惠瑞捷推出消费电子产品混合信号测试解决方案

发布时间:2008/5/27 0:00:00 访问次数:593

　　半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(verigy ltd.)的v93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试(wafer sort)及终程测试(final test)。

可插入惠瑞捷v93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的功能有助于缩小测试系统的体积和降低成本。消费性电子产品的混合信号测试解决方案包含下列模块卡：

mb av8(multi-band audio-video，新一代的模拟式多频段影音标准)模块卡——不论核心数或性能等级皆可扩充，相当经济、弹性，在各种不同应用中的适用性非常高，包括专业音响；基频iq；宽带通讯；高画质及标准画质的电视、机顶盒、数字电视和dvd(bluray及hd-dvd)等。

pin scale 400——测试管脚可扩充，以满足大部分消费性ic和晶圆测试的需求，以及适用于更多种消费类ic的接口。入门版的速度为100 mbps，可升级至每测试通道533+ mbps和224m的向量存储空间。

dc scale vi32——只需单一片模块卡，即可弹性地应对多种应用(嵌入式闪存组件、嵌入式电源管理ic、提供精确的参考电压)的需求。量测通道数可由16个扩充到32个，而且每个通道都具有测试码(pattern)触发能力，可提供最快的测试速度。

dc scale dps32——每片模块卡内建32个测量通道，具有更多组件的测试能力，涵盖更多个电源域(power domain)，且能进行快速的同步触发，以提高稳定一致性和提供最快的测量速度

相关技术资料: 7-11最新12kW量产电源参考设计简述; 7-11第三代快速碳化硅MOSFET技术参数应用; 7-11800 V高压直流 (HVDC)全新架构电源系统; 7-11串行千兆位媒体独立接口（SGMII和RGMII）; 7-11Analog Devices ADIN3310应用详情; 7-11干簧传感器MK17系列应用详解; 7-10神经运算处理芯片(Neural Processing Unit, NPU); 7-10GB10 Grace Blackwell超级芯片应用分析; 7-10飞行时间传感器X-NUCLEO-53L4A2; 7-1012GB LPDDR5芯片及6GB LPDDR5芯片应用探究; 7-10PowerEdge XE9712 服务器技术参数设计; 7-10动态随机存取存储芯片(DRAM)发展趋势