位置:51电子网 » 技术资料 » 其它综合

芯片測試機種類

发布时间:2008/6/5 0:00:00 访问次数:269

1. logic tester
2. memory tester
3. mixed signal tester
4. rf ic tester
5. board tester
6. other testers



1. logic tester
2. memory tester
3. mixed signal tester
4. rf ic tester
5. board tester
6. other testers



相关IC型号

热门点击

 

推荐技术资料

罗盘误差及补偿
    造成罗盘误差的主要因素有传感器误差、其他磁材料干扰等。... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13692101218  13751165337
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!