引起电子元器件失效的主要原因
发布时间:2012/3/7 19:33:36 访问次数:2332
电子元器件的主要失效原因可以分为两类，即元器件固有缺陷引起的失效和使用不当引起的失效。据统计，这两类失效的比率大约各占50%。元器件固有的缺陷大多是由于设计材料、生产工艺中存在问题，使元器件留下潜在隐患，当这些元器件装入整机使用一段时间后，在外界各种应力的作用下，最终发生失效。而元器件应用不当形成的失效原因主要有以下几个方面。
设计不当AAD706JR
设讣不当可分为电路设计不当、结构设计不当及工艺设计不当等。不论哪种设计不当，都会使元器件在应用时受损而失效。设计不当造成元器件的失效率较高，且会反复出现。
例如，某整机上的CMOS集成电路，在低温条件下工作失常，而在常温下又恢复正常工作。造成这种失效的原因是CMOS电路在低温下工作时，其延迟时间缩短了将近40%，使电路的逻辑关系发生错误。这说明在电路设计时没有考虑CMOS电路的这一特点。
设计不当AAD706JR
设讣不当可分为电路设计不当、结构设计不当及工艺设计不当等。不论哪种设计不当，都会使元器件在应用时受损而失效。设计不当造成元器件的失效率较高，且会反复出现。
例如，某整机上的CMOS集成电路，在低温条件下工作失常，而在常温下又恢复正常工作。造成这种失效的原因是CMOS电路在低温下工作时，其延迟时间缩短了将近40%，使电路的逻辑关系发生错误。这说明在电路设计时没有考虑CMOS电路的这一特点。
电子元器件的主要失效原因可以分为两类，即元器件固有缺陷引起的失效和使用不当引起的失效。据统计，这两类失效的比率大约各占50%。元器件固有的缺陷大多是由于设计材料、生产工艺中存在问题，使元器件留下潜在隐患，当这些元器件装入整机使用一段时间后，在外界各种应力的作用下，最终发生失效。而元器件应用不当形成的失效原因主要有以下几个方面。
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设讣不当可分为电路设计不当、结构设计不当及工艺设计不当等。不论哪种设计不当，都会使元器件在应用时受损而失效。设计不当造成元器件的失效率较高，且会反复出现。
例如，某整机上的CMOS集成电路，在低温条件下工作失常，而在常温下又恢复正常工作。造成这种失效的原因是CMOS电路在低温下工作时，其延迟时间缩短了将近40%，使电路的逻辑关系发生错误。这说明在电路设计时没有考虑CMOS电路的这一特点。
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设讣不当可分为电路设计不当、结构设计不当及工艺设计不当等。不论哪种设计不当，都会使元器件在应用时受损而失效。设计不当造成元器件的失效率较高，且会反复出现。
例如，某整机上的CMOS集成电路，在低温条件下工作失常，而在常温下又恢复正常工作。造成这种失效的原因是CMOS电路在低温下工作时，其延迟时间缩短了将近40%，使电路的逻辑关系发生错误。这说明在电路设计时没有考虑CMOS电路的这一特点。
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