晶体三极管FET(场效应晶体管)、晶闸管、晶体二1N4007极管等各种半导体元器件的静特性曲线可似在示波管中描绘，特性曲线测试仪就是用来观察上述半导体元器件特性的装置。
    图5.29为特性曲线测试仪的外形，图5.30为特性曲线测试仪的结构图，包括使加于样品（三极管、FET等）上的电压连续变化的扫描电源，产生参变量信号的阶梯波发生器，元器件电流的检测电阻r，电压轴、电流轴放大器以及电子束管等部分。其中，扫描电源为50Hz或60Hz交流电压经全波整流后的脉动电压。阶梯波发生器是一种与扫描电压同步，输出（电流或电压）振幅阶梯状变化的电源，如图5. 31所示。现在，使晶体三极管的基极中流出ImA间隔的阶梯波电流，从OV～10V变化的四个脉动波扫描电压加到集电极一发射极之间，则示波管上描绘出的三极管VcE-IC静特性如图5.31所示。