随着电子信息技术应用越来越广泛，电子产品对现代社会的影响越来越大，产品结构越来越复杂，使用环境条件越来越严酷，导致电子产，品发生故障和失效的潜在可能性越来越大，可靠性问题日益突出。
    1．可靠性技术的发展          K9F4G08U0B-PIB0
    可靠性技术又称可靠性工程，从可靠性问题的提出到目前得到广泛应用，已有几十年的历史了。在第二次世界大战中，军事装备已大量采用电子产品，但由于产品可靠性差，造成重大损失。20世纪50年代初人们开始有组织地、系统地研究电子产品的可靠性问题。
    可靠性技术的发展，大致可分为4个阶段。
    (1)起步阶段（1950-1957年）：这一阶段主要对以电子管为重点的电子元件、器件进行现场数据收集和分析；研究寿命试验方法并成立专门的可靠性组织。
    (2)绕计试验阶段（1957-1962年）：主要研制环境与可靠性试验设备；开展产品统计抽样寿命试验；制订电子产品可靠性标准和可靠性组织、管理规范；建立可靠性数据
收集和交换系统。
    (3)可靠性物理研究阶段（196 2--1968年）：这一阶段主要分析元件、器件失效机理；加强可靠性设计与工艺研究，建立高可靠性元件、器件生产线，研究加速寿命试验的方法。
    (4)系统保证阶段（1968年开始）：这一阶段的特点是建立保证产品可靠性的管理制度，形成质量保证系统，建立电子元件、器件可靠性认证制度；发展可靠性试验技术和改进可靠性标准。
    实际上，一部电子可靠性发展史，就是不可靠教训史。现代社会生活中不乏由于电子产品一个元器件、一个焊点失效或发生故障而造成生产线停工、重大工程失败甚至机毁人亡的实例。如美国1957年发射的“先锋号”卫星中，由于一个价值2美元的器件出了故
障，造成了价值220万美元的损失。苏联三名宇航员在“礼炮”号飞船中由于一个部件失灵而丧生。1986年1月28日，美国航天飞机“挑战者号”起飞76s后爆炸，7名宇航员丧生，直接经济损失达12亿美元，使美国的航天事业受到沉重打击，而这次事故的直接原因
是一个密封圈矢效。1974年，我国发射卫星的运载火箭因为一根直径为0. 25mm的导线断裂，导致整个系统被引爆自毁。“千里之堤，溃于蚁穴”，成千上万工程技术人员、工人、管理者的劳动成果，几千万甚至上亿元的投资就因为工作中的一点疏漏，一个小小的元器件、零部件失效或一根导线的断裂而毁于一旦。