STAR模块则可以完全解决这些局限性问题，它可提供一种将FEA分析数据结果直接集成到OpticStudio中进行拟合的新功能，具有无与伦比的易用性和准确性。这有助于更全面地研究激光加热效应引起的热变形和结构变形所带来的影响。

结合Ansys Zemax光学工具套件，设计团队首次能够通过将FEA数据无缝集成到其光学和光机设计工作流程中来了解以下系统情况：

设计和优化大功率激光系统的光学元件

在CAD平台中轻松共享光学设计并分析光机封装的影响

与FEA软件集成，以详细分析评估结构和热效应对光学性能的影响

分析光学和机械元件中的吸收功率

当对象和测量元件的时间常数T较大，容量迟延大，纯滞后r很小，微分控制是首选。工艺要求较高时，应选用PID控制器或PD控制器。工艺要求不高时，可选用P控制器。(注：前面的说法是为了让大家明白PID控制特性，现在的的PID控制器同时具有P、I、D三个功能，并没有PI控制器或P控制器出售)

当对象和测量元件的时间常数T较小，纯滞后t较大，用微分控制不一定有作用。

当对象的时间常数T较小，系统负荷变化较大时，为了消除干扰引起的余差，应选用PI控制器，如流量控制系统。

当对象的时间常数T较小，而负荷变化很快，这时用了微分控制和积分控制都容易引起振荡，对控制质量影响很大。如果对象的时间常数很小，采用反微分作用可能会有较好的效果。

当对象的纯滞后t很大，负荷变化也很大，简单控制系统可能无法满足要求，只能采用复杂控制系统，如串级控制来满足工艺生产的要求。

为了解决工业系统中PID控制器由于系统时变而导致的所在控制器回路性能下降问题，PID可达性评估基准的基础上，提出了一种针对PID控制器进行性能评估、优化及监控的方法，即：PID循环评估优化算法。

该算法利用系统闭环输入输出数据进行滑窗在线辨识，使用基于MVC(MinimumVariance Control)的PID最小方差可达性准则对PID控制器性能进行评估，并将计算最小方差意义下最优PID控制器参数;将理论最小方差与输出方差相比，作为PID系统进行在线优化的启停阈值。仿真已证明其有效性。

来源：eechina.如涉版权请联系删除。图片供参考