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2SK3562
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSVI )
2SK3562
开关稳压器的应用
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 0.9Ω ( TYP。)
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 5.0S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 600 V)
增强型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
6
24
40
345
6
4
150
-55~150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1 :门
2 :排水
3 :源
单位
V
V
V
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
2
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
16.8毫亨,我
AR
=
6 A,R
G
=
25
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
3
1
1
2004-07-01
2SK3562
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
6 A
& LT ;
1%, t
w
=
10
s
=
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
测试条件
V
GS
= ±
25 V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±
10
A,V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
3 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
3 A
典型值。
最大
单位
±
30
600
2.0
0.9
5.0
1050
10
110
20
40
35
130
28
16
12
±
10
100
A
V
A
V
V
4.0
1.25
1.2
S
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
pF
10 V
V
GS
0V
50
I
D
=
3 A
V
OUT
ns
R
L
=
66
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
典型值。
最大
6
24
单位
A
A
V
ns
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A/
s
1000
7.0
1.7
C
记号
K3562
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2004-07-01
2SK3562
I
D
– V
DS
5
常见
来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
15
4.8
10
6
5
4.6
3
4.4
2
4.2
1
VGS
=
4 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
10,15
5.2
I
D
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
4
8
5
6
4.8
4.6
4
4.4
2
4.2
VGS
=
4 V
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
V
DS
– V
GS
V
DS
(V)
10
常见的来源
10
常见的来源
Tc
=
25℃
8
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
8
VDS
=
20 V
脉冲测试
6
漏源电压
6
ID
=
6 A
4
4
Tc
= 55°C
2
100
25
2
3
1.5
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
100
10
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
25
100
1
常见的来源
VDS
=
20 V
0.1
0.1
脉冲测试
1
10
1
VGS
=
10 V½15V
0.1
0.1
1
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2004-07-01
2SK3562
R
DS ( ON)
TC =
5
10
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m
)
反向漏电流I
DR
(A)
常见的来源
脉冲测试
4
常见的来源
5
3
Tc
=
25°C
脉冲测试
3
ID
=
6A
2
3
VGS
=
10 V
1.5
1
1
0.5
10
0.3
5
VGS
=
0,
1
V
0.8
1
1.2
3
0.1
0
0.2
0.4
1
0.6
0
80
40
0
40
80
120
160
外壳温度
Tc
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
10000
5
V
th
TC =
(PF )
西塞
1000
栅极阈值电压
V
th
(V)
4
电容C
3
100
科斯
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
0
80
40
0
40
80
120
160
10种常见来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
1
3
5
10
30 50
100
CRSS
漏源电压
V
DS
(V)
外壳温度
Tc
(°C)
P
D
TC =
动态输入/输出
特征
V
DS
(V)
40
400
VDS
VDD
=
100 V
200
16
漏源电压
30
300
12
20
200
VGS
100
400
常见的来源
ID
=
6 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
8
10
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
10
20
30
40
0
50
外壳温度
Tc
(°C)
总栅极电荷
Q
g
( NC )
4
2004-07-01
栅极 - 源极电压V
GS
(V)
50
500
20
漏极功耗
P
D
(W)
2SK3562
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
单脉冲
0.01
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.01
0.001
10μ
100μ
10½
100½
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
100
s
*
500
E
AS
– T
ch
漏电流I
D
(A)
10
ID MAX(连续)
*
1毫秒
*
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
400
300
1
直流操作
Tc
=
25°C
200
100
单非重复性
0.1
脉冲
Tc=25℃
曲线必须降低
线性地增加
0
25
50
75
100
125
150
0.01
1
温度。
VDSS最大
100
1000
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
15 V
测试电路
R
G
=
25
V
DD
=
90 V,L
=
16.8mH
电波表
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDD
VDSS
5
2004-07-01
2SK3562
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSVI )
2SK3562
开关稳压器的应用
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 0.9
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 5.0 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 600 V)
增强型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
