获得的失效模式分布MSM6250数据中可知，我国电子元器件的电性能稳定性比较差，因此，通过分析其原因，提高电子元器件的电性能稳定性是电子元器件可靠性设计的一项重要任务。

    通过功能测试（功能和参数）和非功能测试可获得电性能稳定性数据信息。功能测试的目的是检查电子元器件能否完成基本功能以及完成基本功能的优劣；非功能测试可供分析电子元器件与其自身物理性能的关系。用功能测试能得出电子元器件的失效模式，但难以确定失效部位和失效原因，而非功能测试是确定失效部位和失效原因的有力工具。为了能取长补短、互相验证，通常将功能测试和非功能测试结合起来应用。
    对于半导体器件还可利用其输出特性曲线的形状进行判断，因为半导体器件输出特性曲线形象地反映了其内部所发生的物理过程，即异常的输出特性曲线能反映出半导体器件工艺制造、结构和材料中存在的问题。通过对输出特性曲线的检查分析，可以帮助鉴定某些失效问题，这是检查不可靠器件存在隐患的良好而又简便的方法。在设计时针对半导体器件的这些典型异常特性曲线及产生原因，就可采取有效的措施加以消除或控制，从而达到提高器件可靠性的目的。