A2
t
2
t
3
CS
t
4
t
8
WR
t
5
t
6
t
7
数据
t
9
V
OUT
t
10
CLR
V
OUT
图1.时序图
REV 。一
–3–
AD7836
绝对最大额定值
1
(T
A
= + 25 ° C除非另有说明）
V
CC
到DGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 - 0.3 V ， 7 V或V
DD
+ 0.3 V
（取低级）
V
DD
到AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ， 17 V
V
SS
到AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 +0.3 V， -17 V
AGND至DGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ， 0.3 V
数字输入到DGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 0.3 V ，V
CC
+ 0.3 V
V
REF
（ + ），以V
REF
(–) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . –0.3 V, +18 V
V
REF
（ + ）到AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 V
SS
– 0.3 V, V
DD
+ 0.3 V
V
REF
（ - ）至AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 V
SS
– 0.3 V, V
DD
+ 0.3 V
DUTGND到AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 V
SS
– 0.3 V, V
DD
+ 0.3 V
V
OUT
（ A- D）为AGND 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 V
SS
– 0.3 V, V
DD
+ 0.3 V
工作温度范围
工业（A版） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -40 ° C至+ 85°C
存储温度范围。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 -65∞C至+ 150∞C
结温。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 150°C
MQFP封装，功率耗散。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 480毫瓦
θ
JA
热阻抗。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 95 ° C / W
焊接温度，焊接
气相（60秒） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 215℃
红外（ 15秒） 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 。 + 220℃
笔记
1
条件超过上述“绝对最大额定值”，可能会导致
永久损坏设备。这是一个额定值只和功能
该设备在这些或以上在标明的任何其他条件的操作
本规范的操作部分，是不是暗示。暴露在绝对
最大额定值条件下工作会影响器件的可靠性。
2
高达100 mA的瞬态电流不会造成SCR闩锁。
订购指南
模型
AD7836AS
温度
范围
-40 ° C至+ 85°C
线性
错误
（最低有效位）
±
2
DNL
（最低有效位）
±
0.9
包
选项*
S-44
* S =塑料四方扁平封装（ MQFP ） 。
小心
ESD （静电放电）敏感器件。静电荷高达4000 V容易
积聚在人体和测试设备，可排出而不被发现。
虽然AD7836具有专用ESD保护电路，可能永久的损坏
发生在受到高能静电放电设备。因此，适当的ESD
预防措施建议，以避免性能下降或功能丧失。
警告！
ESD敏感器件
–4–
REV 。一
AD7836
引脚说明
针助记符
V
CC
V
SS
V
DD
DGND
AGND
V
REF
（ + ） A，V
REF
(–)A
V
REF
（ + ） B，V
REF
(–)B
V
REF
（ + ）C ，V
REF
(–)C
V
REF
（ + ）D ，V
REF
(–)D
V
OUT
一。 。 。 V
OUT
D
CS
DB0 。 。 。 DB13
A0, A1, A2
CLR
描述
逻辑电源; +5 V
±
5%.
负模拟电源; -15 V
±
5%.
正模拟电源; + 15V
±
5%.
数字地。
模拟地。
参考输入的DAC A.这些参考电压被称为AGND 。
参考输入的DAC B.这些参考电压被称为AGND 。
参考输入的DAC C.这些参考电压被称为AGND 。
参考输入的DAC D.这些参考电压被称为AGND 。
DAC输出。
电平触发的片选输入（低电平有效） 。该器件被选中当此输入为低电平。
并行数据输入。的AD7836可以接受DB0到DB13 ，其中直链的14位并行字
DB13为MSB ，而DB0则为LSB的。
地址输入。 A0，A1和A2的译码以选择5输入锁存器的数据传送之一。
异步清零输入（电平触发，低电平有效） 。当此输入为低电平时，所有的模拟输出
切换到上DUTGND销的外部设置电势。数据寄存器的内容A到E的
没有影响，当
CLR
引脚被拉低。当
CLR
被带回高， DAC输出恢复
回它们的原始输出，通过在它们的数据寄存器中的数据来确定。
电平触发的写输入（低电平有效） ，活性当与一起使用
CS
将数据写入到
的AD7836输入缓冲器。数据被锁存到所选择的数据寄存器上的上升沿
WR 。
设备检测接地DAC A. Vout的一个是相对于应用到这个引脚上的电压。
设备检测接地DAC B. Vout的B是相对于应用到这个引脚上的电压。
设备检测接地DAC C. Vout的C的参考应用到这个引脚上的电压。
设备检测接地DAC D. Vout的D为参考施加于此引脚的电压。
选择脚，高电平有效电平触发输入。当SEL输入为高电平时，用户在设定值
DATAREG ê将被加载到所有DAC寄存器，并相应地更新DAC输出。 CON组
其他数据的REG （ A- D）的帐篷也不会受到SEL引脚。
引脚配置
DUTGND
DUTGND
WR
DUTGND一
DUTGND B
DUTGND
DUTGND
SEL
V
REF
(+)D
V
REF
(–)D
V
OUT
D
DB13
DB12
DB11
DB10
DB9
33 32 31 30 29 28 27 26 25 24 23
V
OUT
C 34
V
REF
(–)C 35
V
REF
(+)C 36
AGND 37
NC 38
V
DD
39
NC 40
V
SS
41
V
REF
(+)A 42
V
REF
(–)A 43
V
OUT
A 44
1
DUTGND一
销1
识别码
DB8
22 DB7
21 DB6
20 DB5
19 DB4
AD7836
顶视图
（不按比例）
18 DB3
17 DB2
16 DB1
15 DB0
14 DGND
13 V
CC
12
CLR
2
V
REF
(+)B
3
V
REF
(–)B
4
V
OUT
B
5
DUTGND B
6
A2
7
A1
8
A0
9 10 11
SEL
CS
WR
NC =无连接
REV 。一
–5–
QQ：2880707522 复制
