温度循环和间歇运行寿命测试的功率温度循环鉴定
发布时间:2021/9/29 18:22:03 访问次数:83
VL53L5CX 还有助于校正视频投影仪梯形畸变,并为增强现实和虚拟现实 (AR/VR) 应用提供精确的微型的深度图解决方案。
经结合温度循环和间歇运行寿命测试的功率温度循环鉴定,该设备可达到2600次循环。
基于霍尔效应的新型双芯片3D位置传感器HAR® 39xy系列(HAR 3900 和 HAR 3930)可实现有源杂散场补偿
SSOP16封装中的完全冗余器件,高度灵活的器件架构.
制造商: Texas Instruments
产品种类: 16位微控制器 - MCU
RoHS: 详细信息
系列: MSP430F2001
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: TSSOP-14
核心: MSP430
程序存储器大小: 1 kB
数据总线宽度: 16 bit
ADC分辨率: No ADC
最大时钟频率: 16 MHz
输入/输出端数量: 10 I/O
数据 RAM 大小: 128 B
工作电源电压: 1.8 V to 3.6 V
最小工作温度: - 40 C
最大工作温度: + 105 C
封装: Reel
封装: Cut Tape
封装: MouseReel
商标: Texas Instruments
高度: 1.15 mm
接口类型: UART
长度: 5 mm
计时器/计数器数量: 1 Timer
处理器系列: 2 Series
产品类型: 16-bit Microcontrollers - MCU
程序存储器类型: Flash
工厂包装数量: 2000
子类别: Microcontrollers - MCU
商标名: MSP430
看门狗计时器: No Watchdog Timer
宽度: 4.4 mm
单位重量: 57.200 mg
根据ISO 26262,传感器支持SEooC和ASIL B,可进行ASIL D的系统级开发。
它们可进行3D磁场测量、2D杂散场稳健位置检测;HAR 3930具有PWM 和SENT(SAE J2716修订版4)输出、附加开关输出,HAR 3900通过高速SPI接口提供可用的测量数据。
这两种传感器都是HAL 3900和HAL 3930的双芯片SMD封装版,适用于多种应用,包括转向角位置检测、变速器位置检测、换档器位置检测、加速器和制动踏板位置检测。
杂散场稳健性位置检测有两种测量类型,且附加的3D测量会针对每个芯片产生两个独立的角度。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)
VL53L5CX 还有助于校正视频投影仪梯形畸变,并为增强现实和虚拟现实 (AR/VR) 应用提供精确的微型的深度图解决方案。
经结合温度循环和间歇运行寿命测试的功率温度循环鉴定,该设备可达到2600次循环。
基于霍尔效应的新型双芯片3D位置传感器HAR® 39xy系列(HAR 3900 和 HAR 3930)可实现有源杂散场补偿
SSOP16封装中的完全冗余器件,高度灵活的器件架构.
制造商: Texas Instruments
产品种类: 16位微控制器 - MCU
RoHS: 详细信息
系列: MSP430F2001
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: TSSOP-14
核心: MSP430
程序存储器大小: 1 kB
数据总线宽度: 16 bit
ADC分辨率: No ADC
最大时钟频率: 16 MHz
输入/输出端数量: 10 I/O
数据 RAM 大小: 128 B
工作电源电压: 1.8 V to 3.6 V
最小工作温度: - 40 C
最大工作温度: + 105 C
封装: Reel
封装: Cut Tape
封装: MouseReel
商标: Texas Instruments
高度: 1.15 mm
接口类型: UART
长度: 5 mm
计时器/计数器数量: 1 Timer
处理器系列: 2 Series
产品类型: 16-bit Microcontrollers - MCU
程序存储器类型: Flash
工厂包装数量: 2000
子类别: Microcontrollers - MCU
商标名: MSP430
看门狗计时器: No Watchdog Timer
宽度: 4.4 mm
单位重量: 57.200 mg
根据ISO 26262,传感器支持SEooC和ASIL B,可进行ASIL D的系统级开发。
它们可进行3D磁场测量、2D杂散场稳健位置检测;HAR 3930具有PWM 和SENT(SAE J2716修订版4)输出、附加开关输出,HAR 3900通过高速SPI接口提供可用的测量数据。
这两种传感器都是HAL 3900和HAL 3930的双芯片SMD封装版,适用于多种应用,包括转向角位置检测、变速器位置检测、换档器位置检测、加速器和制动踏板位置检测。
杂散场稳健性位置检测有两种测量类型,且附加的3D测量会针对每个芯片产生两个独立的角度。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)