MTCH102-5-8电容式触摸控制器,在硬件配置只有这些二,五,八声道控制器更换一个简单的数字输出的机械按键。

多级噪声滤波算法权利,以实现高的可靠性和更敏感触摸性能,包括通过一个手套操作。

该MTCH102 mTouch传感，低功耗，双通道电容式触摸控制器目前已上市的MSOP封装或UDFN封装，MTCH105低功耗，五通道电容式触摸控制器是采用QFN或TSSOP封装，以及MTCH108低电力，八通道电容式触摸控制器。

在IC制造厂内，ATL™叠对量测系统和SpectraFilm™ F1薄膜量测系统可以针对finFET、DRAM、3D NAND和其他复杂器件结构的制造提供工艺表征分析和偏移监控。Teron™ 640e光罩检测产品系列和LMS IPRO7光罩叠对位准量测系统可以协助掩模厂开发和认证EUV和先进的光学光罩。

ATL叠对量测系统采用独特的可调激光技术，具有1纳米波长分辨率，在工艺发生变化的情况下仍然可以自动保持稳定的高精度叠对误差测量，从而支持快速的技术提升以及生产过程中精确的晶圆处置。

通过自由提取全制造厂范围的量测和监测数据，IC工程师可以快速地确定并在发生工艺问题的地方直接控制。五款系统将为客户提供我们最尖端的技术，让他们的专家能够降低由每个晶片、光罩和工艺步骤所导致的图案成型误差。

通过升级和新设备安装，Teron 640e和LMS IPRO7进一步增加了KLA-Tencor在尖端掩模厂中众多的光罩检测和量测系统的安装数量。为了保持IC制造所需要的高性能和高产量，ATL、SpectraFilm F1、Teron 640e、LMS IPRO7和5D Analyzer X1均由KLA-Tencor的全球综合服务网络提供支持。