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芯片测试系統規格

发布时间:2008/6/5 0:00:00 访问次数:361

1. 200 mhz clock 測試能力
2. 1.5 ns rise/fall time 5v swing
3. per-pin 程式化 , 50 歐姆特性阻抗
4. pin count 224 i/o 可擴充至 448 i/o
5.

1. 200 mhz clock 測試能力
2. 1.5 ns rise/fall time 5v swing
3. per-pin 程式化 , 50 歐姆特性阻抗
4. pin count 224 i/o 可擴充至 448 i/o
5.
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