TI就完成了超过2000万小时的可靠性测试，这一数字到了2020年就直接跃升到了3000万小时，TI就实现了1000万次的可靠性测试，这是多么惊人的一个数字。

TI的GaN系列解决方案集成了高速栅极驱动器、EMI 控制、过热和过流保护，同时具有 100ns 的响应时间。集成式器件使布局得以优化，能够最大限度地减少寄生电感、提高 dv/dt 抗扰性 (CMTI)，并缩小布板空间。

TI的900V、5KW双向AC/DC在平台上亮相。这一方案全权才用了TI的解决方案，包括了C2000数字控制器。而从TI给出的参数可以看出，在没有冷却风扇的情况下，峰值效率可达99.2%,功率密度比传统IGBT解决方案高300%

5kW可扩展的多级解决方案，具有自然对流功能。还支持不超过1.4kV的总线电压。双向转换器演示记者其实也经常参加TI的发布会，在今后TI的GaN将适用于汽车、电网存储和太阳能等领域。

GaN的辉煌的开始也才五六年而已，作为一种新型的技术，采用TI的整体解决方案才会发挥出TI的GaN的真正实力，C2000系列MCU，BQ系列降压-升压充电器，TPS系列DC/DC等。

检测AC(交流)波形的0V电位(过零点)的电路(过零检测电路)，目的是为了有效地对电机和微控制器进行控制。在过零检测电路中,提高过零检测的精度,可以更有效地控制电机和微控制器。而且,在电机停止时,能够将电压正好停止在0V状态,脉冲控制也更提升了电路的安全性。

在以往的过零检测电路中,所使用的光耦的功耗约占整个应用的待机功耗的1/2。罗姆新推出的过零检测IC BM1ZxxxFJ系列由于去除了光耦，因此功耗极低,可将正常通电时的过零检测电路的待机功耗降至0.01W。以洗衣机为例，采用传统的使用光耦的过零检测电路，方案整体的待机功耗为1.7W，而使用去除光耦的过零检测IC后，方案整体的待机功耗降低为0.71W，降低了一半以上的功耗。

在驱动应用时,将以往使用光耦的过零检测电路中随AC电压变化而波动的延迟时间误差降至±50μs以内。极低的待机功耗和极小的延迟时间误差,使得即使在各国不同的AC电源电压下,也可高效地驱动电机,成功实现了以往的过零检测电路很难实现的高精度微控制器驱动。由于不再需要光耦,还可以免除由光耦经年老化所带来的各种风险,有助于提高产品的可靠性。

过零检测IC BM1ZxxxFJ系列的另一优点是可以随时轻松替换原来的过零检测电路，该系列产品型号丰富,可分别对应以往的过零检测电路中使用的电路(普通整流/倍压整流)和波形(Pulse/Edge)，无需更改软件即可轻松替换使用光耦的现有过零检测电路。

过零检测IC BM1ZxxxFJ系列还具有“电压钳位功能”,可保护后段的微控制器。适用于使用以空调等为对象的高压驱动电机的应用,即使出现异常电压,也能够做到对微控制器的保护。

高集成度的过零检测IC BM1ZxxxFJ大大消减了所需的外围器件，仅仅只需要7个元器件即可实现过零检测功能，有助于设计的进一步小型化。

罗姆还将考虑推出出过零检测IC+AC/DC电源一体化封装的解决方案，进一步提高密度，缩减体积。

过零检测电路是白色家电中常用的一个功能电路，但传统的过零检测电路中会使用光耦器件，而光耦器件会造成待机功耗增加。

过零检测电路，推出了过零检测IC，不仅省去了光耦，降低了能耗，同时大大提升了可靠性。