6
24
40
345
6
4
150
-55到150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
单位
V
V
V
1 :门
2 :排水
3 :源
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” / “降额概念和可靠性
的方法“),并从个人数据的可靠性(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
° C / W
° C / W
1
2
注1 :确保通道温度不超过150 。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
16.8毫亨,我
AR
=
6 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
3
1
2010-01-29
2SK3562
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
6 A
1%, t
w
=
10
μs
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
50
Ω
I
D
=
3 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
3 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
3 A
±30
600
2.0
1.2
典型值。
0.9
5.0
1050
10
110
20
40
35
130
28
16
12
最大
±10
100
4.0
1.25
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
66
Ω
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏反向电流(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
1000
7.0
最大
6
24
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
注4 :根据地段第一个行标识产品的说明
标签。
没有下划线: [铅] /包括> MCV
下划线: [ [G ] /符合RoHS标准或[ G] ] / RoHS指令[铅]
K3562
产品型号(或缩写代码)
环境问题,如产品的RoHS指令的兼容性。
LOT号
注4
请联系您的东芝销售代表了解详细信息,以
RoHS指令的指令欧洲议会的2002/95 / EC
与2003年1月27日,安理会对使用的限制
某些有害物质的电器和电子设备。
2
2010-01-29
2SK3562
I
D
– V
DS
5
常见
来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
15
4.8
10
6
5
4.6
3
4.4
2
4.2
1
VGS
=
4 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
10,15
5.2
I
D
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
(A)
(A)
4
8
5
漏电流I
D
漏电流I
D
6
4.8
4.6
4
4.4
2
4.2
VGS
=
4 V
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
V
DS
(V)
10
常见的来源
10
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25℃
8
脉冲测试
(A)
8
VDS
=
20 V
脉冲测试
漏电流I
D
6
漏源电压
6
ID
=
6 A
4
4
Tc
= 55°C
2
100
25
0
2
3
1.5
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
100
10
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
25
100
1
常见的来源
VDS
=
20 V
0.1
0.1
脉冲测试
1
10
1
VGS
=
10 V½15V
0.1
0.1
1
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2010-01-29
2SK3562
R
DS ( ON)
TC =
5
10
常见的来源
I
DR
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
3
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m
Ω)
反向漏电流
I
DR
(A)
脉冲测试
4
5
3
ID
=
6A
2
3
VGS
=
10 V
1.5
1
1
0.5
10
0.3
5
VGS
=
0,
1
V
0.8
1
1.2
3
0
80
40
0
40
80
120
160
0.1
0
0.2
0.4
1
0.6
外壳温度
Tc
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
10000
5
V
th
TC =
(PF )
1000
西塞
栅极阈值电压
V
th
(V)
4
C
3
电容
100
科斯
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
0
80
40
0
40
80
120
160
10种常见来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
1
3
5
10
30 50
100
CRSS
漏源电压
V
DS
(V)
外壳温度
Tc
(°C)
P
D
TC =
V
DS
(V)
50
500
动态输入/输出
特征
(V)
栅源电压
V
GS
20
漏极功耗
P
D
(W)
40
400
VDS
VDD
=
100 V
200
16
30
漏源电压
300
12
20
200
VGS
100
400
常见的来源
ID
=
6 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
8
10
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
10
20
30
40
0
50
外壳温度
Tc
(°C)
总栅极电荷
Q
g
( NC )
4
2010-01-29
2SK3562
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
单脉冲
0.01
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.01
0.001
10μ
100μ
10½
100½
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
100
μs
*
500
E
AS
– T
ch
(A)
10
ID MAX(连续)
1毫秒
*
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
400
300
漏电流I
D
1
直流操作
Tc
=
25°C
200
100
*
单非重复性
0.1
脉冲
Tc=25℃
曲线必须降低
线性地增加
0
25
50
75
100
125
150
0.01
1
温度。
VDSS最大
100
1000
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
16.8mH
波形
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDD
VDSS
5
2010-01-29
2SK3562
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSVI )
2SK3562
开关稳压器的应用
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 0.9Ω ( TYP。)
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 5.0S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 600 V)
增强型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
6
24
40
345
6
4
150
-55~150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
单位
V
V
V
1 :门
2 :排水
3 :源
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
° C / W
° C / W
1
2
