意法半导体（ST）与Synopsys日前表示，双方正在共同进行串行ATA (SATA)互用性测试，该测试采用了ST的90纳米多接口 PHY (MIPHY)物理层接口宏单元与Synopsys DesignWare SATA主机控制器智能IP核。这两家公司称，互用性测试将降低集成性的风险，加速设计人员在片上系统设计中集成SATA功能的上市时间。

        据ST与Synopsys称，两公司共同研制的SATA解决方案，与当前的SATA 集成规格2.5修订版完全兼容，支持最新特性。MIPHY测试芯片已经可以运行在6Gbps，两公司开始为向新一代SATA与SAS标准的演进做好准备。

        ST数据存储部总裁Roberto Fantechi称：“ST与Synopsys的紧密协作使我们实现并通过Plugfest完整验证了MIPHY 的协同能力。我们非常满意该宏单元的性能，即便是处于喧闹的环境与温度中或供给电压最差的条件下，它都表现出色”。