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数字阻抗表PXIe模块化接口整合功能测试

发布时间:2021/3/16 8:25:01 访问次数:239

这款放大器采用内部供给全部电源电压的架构,使HFDA801A可以从车辆蓄电池取电,而无需增加额外的电源变换器。新放大器具有广泛的负载范围,即使大功率驱动四路2Ω低阻抗负载,也能确保性能稳定。

此外,通过集成实时诊断、数字阻抗表和实时负载电流监视器,HFDA801A还可用于安全相关的必须符合ASIL要求的音频应用,例如,电动汽车低速提示音系统 (AVAS)。

制造商:Diodes Incorporated 产品种类:MOSFET RoHS: 详细信息 技术:Si 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOT-563-6 晶体管极性:N-Channel, P-Channel 通道数量:2 Channel Vds-漏源极击穿电压:20 V Id-连续漏极电流:1.030 A, 700 mA Rds On-漏源导通电阻:480 mOhms, 970 mOhms Vgs - 栅极-源极电压:- 5 V, + 5 V Vgs th-栅源极阈值电压:500 mV Qg-栅极电荷:70 pC, 850 pC 最小工作温度:- 55 C 最大工作温度:+ 150 C Pd-功率耗散:1 W 通道模式:Enhancement 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 配置:Dual 系列:DMC2400 晶体管类型:1 N-Channel, 1 P-Channel 商标:Diodes Incorporated 下降时间:10.54 ns, 19.2 ns 产品类型:MOSFET 上升时间:7.28 ns, 4.3 ns 工厂包装数量:3000 子类别:MOSFETs 典型关闭延迟时间:13.74 ns, 20.2 ns 典型接通延迟时间:4.06 ns, 8.5 ns 单位重量:29 mg

客户需要采购更多系统进行测试,才能满足制造需求,但这样无疑会导致规模扩大,基础设施成本上升,占用更大的测试空间,并且需要更多的成本投资和维护人员。

是德科技新型多核并行测试系统可支持多达 20 个内核并行测试,并提供了基于 PXIe 模块化接口整合功能测试。

因此,其内核配置可以灵活调整,不受电路板多联版数量的限制,从而可以降低总体计算成本。


(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)

这款放大器采用内部供给全部电源电压的架构,使HFDA801A可以从车辆蓄电池取电,而无需增加额外的电源变换器。新放大器具有广泛的负载范围,即使大功率驱动四路2Ω低阻抗负载,也能确保性能稳定。

此外,通过集成实时诊断、数字阻抗表和实时负载电流监视器,HFDA801A还可用于安全相关的必须符合ASIL要求的音频应用,例如,电动汽车低速提示音系统 (AVAS)。

制造商:Diodes Incorporated 产品种类:MOSFET RoHS: 详细信息 技术:Si 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOT-563-6 晶体管极性:N-Channel, P-Channel 通道数量:2 Channel Vds-漏源极击穿电压:20 V Id-连续漏极电流:1.030 A, 700 mA Rds On-漏源导通电阻:480 mOhms, 970 mOhms Vgs - 栅极-源极电压:- 5 V, + 5 V Vgs th-栅源极阈值电压:500 mV Qg-栅极电荷:70 pC, 850 pC 最小工作温度:- 55 C 最大工作温度:+ 150 C Pd-功率耗散:1 W 通道模式:Enhancement 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 配置:Dual 系列:DMC2400 晶体管类型:1 N-Channel, 1 P-Channel 商标:Diodes Incorporated 下降时间:10.54 ns, 19.2 ns 产品类型:MOSFET 上升时间:7.28 ns, 4.3 ns 工厂包装数量:3000 子类别:MOSFETs 典型关闭延迟时间:13.74 ns, 20.2 ns 典型接通延迟时间:4.06 ns, 8.5 ns 单位重量:29 mg

客户需要采购更多系统进行测试,才能满足制造需求,但这样无疑会导致规模扩大,基础设施成本上升,占用更大的测试空间,并且需要更多的成本投资和维护人员。

是德科技新型多核并行测试系统可支持多达 20 个内核并行测试,并提供了基于 Ie 模块化接口整合功能测试。

因此,其内核配置可以灵活调整,不受电路板多联版数量的限制,从而可以降低总体计算成本。


(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)

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