注1 :确保通道温度不超过150 。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
16.8毫亨,我
AR
=
6 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
3
1
2006-11-08
2SK3562
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
6 A
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
50
Ω
I
D
=
3 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
3 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
3 A
±30
600
2.0
1.2
典型值。
0.9
5.0
1050
10
110
20
40
35
130
28
16
12
最大
±10
100
4.0
1.25
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
66
Ω
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
1000
7.0
最大
6
24
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
K3562
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-08
2SK3562
I
D
– V
DS
5
常见
来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
15
4.8
10
6
5
4.6
3
4.4
2
4.2
1
VGS
=
4 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
10,15
5.2
I
D
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
(A)
(A)
4
8
5
漏电流I
D
漏电流I
D
6
4.8
4.6
4
4.4
2
4.2
VGS
=
4 V
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
V
DS
(V)
10
常见的来源
10
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25℃
8
脉冲测试
(A)
8
VDS
=
20 V
脉冲测试
漏电流I
D
6
漏源电压
6
ID
=
6 A
4
4
Tc
= 55°C
2
100
25
0
2
3
1.5
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
100
10
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
25
100
1
常见的来源
VDS
=
20 V
0.1
0.1
脉冲测试
1
10
1
VGS
=
10 V½15V
0.1
0.1
1
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-08
2SK3562
R
DS ( ON)
TC =
5
10
I
DR
– V
DS
反向漏电流I
DR
(A)
常见的来源
5
3
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(m
Ω)
常见的来源
脉冲测试
4
3
ID
=
6A
2
3
VGS
=
10 V
1.5
1
1
0.5
10
0.3
5
VGS
=
0,
1
V
0.8
1
1.2
3
0.1
0
0.2
0.4
1
0.6
0
80
40
0
40
80
120
160
外壳温度
Tc
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
10000
5
V
th
TC =
(PF )
1000
西塞
栅极阈值电压
V
th
(V)
4
C
3
电容
100
科斯
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
0
80
40
0
40
80
120
160
10种常见来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
1
3
5
10
CRSS
30 50
100
漏源电压
V
DS
(V)
外壳温度
Tc
(°C)
P
D
TC =
V
DS
(V)
50
500
动态输入/输出
特征
(V)
栅源电压
V
GS
20
漏极功耗
P
D
(W)
40
400
VDS
VDD
=
100 V
200
16
漏源电压
30
300
12
20
200
VGS
100
400
常见的来源
ID
=
6 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
8
10
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
10
20
30
40
0
50
外壳温度
Tc
(°C)
总栅极电荷
Q
g
( NC )
4
2006-11-08
2SK3562
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
单脉冲
0.01
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.01
0.001
10μ
100μ
10½
100½
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
100
μs
*
500
E
AS
– T
ch
(A)
10
ID MAX(连续)
*
1毫秒
*
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
400
300
漏电流I
D
1
直流操作
Tc
=
25°C
200
100
单非重复性
0.1
脉冲
Tc=25℃
曲线必须降低
线性地增加
0
25
50
75
100
125
150
0.01
1
温度。
VDSS最大
100
1000
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
16.8mH
电波表
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2006-11-08
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    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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    -
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地址:深圳市福田区华强北振兴路101号华匀大厦2栋5楼508-510室 本公司可以开13%增值税发票 以及3%普通发票!!
2SK3562
TOSHIBA
2016+
6523
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只做进口原装现货!或订货假一赔十!
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联系人:李小姐
地址:深圳市福田区华强北振兴路101号华匀大厦2栋5楼508-510室 本公司可以开13%增值税发票 以及3%普通发票!!
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2016+
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联系人:张
地址:福田区上步工业区505栋六楼608室(钟表市场楼上)
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联系人:吴
地址:深圳市福田区华强北赛格科技园4栋西6楼A座611(本公司为一般纳税人,可以开17%增值税)
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13+
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全新原装正品,大量现货库存,可以出样品,欢迎咨询洽谈
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一级代理专营,原装现货,价格优势
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275
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