【2SA1194(K)PNP硅外延ADE - 208-854 （ Z）1日。版2000年9月应用高增益】,IC型号2SA1194(K),2SA1194(K) PDF资料,2SA1194(K)经销商,ic,电子元器件-51电子网

2SA1194(K)

PNP硅外延

ADE - 208-854 （ Z）

1日。版

2000年9月

应用

高增益放大器

概要

TO- 126 MOD

1.发射器

2.收集

3. BASE

绝对最大额定值

（ TA = 25°C ）

项

集电极 - 基极电压

集电极到发射极电压

发射器基极电压

集电极电流

集电极电流峰值

集电极耗散功率

符号

CBO

首席执行官

EBO

C（峰值）

结温

储存温度

注意：

1.价值在T

= 25°C

TSTG

等级

–60

–7

–1

–2

150

-55到+150

单位

°C

2SA1194(K)

电气特性

（ TA = 25°C ）

项

符号

民

–60

—

1000

—

典型值

—

0.7

0.8

最大

—

–1.0

—

–2.0

—

= -500毫安

= –I

= -1毫安

单位

测试条件

= -1毫安，R

∞

= -60 V，I

= 0

= -7 V，I

= 0

= -3 V，I

= -500毫安*

= -500毫安，我

= -1毫安*

集电极到发射极击穿V

（ BR ） CEO

电压

收藏家Cuto FF电流

发射Cuto FF电流

直流电流传输比

集电极到发射极饱和

电压

基地发射极饱和

电压

启动时间

关闭时间

注意：

1.脉冲测试

CBO

EBO

CE （ SAT ）

BE （ SAT ）

关闭

最大集电极耗散曲线

集电极耗散功率PC（ W）

–10

–3 i

C（峰值）

–1.0

–0.3

–0.1

–0.03

安全工作区

集电极电流I

(A)

C（最大值）

PW = 10毫秒（ 1次射门）

（T C 0

= PE

25鼠

碳离子

)

s (1

笑

100

案例温度T

(°C)

150

TA = 25°C

–0.01

–0.1 –0.3 –1.0

–3

–10 –30 –100

集电极到发射极电压V

(V)

2SA1194(K)

典型的输出特性

–0.8

–1

= 25°C

–0

–0.

–0.2

–0.1

–0.08

–0.06

–0.04

直流电流传输比主场迎战

集电极电流

100,000

直流电流传输比H

30,000

10,000

3,000

1,000

300

100

–10

= –3 V

脉冲

TA = 75℃

25°C

–1,000

集电极电流I

（MA ）

–800

–600

–400

–0.02

–200

-0.01毫安

–0.01

= 0

–2

–4

–6

–8

–10

集电极到发射极电压V

(V)

–30

–100

–300

集电极电流I

（MA ）

–1,000

饱和电压与集电极电流

集电极到发射极饱和电压

CE （SAT）

(V)

基地发射极饱和电压

BE （SAT）

(V)

–10

= 500 l

脉冲

–3

TA = 25°C

–1.0

CE （SAT）

–0.3

75°C

BE （SAT）

开关时间t（微秒）

1.0

开关时间与集电极电流

关闭

英镑

0.3

0.1

0.03

–0.1

–10

–30

–100

–300

集电极电流I

（MA ）

–1,000

0.01

–10

= 500 I

TA = 25°C

–30

–100

–300

集电极电流I

（MA ）

–1,000

开关时间测试电路

, t

≤

10ns

≥

10s

占空比

≤

10%

D.U.T.

–

输入

–10 V

产量

响应波形

10%

90%

英镑

10%

90%

关闭

0.002

10%

90%

2SA1194(K)

包装尺寸

单位：mm

8.0

0.5

3.1

+0.15

–0.1

3.7

0.7

11.0

0.5

2.7

0.4

2.3

0.3

120°

1.1

15.6

0.5

0.8

2.29

0.5

2.29

0.5

0.55

1.2

日立代码

JEDEC

EIAJ

质谱（参考值）

TO- 126 MOD

—

0.67 g

2SA1194(K)

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人身伤害，如航天，航空，核电，燃烧控制，运输，

交通，安全设备，或用于生命支持医疗器械。

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对于最大额定值，工作电源电压范围，热辐射等特性，安装

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失败率或半导体器件的失效模式，并采用系统性的措施，如故障 -

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间接损失是由于日立产品的操作。

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产品。

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