测试延迟自动生成器
发布时间:2008/5/28 0:00:00 访问次数:499
摘要：在电压调整测试中，测试设备提供的负载电流需经一定的时间延迟才能达到预定值。文章介绍了一套开发于asl-1000测试平台、可自动生成测试所需延时间的电路，使测试既准确又经济，因此可推而广之。
关键词：负载电流 延迟时间 asl-1000 测试
1 引言
在电压调整器负载特性的测试中，测试设备一般采用电容组充、放电，以输出具有一定脉宽的大电流，并将其提供给“特测器件”（dut，device under test）的输出端作为负载电流。由于电容效应，该电流无法在t=0时刻达到器件手册中的规定值，因而在电流源开启后，必须经一段延迟才能进行输出采样。延迟时间的取值对测试影响较大，过小则负载电流尚未达规定值，测试无效；过大将影响测试速度，造成经济损失。
2 电路设计
asl-1000是美国credence公司研制的ic测试设备，已在业界普遍应用。在其电压调整器的常规测试电路中，接入两只内部继电器并外接一只1ω/5w的电阻，同时辅助以相应的测试软件，从而构成了一套延迟时间自动生成电路，如图1所示。
3 设计实例
图1中，dvi-9-ch0提供dut输入电压，pv3-2提供负载电流（图中略）。dvi-9-ch1与dvi-11-ch1分别采样测试。以集成稳压器cw7812为例，合上mux-1-1和mux-2-1，当dut负载电流为0.5a时，由于电阻压降，两测试端采样到的电压应相差0.5v，表1是经不同延迟时间后获得的测量值。
由表1数据可得负载电流与时间的关系示意图，如图2所示。显然，延迟时间应稍大于t1并小于t2，才能使测试既准确又经济，且不同芯片负载特性的差异会使t1、t2也随之改变。鉴于此，笔者设计了一套延迟时间自动生成方案：合上继电器，两测试端同时采样。设初始延迟时间为10μs，以100μs为步进，循环增加，直到两测试端同次测值压差不小于0.5v且同一端前后两次测值之差不大于1mv，方可认定此时负载电流已达到0.5a。为避免进入死循环，程序设置了时间溢出（time_over），一旦延迟时间超出，程序退出并报错，此时需配合其它参数的测试，检查dut是否已失效。正常测试时，要断开mux-2-1。
表1 不同时延后的测值
| 时延（s） | 10 | 50 | 100 | 300 | 500 | 700 | |||||||||||||||||||||
| dvi-9-ch1测值（v） | 12.0832 | 12.0821 | 12.0832 | 12.0815 | 12.0808 | 12.0802 | |||||||||||||||||||||
| dvi-11-ch1测值（v） | 12.0832 | 12.0831 | 12.081 | 12.0612 | 12.0435 | 12.0069 | |||||||||||||||||||||
| 时延（s） | 750 | 770 | 790 | 850 | 950 | 1200 | |||||||||||||||||||||
| 时延（s） | 10 | 50 | 100 | 300 | 500 | 700 |
| dvi-9-ch1测值（v） | 12.0832 | 12.0821 | 12.0832 | 12.0815 | 12.0808 | 12.0802 |
| dvi-11-ch1测值（v） | 12.0832 | 12.0831 | 12.081 | 12.0612 | 12.0435 | 12.0069 |
| 时延（s） | 750 | 770 | 790 | 850 | 950 | 1200 |
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