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SN74ABT18502

扫描测试设备

18位寄存总线收发器

SCBS753 - 2002年2月

德州仪器会员

Widebus家庭

UBT收发器结合了D型

锁存器和D型触发器的

操作透明，锁定，或

时钟模式

兼容IEEE标准1149.1-1990

（JTAG）的测试访问端口（TAP）和

边界扫描结构

包括D型触发器和控制

电路以提供复

存储和实时数据传输

两个边界扫描单元（基站控制器），每I / O

更大的灵活性

SCOPE指令集

- IEEE标准1149.1-1990要求

说明，可选INTEST和

P1149.1A CLAMP和HIGHZ

- 并行签名分析（ PSA）在

输入，带屏蔽选项

- 伪随机向量生成

（ PRPG ）从输出

- 采样输入/输出切换（ TOPSIP ）

- 二进制计数从输出

- 设备标识

- 偶校验操作码

PM PACKAGE

（ TOP VIEW ）

64 63 62 61 60 59 58 57 56 55 54 53 52 51 50 49

1A3

1A4

1A5

GND

1A6

1A7

1A8

1A9

2A1

2A2

2A3

GND

2A4

2A5

2A6

1A2

1A1

1OEAB

GND

1LEAB

1CLKAB

TDO

TMS

1CLKBA

1LEBA

1OEBA

GND

1B1

1B2

1B3

17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32

1B4

1B5

1B6

GND

1B7

1B8

1B9

2B1

2B2

2B3

2B4

GND

2B5

2B6

2B7

请注意，一个重要的通知有关可用性，标准保修，并且在关键的应用程序中使用

德州仪器公司的半导体产品和免责条款及其出现在此数据表的末尾。

SCOPE ， UBT和Widebus是德州仪器的商标。

PRODUCTION数据信息为出版日期。

产品符合每德州仪器条款规范

标准保修。生产加工并不包括

所有测试参数。

2A7

2A8

2A9

GND

2OEAB

2LEAB

2CLKAB

TDI

TCK

2CLKBA

2LEBA

GND

2OEBA

2B9

2B8

版权

2002年，德州仪器

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN74ABT18502

扫描测试设备

18位寄存总线收发器

SCBS753 - 2002年2月

描述

该SN74ABT18502扫描测试设备与18位通用总线收发器是的一员

德州仪器范围

可测试性IC系列。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990

边界扫描，方便的复杂电路板组件的测试。扫描获得的测试电路是

通过四线测试访问端口（TAP ）接口来完成。

在正常模式下，该设备是一种将D型锁存器和D型的18位通用总线收发器

触发器，使数据流在透明锁存，或时钟模式。该装置可被使用，也可以作为2个9位

收发器或1个18位的收发器。测试电路可以通过TAP取快照的样品被激活

数据显示，在器件引脚或在边界测试电池进行自检。激活TAP

在正常模式中，不影响范围通用总线收发器的功能操作。

在每个方向上的数据流是由输出使能（ OEAB和OEBA ），锁存使能（ LEAB和LEBA ）控制，

和时钟（ CLKAB和CLKBA ）输入。对于A到B的数据流，该设备工作在透明模式时，

LEAB高。当LEAB为低电平时， A总线的数据被锁存，而CLKAB被保持在一个静态的低或高逻辑电平。

否则，如果LEAB低， A总线的数据存储在一个低到高的CLKAB的过渡。当OEAB低，

B输出被激活。当OEAB为高电平时， B输出端处于高阻抗状态。 B对数据流

类似A到B的数据流量，而是使用OEBA ， LEBA和CLKBA投入。

在测试模式中，所述范围的通用总线收发器的正常操作被禁止，并且测试电路

被使能，以观察和控制该设备的I / O的边界。当启用时，测试电路进行

根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议的边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚用来观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），

测试数据输出（TDO ），测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK ）。另外，测试电路可以执行

其他测试功能，例如对数据的输入和伪随机模式并行签名分析（PSA）的

代（ PRPG ）从数据输出。所有的测试和扫描操作同步到TAP接口。

附加的灵活性是通过为每个使用2边界扫描单元（基站控制器）的设置在测试模式

I / O引脚。这允许独立的测试数据被捕获，并被迫在任一总线（ A或B）。一个PSA /二进制计数

高达（ PSA / COUNT ）指令还包括以缓解内存和其他电路中的二进制测试

数寻址方案是非常有用的。

订购信息

-40 ° C至85°C

包装

LQFP - PM

TRAY

订购

产品型号

SN74ABT18502PM

TOP- SIDE

记号

ABT18502

包装图纸，标准包装数量，热数据，符号和PCB设计

准则可在www.ti.com/sc/package 。

功能表

（正常模式下，每个寄存器）

输入

OEAB

LEAB

CLKAB

↑

产量

B0§

表示A到B的数据流。 B-到一个数据流是相似

但使用OEBA ， LEBA和CLKBA 。

输出指示稳态输入前级

条件成立

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN74ABT18502

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功能框图

边界扫描寄存器（ BSR ）

1LEAB

1CLKAB

1OEAB 62

1LEBA 54

1CLKBA

1OEBA

其中9个频道

1A1

1B1

2LEAB 22

2CLKAB

2OEAB

2LEBA

2CLKBA

2OEBA 30

其中9个频道

2A1

2B1

旁路寄存器

边界控制

寄存器（ BCR ）

鉴定

寄存器（ IDR ）

VCC

指令

寄存器（ IR）的

TDO

TDI

TMS

TCK

龙头

调节器

邮政信箱655303

达拉斯，德克萨斯州75265

SN74ABT18502

扫描测试设备

18位寄存总线收发器

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终端功能

引脚名称

GND

TCK

TDI

TDO

TMS

VCC

1A1–1A9,

2A1– 2A9

1B1–1B9,

2B1– 2B9

1CLKAB ， 1CLKBA ，

2CLKAB ， 2CLKBA

1LEAB ， 1LEBA ，

2LEAB ， 2LEBA

1OEAB ， 1OEBA ，

2OEAB ， 2OEBA

地

测试时钟。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。该装置的测试操作是同步的，以测试

时钟。捕获数据在TCK的上升沿和输出在TCK的下降沿发生变化。

测试数据输入。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。 TDI是用于通过移动数据的串行输入

指令寄存器（ IR）或选择的数据寄存器（ DR）。内部上拉的力量TDI为高电平，如果悬空。

测试数据输出。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。 TDO是通过将数据串行输出

IR或选定的DR 。

测试模式选择。其中四个引脚由IEEE标准1149.1-1990要求。 TMS输入通过TAP指示装置

控制器的状态。一个内部上拉力量TMS为高电平，如果悬空。

电源电压

正常功能的总线I / O端口（见正常模式逻辑函数表）

正常功能B总线的I / O端口（参见用于正常模式逻辑函数表）

正常功能的时钟输入端（见正常模式逻辑函数表）

正常功能锁存使能（见正常模式逻辑函数表）

正常功能输出使能（见正常模式逻辑函数表）

描述

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SN74ABT18502

扫描测试设备

18位寄存总线收发器

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测试结构

串行测试信息通过四线测试总线或TAP符合IEEE标准的设备传递

1149.1-1990 。测试说明，测试数据和测试控制信号沿着这条串行总线测试都通过。该

TAP控制器监视来自测试总线，即TCK和TMS两个信号。 TAP控制器的功能

是提取同步（ TCK ）和国家控制（ TMS）的信号从测试总线和生成

在测试结构中的相应器件的片上的控制信号。图1示出的TAP控制器的状态

图。

TAP控制器是完全同步的TCK信号。输入数据被捕获在TCK的上升沿和

在TCK的下降沿输出数据的变化。此方案确保数据被捕获的有效期为充分

二分之一的TCK时钟周期。

该功能框图给出了IEEE标准1149.1-1990四线测试总线和边界扫描

体系结构和测试总线，TAP控制器，并且测试寄存器之间的关系。如图所示，

该器件包含一个8位指令寄存器（ IR ）和四个测试数据寄存器（ DRS）：一个84位的边界扫描

寄存器（ BSR ），一个21位的边界控制寄存器（ BCR ）， 1位旁路寄存器和一个32位的设备

识别寄存器（ IDR ）。

测试逻辑复位

TMS = H

TMS = L

TMS = H

运行测试/空闲

TMS = L

选择DR扫描

TMS = L

TMS = H

捕捉-DR

TMS = L

按住Shift -DR

TMS = L

TMS = H

Exit1-DR

TMS = L

暂停-DR

TMS = L

TMS = H

TMS = L

Exit2-DR

TMS = H

更新DR

TMS = H

TMS = L

Exit2-IR

TMS = H

更新IR

TMS = H

TMS = L

TMS = H

Exit1-IR

TMS = L

暂停-IR

TMS = L

TMS = H

捕获红外

TMS = L

按住Shift -IR

TMS = L

TMS = H

选择红外扫描

TMS = L

TMS = H

图1. TAP控制器状态图

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